能够减少针对所检查的线状体的凹凸的误检测。线状体的凹凸检测装置具有：投光部，其对行进的线状体投射光；受光部，其对从该投光部投射的光进行受光；第一引导辊，其针对经过投光部和受光部之间的检测空间的线状体，对上游侧的行进进行引导；第二引导辊，其针对经过检测空间的线状体，对下游侧的行进进行引导；罩，其覆盖投光部、受光部、第一引导辊和第二引导辊；以及供给部，其将清洁气体向罩内供给，在罩设置有与供给部连通的供气部、线状体进入的入线侧开口部和线状体出来的出线侧开口部。线侧开口部和线状体出来的出线侧开口部。线侧开口部和线状体出来的出线侧开口部。
【技术实现步骤摘要】
线状体的凹凸检测装置及凹凸检测方法
[0001]本专利技术涉及线状体的凹凸检测装置及凹凸检测方法。
技术介绍
[0002]在专利文献1中，公开了对行进的线状体投射光，对该投射的光进行受光而光学地检测线状体表面的凹凸的线状体的凹凸检测装置及凹凸检测方法。
[0003]在专利文献2中，公开了对将玻璃纤维由树脂进行了包覆的光纤的行进进行引导的引导辊。
[0004]专利文献1：日本特开2004－12414号公报
[0005]专利文献2：日本特开2013－28513号公报
[0006]在线状体例如光纤中，有时在实施了包覆的光纤基线、包覆有着色层的光纤芯线等的外周局部地发生微小的凹凸。如果存在如上所述的凹凸，则在着色工序、带状化工序中，有时由凹凸引起的异物会将模具孔堵塞。在该情况下，发生涂敷不良、线状体的断线等不良情况，因此需要对该凹凸进行检测。因此，使用光学地检测线状体的凹凸的线状体的凹凸检测装置(例如专利文献1)。
[0007]在上述这样的线状体的凹凸检测装置中，由于浮尘而将光遮挡或使光散射，有可能误检测线状体的凹凸。因此，例如在专利文献1所公开的线状体的凹凸检测装置中，将检测空间由罩覆盖，向上述罩内供给清洁气体，抑制浮尘向检测空间侵入。
[0008]另外，也有可能线状体以附着有异物的状态进入检测空间，在该情况下也有可能误检测线状体的凹凸。因此，考虑向进入检测空间前的线状体强力吹出清洁气体，将异物吹飞。但是，如果试图去除异物而增加清洁气体的流量，则线状体会受到清洁气体的气流的影响，线振动变大。从而，也有可能将该线振动误检测为凹凸。
[0009]为了线状体制造的高效化，希望增大制造时的线速，但如果增大线状体的线速，则线振动变大。另外，如果增大线状体的线速，则异物与线状体一起进入检测空间的可能性也会变大。
技术实现思路
[0010]本专利技术的目的在于，提供能够减少针对所检查的线状体的凹凸的误检测的线状体的凹凸检测装置及凹凸检测方法。
[0011]本专利技术的一个方式所涉及的线状体的凹凸检测装置具有：
[0012]投光部，其对行进的线状体投射光；
[0013]受光部，其对从该投光部投射的光进行受光；
[0014]第一引导辊，其针对经过所述投光部和所述受光部之间的检测空间的所述线状体，对上游侧的行进进行引导；
[0015]第二引导辊，其针对经过所述检测空间的所述线状体，对下游侧的行进进行引导；
[0016]罩，其覆盖所述投光部、所述受光部、所述第一引导辊和所述第二引导辊；以及
[0017]供给部，其将清洁气体向所述罩内供给，
[0018]在所述罩设置有与所述供给部连通的供气部、所述线状体进入的入线侧开口部和所述线状体出来的出线侧开口部。
[0019]本专利技术的一个方式所涉及的线状体的凹凸检测方法，
[0020]通过罩覆盖投光部、受光部、检测空间、第一引导辊和第二引导辊，该检测空间通过所述投光部和所述受光部光学地检测线状体的表面的凹凸，
[0021]向所述罩内供给清洁气体，
[0022]使所述线状体从设置于所述罩的入线侧开口部向所述罩内进入，
[0023]将进入至所述罩内的所述线状体由所述第一引导辊向所述检测空间进行引导，
[0024]从所述投光部将光对在所述检测空间行进的所述线状体投射，由所述受光部对该投射的光进行受光，光学地检测所述线状体的表面的凹凸，
[0025]将经过了所述检测空间的所述线状体由所述第二引导辊向设置于所述罩的出线侧开口部进行引导。
[0026]专利技术的效果
[0027]根据本专利技术，能够减少针对所检查的线状体的凹凸的误检测。
附图说明
[0028]图1是表示本专利技术的实施方式所涉及的线状体的凹凸检测装置的一个例子的概略结构图。
[0029]图2是图1的检测部的A－A线的示意性的剖视图。
[0030]图3是第一引导辊或者第二引导辊的剖视图。
[0031]图4是第一引导辊或者第二引导辊的周槽的剖视图。
[0032]图5是通常的现有的引导辊的周槽的剖视图。
[0033]图6是对罩的入线侧开口部处的通过清洁气体的喷出所引起的浮尘等异物的举动进行说明的图。
具体实施方式
[0034][本专利技术的实施方式的说明][0035]首先，列举本专利技术的实施方式而进行说明。
[0036]本专利技术的一个方式所涉及的线状体的凹凸检测装置，
[0037](1)具有：
[0038]投光部，其对行进的线状体投射光；
[0039]受光部，其对从该投光部投射的光进行受光；
[0040]第一引导辊，其针对经过所述投光部和所述受光部之间的检测空间的所述线状体，对上游侧的行进进行引导；
[0041]第二引导辊，其针对经过所述检测空间的所述线状体，对下游侧的行进进行引导；
[0042]罩，其覆盖所述投光部、所述受光部、所述第一引导辊和所述第二引导辊；以及
[0043]供给部，其将清洁气体向所述罩内供给，
[0044]在所述罩设置有与所述供给部连通的供气部、所述线状体进入的入线侧开口部和
所述线状体出来的出线侧开口部。
[0045]根据上述的线状体的凹凸检测装置，检测空间处于供给有清洁气体的罩之中，因此能够抑制浮尘等异物进入。并且，在经过检测空间的前后分别对光纤芯线进行引导的引导辊(第一引导辊及第二引导辊)也处于供给有清洁气体的罩之中。由此，抑制由所供给的清洁气体的风压引起的光纤芯线的线振动，能够通过两个引导辊使检测空间的光纤芯线的行进稳定。由此，能够减少通过检测空间进行检查的针对光纤芯线的凹凸的误检测。
[0046](2)可以是所述第一引导辊及所述第二引导辊分别具有V字状的周槽，
[0047]所述周槽具有形成V字的第一侧面和第二侧面，
[0048]所述第一侧面和所述第二侧面形成为与行进的所述线状体接触。
[0049]根据上述的线状体的凹凸检测装置，两个引导辊(第一引导辊及第二引导辊)能够将在周槽中行进的线状体夹入，因此能够抑制线状体的线振动。
[0050]本专利技术的一个方式所涉及的线状体的凹凸检测方法，
[0051](3)通过罩覆盖投光部、受光部、检测空间、第一引导辊和第二引导辊，该检测空间通过所述投光部和所述受光部光学地检测线状体的表面的凹凸，
[0052]向所述罩内供给清洁气体，
[0053]使所述线状体从设置于所述罩的入线侧开口部向所述罩内进入，
[0054]将进入至所述罩内的所述线状体由所述第一引导辊向所述检测空间进行引导，
[0055]从所述投光部将光对在所述检测空间行进的所述线状体投射，由所述受光部对该投射的光进行受光，光学地检测所述线状体的表面的凹凸，
[0056]将经过了所述检测空间的所述线状体由所述第二引导辊向设置于所述罩的出线侧开口部进行引导。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种线状体的凹凸检测装置，其具有：投光部，其对行进的线状体投射光；受光部，其对从该投光部投射的光进行受光；第一引导辊，其针对经过所述投光部和所述受光部之间的检测空间的所述线状体，对上游侧的行进进行引导；第二引导辊，其针对经过所述检测空间的所述线状体，对下游侧的行进进行引导；罩，其覆盖所述投光部、所述受光部、所述第一引导辊和所述第二引导辊；以及供给部，其将清洁气体向所述罩内供给，在所述罩设置有与所述供给部连通的供气部、所述线状体进入的入线侧开口部和所述线状体出来的出线侧开口部。2.根据权利要求1所述的线状体的凹凸检测装置，其中，所述第一引导辊及所述第二引导辊分别具有V字状的周槽，所述周槽具有形成V字的第一侧面和第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面形成为与行进的所述线状体接触。3.一种线状体的凹凸检测方法，通过罩覆盖投...
【专利技术属性】
技术研发人员：铃木智哉，久保祐介，尾崎茂树，
申请(专利权)人：住友电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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