一种F型轨排弯轨专用测量工具制造技术

本发明专利技术提供一种F型轨排弯轨专用测量工具，涉及F型轨排弯轨测量工具技术领域。该一种F型轨排弯轨专用测量工具，包括F型钢、支撑平台、测量专用定位块两件、测量平尺、深度尺，F型钢设置在支撑平台上，测量专用定位块设置在F型钢上，用于确定规定弦长的两端点，测量平尺设置在两个测量专用定位块上。本发明专利技术的F型轨排测量工具能解决目前在F型轨排弯轨上测量精确度较低的问题。确度较低的问题。确度较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种F型轨排弯轨专用测量工具


[0001]本专利技术涉及F型轨排弯轨测量工具
，具体为一种F型轨排弯轨专用测量工具。

技术介绍

[0002]F型轨排的横截面形状为F型，同时又可以称之为F型钢，在F型轨排投入使用之前部分F型轨排需要需要煨弯，煨弯后一般普通的测量工具无法准确的进行测量，造成F型轨排煨弯时出现误差。给F型轨排后续的钻孔、装配造成了一定的误差。可见，如何在F型轨排弯轨上实施较为精确的测量，是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。
[0003]为此，我们研发出了新的一种F型轨排弯轨专用测量工具。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种F型轨排弯轨专用测量工具，解决了上述问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种F型轨排弯轨专用测量工具，包括F型钢、支撑平台、测量专用定位块两件、测量平尺、深度尺，F型钢设置在支撑平台上，测量专用定位块设置在F型钢上，用于确定规定弦长的两端点，测量平尺设置在两个测量专用定位块上，其中测量平尺的外端面作为测量的基准面，深度尺设置在测量平尺上，用于测量弯轨的弦高。
[0008]优选的，上述工具中，所述测量专用定位块成组间隔分布，每一组所述测量专用定位块的数量为两块。
[0009]优选的，上述工具中，所述测量专用定位块的底端的横截面积大于其顶端的横截面积，且所述测量专用定位块面对所述F型轨排的侧面垂直于所述支撑平台。
[0010]优选的，上述工具中，所述测量专用定位块为F型，其中F型内部的角度与F型轨排的角度相吻合，便于固定测量专用定位块，且所述测量专用定位块固定在所述F型轨排的侧面上。
[0011](三)有益效果
[0012]本专利技术提供了一种F型轨排弯轨专用测量工具。具备以下有益效果：
[0013]该一种F型轨排弯轨专用测量工具，通过提供的F型轨排测量工具在使用的过程中，F型钢设置在支撑平台上，测量专用定位块设置在F型钢上，用于确定规定弦长的两端点，测量平尺设置在两个测量专用定位块上，其中测量平尺的外端面作为测量的基准面，深度尺设置在测量平尺上，用于测量弯轨的弦高，进而能确保弯弧的弯曲程度满足要求，可见，本专利技术的F型轨排测量工具能解决目前在F型轨排弯轨上测量精确度较低的问题。
附图说明
[0014]图1为本专利技术一种F型轨排弯轨专用测量工具结构示意图；
[0015]图2为本专利技术一种F型轨排弯轨专用测量工具使用方式的示意图；
[0016]图3为本专利技术一种F型轨排弯轨专用测量工具半径R计算公式图。
[0017]其中，1、F型轨排；2、测量专用定位块；3、测量平尺；4、深度尺；5、支撑平台。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]实施例：
[0020]如图1
‑
2所示，本专利技术实施例提供一种F型轨排弯轨测量工具。所公开的测量工具包括F型钢、支撑平台5、测量专用定位块2、测量平尺3、深度尺4，测量专用定位块2设置在F型轨排1上，用于定位F型轨排1弯轨的测量距离，通常，测量专用定位块2以可拆卸的方式固定在F型轨排1上，测量专用定位块2设置在F型轨排1上后，将测量平尺3固定在测量专用定位块2上，再将深度尺4放在测量平尺3上，深度尺4的位置为两个测量专用定位块2的中间，这样就可以准确的测量出F型轨排1弯轨在一定距离的弦高，同时就能计算出弯轨的弯曲精确度，解决了F型轨排1弯轨测量精确度低的问题。
[0021]实施例二：
[0022]为了提高对F型轨排1的有效定位，优选的，本专利技术实施例提供一种F 型轨排弯轨测量工具。所公开的测量工具包括F型钢、支撑平台5、测量专用定位块2、测量平尺3、深度尺4，测量专用定位块2设置在F型轨排1上，用于定位F型轨排1弯轨的测量距离，通常，测量专用定位块2以可拆卸的方式固定在F型轨排1上，测量专用定位块2设置在F型轨排1上后，将测量平尺3固定在测量专用定位块2上，再将深度尺4放在测量平尺3上，深度尺4的位置为两个测量专用定位块2的中间，这样就可以准确的测量出F 型轨排1弯轨1在一定距离的弦高，同时就能计算出弯轨的弯曲精确度，解决了F型轨排1弯轨测量精确度低的问题。
[0023]实施例三：
[0024]为了提高对F型轨排1的有效定位，优选的，测量专用定位块2成组间隔分布，多组测量专用定位块2离散布置在F型轨排1上，实现对F型轨排1 长度方向不同部位的有效定位，具体的，每一组测量专用定位块2的数量可以为两个，在测量的过程中，整个设备每次测量的F型轨排1的弯曲程度有可能不同，为了能适应对不同弯曲程度的F型轨排1的有效、均衡定位，优选的，测量专用定位块2可移动地设置在F型轨排1上，通过移动测量专用定位块2在F型轨排1上的位置来改变，能实现对F型轨排1的有效定位，然后测量平尺3与深度尺4跟随测量专用定位块2的移动而移动，两成组间隔分布，多组测量专用定位块2离散布置在F型轨排1上，实现对F型轨排1 长度方向不同部位的有效定位，具体的，每一组测量专用定位块2的数量可以为两个，在测量的过程中，整个设备每次测量的F型轨排1的弯曲程度有可能不同，为了能适应对不同弯曲程度的F型轨排1的有效、均衡定位，优选的，测量专用定位块2可移动地设置在F型轨排1上，通过移动测量专用定位块2在F型轨排1上的位置来改变，能实现
对F型轨排1的有效定位，然后测量平尺3与深度尺4跟随测量专用定位块2的移动而移动。
[0025]实例：以需要测量半径为R米为例：
[0026]其中：弦长L，弦高h，半径R
[0027]计算公式为：R＝(L*L*h)/8+h/2；(其中由于h数值极小，故h/2可以忽略不计)。
[0028]这样就得到R。
[0029]尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种F型轨排弯轨专用测量工具，包括支撑平台（5），其特征在于：所述支撑平台（5）顶部设置有F型钢，且F型钢上设置有测量专用定位块（2），所述测量专用定位块（2）上设置有测量平尺（3），所述测量平尺（3）上设置有深度尺（4），所述支撑平台（5）上方设置有F型轨排（1）。2.根据权利要求1所述的一种F型轨排弯轨专用测量工具，其特征在于：所述F型轨排（1）设置在F型钢上。3.根据权利要求1所述的一种F型轨排弯轨专用测量工具，其特征在于：所述测量专用定位块（2...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔垂敏，王子平，许金国，王学娜，高莹莹，梁博，崔文杰，
申请(专利权)人：山东莱钢磁浮列车轨道工程有限公司，
类型：发明
国别省市：