一种芯片测试夹具制造技术

本申请涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试夹具，包括固定台、放置台和压紧机构；放置台设置于固定台上；压紧机构包括连接柱、支撑柱、固定板、卡块、第一滑块、限位杆、第一弹簧和夹板；连接柱和支撑柱均固定于固定台上；固定板套接于连接柱，固定板的第一端与支撑柱转动连接，固定板的第二端通过第一弹簧与夹板连接；夹板与放置台之间形成压紧芯片的压紧空间；限位杆的第一端与夹板连接，限位杆的第二端滑动穿设于固定板；固定板上设有第一滑槽，第一滑块和卡块连接，连接柱上设有卡槽；第一滑块在第一滑槽内运动，使得卡块与卡槽卡接配合。本申请有效地解决了现有技术中存在对芯片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试夹具


[0001]本申请涉及芯片测试
，特别涉及一种芯片测试夹具。

技术介绍

[0002]芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，为了检验芯片是否能够正常使用，需要对芯片进行可靠性测试。可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。
[0003]现有的测试夹具利用容纳结构来放置校准件及芯片托板，能够使校准件与芯片托板相接触。同时，微调结构安装于底座上，且微调结构用于调节并固定校准件及芯片托板的位置，以达到了提高测试精准度的效果；但是现有的测试夹具由于结构设计单一，对芯片的夹紧不够牢固，导致了芯片容易偏移的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试夹具，有效地解决了现有技术中存在对芯片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。
[0005]为达到上述目的，本申请提供以下技术方案：
[0006]一种芯片测试夹具，包括固定台、放置台和压紧机构；
[0007]所述放置台设置于所述固定台上；
[0008]所述压紧机构包括连接柱、支撑柱、固定板、卡块、第一滑块、限位杆、第一弹簧和夹板；
[0009]所述连接柱和所述支撑柱均固定于所述固定台上；
[0010]所述固定板套接于所述连接柱上，所述固定板的第一端与所述支撑柱转动连接，所述固定板的第二端通过所述第一弹簧与所述夹板连接；
[0011]所述夹板位于所述放置台的正上方，且与所述放置台之间形成压紧所述芯片的压紧空间；
[0012]所述限位杆的第一端与所述夹板连接，所述限位杆的第二端滑动穿设于所述固定板；
[0013]所述固定板上设有与所述第一滑块相对应的第一滑槽，所述第一滑块和所述卡块连接，所述连接柱上设有与所述卡块相对应的卡槽；
[0014]所述第一滑块在所述第一滑槽内运动，使得所述卡块与所述卡槽卡接配合。
[0015]优选地，在上述的芯片测试夹具中，还包括推拉杆；
[0016]所述固定板上开设有第一通孔，所述第一通孔的内壁上转动设有齿轮；
[0017]所述卡块上设有与所述第一通孔相对应的第二通孔，所述第二通孔的内壁上设有第一转杆；
[0018]所述推拉杆的第一端设有设有与所述齿轮啮合传动连接的齿面，所述推拉杆的第二端穿过所述第一通孔和所述第二通孔延伸至外部；
[0019]所述推拉杆上设有长圆孔，所述第一转杆活动设置于所述长圆孔内。
[0020]优选地，在上述的芯片测试夹具中，还包括定位机构；
[0021]所述定位机构包括驱动组件、圆盘、滑动杆、滑轨、第二滑块和定位块；
[0022]所述滑轨设置于所述固定台上；
[0023]所述滑轨为多个，各个所述滑轨内均滑动设置有所述第二滑块；
[0024]所述定位块为多个，所述定位块与所述第二滑块一一对应连接；
[0025]多个所述定位块环绕所述放置台设置，且各个所述定位块均高于所述放置台；
[0026]所述圆盘转动安装于所述固定台内，所述驱动组件与所述圆盘连接；
[0027]所述圆盘上设有多个弧形槽，各个所述弧形槽内均滑动设有所述滑动杆；
[0028]所述滑动杆与所述第二滑块一一对应连接。
[0029]优选地，在上述的芯片测试夹具中，所述驱动组件包括第一转轴和第二转轴；
[0030]所述固定台的内部设有空腔，所述第一转轴和所述第二转轴均转动安装于所述空腔内；
[0031]所述第一转轴的第一端设有主动轮，所述第一转轴的第二端延伸至所述固定台的外部；
[0032]所述第二转轴的第一端设有与所述主动轮啮合传动连接的从动轮，所述第二转轴的第二端与所述圆盘连接。
[0033]优选地，在上述的芯片测试夹具中，所述第一转轴的第二端设有转盘。
[0034]优选地，在上述的芯片测试夹具中，各个所述定位块相向的一面均设有第一垫块；
[0035]所述夹板的底部设有第二垫块。
[0036]优选地，在上述的芯片测试夹具中，还包括安装座；
[0037]所述固定台安装于所述安装座上。
[0038]优选地，在上述的芯片测试夹具中，所述安装座和所述固定台之间通过连接机构连接；
[0039]所述连接机构包括第二弹簧、活动杆、第一活动板、第二活动板、固定夹和驱动杆；
[0040]所述安装座内设有凹槽，所述固定台的底部设有T型槽；
[0041]所述第二弹簧的第一端与凹槽的底壁连接，所述第二弹簧的第二端与所述活动杆连接；
[0042]所述凹槽设有与外部连通的活动孔，所述驱动杆安装于所述活动孔内；
[0043]所述活动杆的底端设有与所述驱动杆相匹配的梯形槽，所述活动杆的顶端延伸至所述T型槽内；
[0044]所述第一活动板安装于所述活动杆的顶部，所述第二活动板安装于所述活动杆的侧壁；
[0045]所述固定夹为两个，两个所述固定夹对称铰接于所述T型槽的两侧；
[0046]各个所述固定夹均位于所述第一活动板和所述第二活动板之间。
[0047]优选地，在上述的芯片测试夹具中，所述凹槽的形状具体呈十字形。
[0048]优选地，在上述的芯片测试夹具中，所述固定夹呈T型；
[0049]所述固定夹的铰接点位于中间位置上；
[0050]两个所述固定夹相向的一端位于所述第一活动板和所述第二活动板之间。
[0051]与现有技术相比，本申请的有益效果是：
[0052]本申请提供了一种芯片测试夹具，当需要对芯片进行固定时，转动固定板，让夹板的底部与芯片的表面贴合，然后推动卡块和第一滑块沿第一滑槽运动，使得卡块卡进卡槽的内壁，从而起到固定固定板的位置的作用，以保证对芯片的夹紧效果。其中，第一滑槽和第一滑块的配合使用，可以起到防止卡块脱离固定板的作用；通过设置的夹板配合第二弹簧配合使用，能够对不同厚度的芯片进行夹紧固定；通过限位杆的设计，能够防止弹簧上下移动时夹板发生偏移的情况发生，有利于保证夹板对芯片的夹紧效果，有效地解决了现有技术中存在对芯片的夹紧效果差导致芯片容易偏移的技术问题。
附图说明
[0053]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试夹具，其特征在于，包括固定台、放置台和压紧机构；所述放置台设置于所述固定台上；所述压紧机构包括连接柱、支撑柱、固定板、卡块、第一滑块、限位杆、第一弹簧和夹板；所述连接柱和所述支撑柱均固定于所述固定台上；所述固定板套接于所述连接柱上，所述固定板的第一端与所述支撑柱转动连接，所述固定板的第二端通过所述第一弹簧与所述夹板连接；所述夹板位于所述放置台的正上方，且与所述放置台之间形成压紧所述芯片的压紧空间；所述限位杆的第一端与所述夹板连接，所述限位杆的第二端滑动穿设于所述固定板；所述固定板上设有与所述第一滑块相对应的第一滑槽，所述第一滑块和所述卡块连接，所述连接柱上设有与所述卡块相对应的卡槽；所述第一滑块在所述第一滑槽内运动，使得所述卡块与所述卡槽卡接配合。2.根据权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于，还包括推拉杆；所述固定板上开设有第一通孔，所述第一通孔的内壁上转动设有齿轮；所述卡块上设有与所述第一通孔相对应的第二通孔，所述第二通孔的内壁上设有第一转杆；所述推拉杆的第一端设有设有与所述齿轮啮合传动连接的齿面，所述推拉杆的第二端穿过所述第一通孔和所述第二通孔延伸至外部；所述推拉杆上设有长圆孔，所述第一转杆活动设置于所述长圆孔内。3.根据权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于，还包括定位机构；所述定位机构包括驱动组件、圆盘、滑动杆、滑轨、第二滑块和定位块；所述滑轨设置于所述固定台上；所述滑轨为多个，各个所述滑轨内均滑动设置有所述第二滑块；所述定位块为多个，所述定位块与所述第二滑块一一对应连接；多个所述定位块环绕所述放置台设置，且各个所述定位块均高于所述放置台；所述圆盘转动安装于所述固定台内，所述驱动组件与所述圆盘连接；所述圆盘上设有多个弧形槽，各个所述弧形槽内均滑动设有所述滑动杆；所述滑动杆与所述第二滑块一一对应连接。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔超，肖勇，赵云，林伟斌，王浩林，
申请(专利权)人：南方电网科学研究院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：