一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:31906913 阅读:13 留言:0更新日期:2022-01-15 12:45
本申请涉及一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括:通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取关键屏柜内部的原始红外图像,对原始红外图像进行分析,得到原始红外图像中各区域的温度,若区域的温度异常,则根据温度异常的区域在原始红外图像中的位置确定关键屏柜中的发热元件。采用本方法能够实时掌握关键屏柜内部的运行状况,提高了换流站中关键屏柜的巡检效率。提高了换流站中关键屏柜的巡检效率。提高了换流站中关键屏柜的巡检效率。

【技术实现步骤摘要】
一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及交直流混联输电
,特别是涉及一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着交直流混联输电技术的发展,换流站的安全问题需要得到重视。关键屏柜作为换流站电力运转的关键设备,一直处于一种封闭状态的环境中,关键屏柜中的很多内部元件容易发热,可能会出现关键屏柜的内部元件异常,从而导致换流站的很多设备故障。因此,如果关键屏柜的内部元件发热问题得不到解决,容易造成安全事故。
[0003]在现有技术中,通常通过对关键屏柜的运行状况进行巡检,从而判断内部元件是否出现发热导致的异常,目前,对关键屏柜的运行状况进行巡检主要包括设备巡视、红外测温、表计抄录、缺陷跟踪、巡检数据录入等大量工作,上述工作主要依靠人工来完成,并且由人工将数据录入以及对数据进行分析整理,以此来保证关键屏柜的安全运行。
[0004]但是,现有技术对换流站中关键屏柜进行巡检的方案,存在巡检效率较低的问题。

技术实现思路

[0005]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够解决巡检效率较低的关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0006]一种关键屏柜的监测方法,所述方法包括:
[0007]通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取所述关键屏柜内部的原始红外图像;
[0008]对所述原始红外图像进行分析,得到所述原始红外图像中各区域的温度;
[0009]若所述区域的温度异常,则根据所述温度异常的区域在所述原始红外图像中的位置确定所述关键屏柜中的发热元件。
[0010]在其中一个实施例中,所述方法还包括:
[0011]调用所述发热元件对应的目标红外摄像设备,按照预设时间周期对所述发热元件进行监控,以获取所述发热元件的目标红外图像;
[0012]根据所述目标红外图像获取所述发热元件的温度;
[0013]根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常。
[0014]在其中一个实施例中,所述根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常,包括:
[0015]若所述发热元件的温度大于预设的第一温度阈值,则确定所述发热元件异常。
[0016]在其中一个实施例中,所述根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常,包括:
[0017]获取预设的第一时间段内所述发热元件的温度差值;
[0018]若所述温度差值大于预设的第二温度阈值,则确定所述发热元件异常。
[0019]在其中一个实施例中,所述方法还包括:
[0020]若所述发热元件异常,则输出告警信息。
[0021]在其中一个实施例中,所述方法还包括:
[0022]根据所述原始红外图像中各区域的位置与所述关键屏柜内部的元件位置之间的对应关系,和所述原始红外图像中各区域的温度,获取预设的第二时间段内所述关键屏柜内部的各元件温度;
[0023]根据所述预设时间段内所述关键屏柜内部的各元件温度,获取各所述元件的温度趋势分析曲线;
[0024]根据所述温度趋势分析曲线预测各所述元件在预设的第三时间段内是否出现异常,所述第三时间段为晚于所述第二时间段的时间段。
[0025]一种关键屏柜的监测系统,所述系统包括:设置于所述关键屏柜内部的红外摄像设备和控制设备;
[0026]所述红外摄像设备,用于获取所述关键屏柜内部的原始红外图像并传输至所述控制设备;
[0027]所述控制设备,用于执行上述任一实施例所述的关键屏柜的监测方法。
[0028]一种关键屏柜的监测装置,所述装置包括:
[0029]第一获取模块,用于通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取换流站关键屏柜中的原始红外图像;
[0030]分析模块,用于对所述原始红外图像进行分析,得到所述原始红外图像中各区域的温度;
[0031]确定模块,用于若所述区域的温度异常,则根据所述温度异常的区域在所述原始红外图像中的位置确定所述关键屏柜中的发热元件。
[0032]一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
[0033]通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取所述关键屏柜内部的原始红外图像;
[0034]对所述原始红外图像进行分析,得到所述原始红外图像中各区域的温度;
[0035]若所述区域的温度异常,则根据所述温度异常的区域在所述原始红外图像中的位置确定所述关键屏柜中的发热元件。
[0036]一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
[0037]通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取所述关键屏柜内部的原始红外图像;
[0038]对所述原始红外图像进行分析,得到所述原始红外图像中各区域的温度;
[0039]若所述区域的温度异常,则根据所述温度异常的区域在所述原始红外图像中的位置确定所述关键屏柜中的发热元件。
[0040]上述关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质,监控主机通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取关键屏柜内部的原始红外图像,对原始红外图像进行分析,得到原始红外图像中各区域的温度,若该区域的温度出现异常,则根据温度异
常的区域在原始红外图像中的位置确定关键屏柜中的发热元件。由于在关键屏柜中设置了红外摄像设备,红外摄像设备可以对关键屏柜内部进行拍摄,得到原始红外图像,再由监控主机对原始红外图像进行分析,从而确定发热元件,整个拍摄和分析处理的过程无需人工参与,并且能够实时掌握关键屏柜内部的运行状况,提高了换流站中关键屏柜的巡检效率。
附图说明
[0041]图1为一个实施例中关键屏柜的监测方法的应用环境图;
[0042]图2为一个实施例中关键屏柜的监测方法的应用环境图;
[0043]图3为一个实施例中关键屏柜的监测方法的流程示意图;
[0044]图4为另一个实施例中关键屏柜的监测方法的流程示意图;
[0045]图5为又一个实施例中关键屏柜的监测方法的流程示意图;
[0046]图6为又一个实施例中关键屏柜的监测方法的流程示意图;
[0047]图7为又一个实施例中关键屏柜的监测方法的流程示意图;
[0048]图8为一个实施例中关键屏柜的监测系统的结构示意图;
[0049]图9为一个实施例中关键屏柜的监测装置的结构框图;
[0050]图10为另一个实施例中关键屏柜的监测装置的结构框图;
[0051]图11为又一个实施例中关键屏柜的监测装置的结构框图;
[0052]图12为又一个实施例中关键屏柜的监测装置的结构框图;
[0053]图13为又一个实施例中关键屏柜的监测装置的结构框图;
[0054]图14为又一个实本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种关键屏柜的监测方法,其特征在于,所述方法包括:通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备,获取所述关键屏柜内部的原始红外图像;对所述原始红外图像进行分析,得到所述原始红外图像中各区域的温度;若所述区域的温度异常,则根据所述温度异常的区域在所述原始红外图像中的位置确定所述关键屏柜中的发热元件。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:调用所述发热元件对应的目标红外摄像设备,按照预设时间周期对所述发热元件进行监控,以获取所述发热元件的目标红外图像;根据所述目标红外图像获取所述发热元件的温度;根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常,包括:若所述发热元件的温度大于预设的第一温度阈值,则确定所述发热元件异常。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常,包括:获取预设的第一时间段内所述发热元件的温度差值;若所述温度差值大于预设的第二温度阈值,则确定所述发热元件异常。5.根据权利要求2

4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:若所述发热元件异常,则输出告警信息。6.根据权利要求1

4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:根据所述原始红外图像中各区域的位置与所述关键屏柜内部的元件位置之间...

【专利技术属性】
技术研发人员:张朝斌黄家豪洪乐洲李凯协杨阳叶志良张博王国权袁海赵明王清君胡忠山石延辉杨洋严伟王蒙秦金锋蔡斌许浩强王越章赵晓杰孔玮琦张先亮张镇
申请(专利权)人:中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局
类型:发明
国别省市:

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