本发明专利技术涉及电子部件测试用分选机及其加压装置。电子部件测试用分选机的加压装置包括：加压盘，配备为可升降移动；推动器，设置在所述加压盘的下表面，并在所述加压盘下降移动时，其向下方突出的加压部分在接触到电子部件的同时将电子部件向下方加压而使电子部件电连接到测试插槽，在所述加压盘上升移动时，解除针对电子部件的加压；以及加压驱动源，通过升降所述加压盘使电子部件通过所述推动器而被向下方加压或者被解除加压，其中，在所述加压盘形成有能够使来自照明装置的光通过的第一通过孔，在所述推动器形成有能够使通过所述第一通过孔的光通过而照射到电子部件的第二通过孔。通过孔。通过孔。
【技术实现步骤摘要】
电子部件测试用分选机及其加压装置
[0001]本申请是申请日为2019年11月21日，申请号为201911146750.9的专利技术专利申请“电子部件测试用分选机”的分案申请。
[0002]本专利技术涉及电子部件测试用分选机。
技术介绍
[0003]生产出的电子部件由测试仪测试后将被分为良品和不良品，并且仅有良品可以被出库。
[0004]通过称作电子部件测试用分选机(以下简称“分选机”)的自动化设备进行测试仪和电子部件之间的电连接。
[0005]由于分选机需要能够精确地连接电子部件和测试仪，因此可以根据电子部件的种类而制造成多种形态。
[0006]当然，分选机基本需要的重要技术是电连接电子部件和测试仪的技术，但此外还有根据测试条件和要测试的电子部件的种类而选择性地需要的技术。
[0007]通常，通过将电子部件向测试仪侧加压而实现电子部件和测试仪的连接。此时，为了准确加压电子部件，需要使加压部件(推动器(pusher))和电子部件或者电子部件和测试仪的测试插槽之间形成精确的位置设定。尤其是诸如半导体元件等电子部件，因其集成率越来越高，因而具有端子的尺寸和端子之间的间距越来越细微化的趋势，因此电子部件和测试仪之间的精确电连接变得更加重要。为此，需要考虑相关构成要素的结构偏差、操作误差或者由于设备的运行引起的振动等多种变数。
[0008]此外，选择性地需要的多种技术中的一个可以是设定苛刻的温度条件的技术。由于电子部件可能在多种温度环境下被使用，因而有必要在有意创造的苛刻温度环境下测试电子部件。因此在有必要创造苛刻的温度环境的分选机中配备有可以在测试状态下尽量密闭的测试腔，构成为使电子部件在营造有苛刻的温度环境的测试腔内被测试。
[0009]并且，选择性地需要的多种技术中的又一个可以是能够使用于数码相机等的光学用电子部件所需的。由于光学用电子部件有必要在通过透镜可以感测到来自拍摄目标物的光的状态下被测试，因此在测试光学用电子部件时应当使用向拍摄目标物照射光的照明。并且，为了获得令人满意的测试结果，有必要在阻断可能产生干扰的杂光的状态下使用照明，因此光学用电子部件的测试需要在最大限度抑制杂光入射到透镜的情形的状态下进行。
[0010]本专利技术尤其涉及能够适当地应用于光学用电子部件的测试的分选机的技术，因此深入地研究了与光学用电子部件的测试相关的技术。
[0011]目前，难以自动化将感光透镜一体化的光学用电子部件和测试仪之间的电连接。这是由于为了阻断杂光通过透镜入射而要以死虫(dead bug)状态(电子部件的端子如昆虫翻过来死亡一样以朝向上方的方式翻转的状态)进行针对于光学用电子部件的测试。
[0012]图1概略地示出了在死虫状态下进行测试的概念性结构。
[0013]参照图1，可知光学用电子部件D以死虫状态与下方的测试仪TESTER接触。并且，由于在测试仪TESTER形成有为了借助位于下方的照明元件LE向感光透镜SL照射光的照明孔LH，因此构成为照明元件LE可以通过照明孔LH向感光透镜SL照射光。此时，测试仪TESTER和光学用电子部件D之间的电连接通过配备在位于光学用电子部件D的上方的测试仪的接口板SB(也可以称为插座板)的测试插槽TS的端子T1与光学用电子部件D的端子T2接触而实现。
[0014]像这样，由于光学用电子部件D以死虫状态放置在测试仪，因此因光学用电子部件D的端子T2而实质上难以用自动化的机器人以真空吸附方式拾取电子部件并使其就位。因此，通过手工作业使光学用电子部件D就位，但这种通过工作人员的手工作业将光学用电子部件D就位的方式在处理时间和费用方面绝对无法令人满意，并且在电子部件D的表面留下手工作业导致的痕迹，因此有必要提出通过分选机自动供应光学用电子部件D的技术。
[0015]如在前提及，分选机可以根据被测试的电子部件而制造成多种形态，但主要可以分为用于诸如存储器半导体元件等少品种大量生产的形态的分选机和用于诸如传感器等多品种少量生产的形态的分选机。
[0016]由于光学用电子器件是图像感测半导体元件，可以考虑如后者的多品种少量生产中使用的形态的分选机，作为用于光学用电子器件的自动化处理的分选机。
[0017]以适合多品种少量生产的形态制造的分选机可以参照韩国公开专利10
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2015
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0104904号、10
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2017
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0068174号以及10
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2017
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0111497号(以下称为“现有技术”)。
[0018]参照现有技术，为了将电子部件带入或者带出测试腔，配备有可以在测试腔的内部和外部之间移动的穿梭台。因此，在测试腔的左右两侧的壁面要形成有用于布置使穿梭台通过或者移动穿梭台的各种机械构件的移送孔。
[0019]但是，由于根据现有技术的分选机的测试腔的内部通过移送孔与外部连通，因此温度控制的精确性相应地下降。
[0020]并且，外部的光可能通过移送孔而影响测试腔的内部。当然，即使可以应用门的开闭结构而在某些程度上阻断移送孔所占据的区域中的、穿梭台经过的区域，但实际上不可能开闭引导穿梭台的移动的导轨或者用于移送穿梭台等的移送轴等所通过的区域。因此，如果为了测试光学用电子部件而应用根据现有技术的分选机，则存在干扰光的入射导致发生测试错误的盖然性，这是显而易见的。因此，难以为了测试光学用电子部件而直接沿用根据现有技术的分选机。
[0021]并且，为了阻断杂光，采用使光学用电子部件和测试仪在死虫状态(感光透镜位于下方，端子位于上方)电连接的结构，由于现有技术考虑到自动化的电子部件的拾取性而采取了电子部件在活虫状态(live bug，电子部件的端子处在下方的状态)与测试仪电连接的结构，因此更加难以直接沿用根据现有技术的分选机进行光学用电子部件的测试。
[0022]并且，如果像现有技术以活虫状态拾取光学用电子部件，则由于拾取件(可以拾取电子部件的元件)的垫与感光透镜的表面接触而可能在感光透镜的表面产生拾取痕迹。这种拾取痕迹最终会降低感光透镜的识别率而可能引起测试结果的可靠性下降以及产品损坏。
[0023]并且，还可能由于加压动作引起的推动器的加压冲击或者测试过程中其他构件的操作而导致的瞬间性冲击，从而具有使对冲击脆弱的表面的玻璃材质破碎的危险性，更进
一步，还会有由于其他构件的操作而产生的振动导致电子部件和测试插槽之间的电连接产生不良的可能性。尤其是，由于光学用电子部件仅根据细微振动也会对光的识别率表现差异，因此如果在产生振动的情况下进行测试则可能难以保障针对测试结果的可靠性。
[0024]由于上述的多种理由，将根据现有技术的分选机直接简单应用于光学用电子部件的测试是不可能的。
技术实现思路
[0025]本专利技术具有如下目的。
[0026]首先，提供一种可以使测试腔的内部孤立于外部的温度环境，尤其是针对光学用电子部件，提供使测试腔的内部孤立于外部本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子部件测试用分选机的加压装置，包括：加压盘，配备为可升降移动；推动器，设置在所述加压盘的下表面，并在所述加压盘下降移动时，其向下方突出的加压部分在接触到电子部件的同时将电子部件向下方加压而使电子部件电连接到测试插槽，在所述加压盘上升移动时，解除针对电子部件的加压；以及加压驱动源，通过升降所述加压盘使电子部件通过所述推动器而被向下方加压或者被解除加压，其中，在所述加压盘形成有能够使来自照明装置的光通过的第一通过孔，在所述推动器形成有能够使通过所述第一通过孔的光通过而照射到电子部件的第二通过孔。2.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机的加压装置，其中，还包括：集光透镜，配备于所述加压盘的上侧，使来自照明装置的光被集光而向电子部件侧照射。3.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机的加压装置，其中，所述推动器可移动地设置于所述加压盘。4.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机的加压装置，其中，所述推动器设置成能够相对于所述加压盘升降，且在所述推动器相对于所述加压盘而相对上升的状态下能够成为可向水平方向移动的状态。5.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机的加压装置，其中，还包括：阻尼部件，相对于所述加压盘弹性支撑所述推动器。6.如权利要求1所述的电子部件测试用...
【专利技术属性】
技术研发人员：金善真，金峻秀，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：
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