一种测试元器件脚的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种测试元器件脚的装置，它包括装置架，所述装置架由上而下依次为料仓架、测试机构架以及收纳盒放置架，所述料仓架上设置有料仓，所述料仓的出口处设置有转轮机构，所述转轮机构连接于测试机构架的顶部，所述转轮机构的输出侧设置有导流槽，所述导流槽的出口处设置有测试机构，所述测试机构设置于测试机构架的一侧，所述收纳盒放置架上放置有多个收纳盒，多个收纳盒位于测试机构的底部。本实用新型专利技术能够解决现有的元器件脚测试工人劳动强度大，工作效率低，出错率高的问题。出错率高的问题。出错率高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种测试元器件脚的装置


[0001]本技术一种测试元器件脚的装置，属于元器件测试领域。

技术介绍

[0002]元器件是电子元件和小型的机器或仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。
[0003]目前市场上对元器件脚的测试主要依靠人力，在测试过程中工人劳动强度大，工作效率低，而且在测试过程中出错率比较高。
[0004]因此，急需设计出一种测试元器件脚的装置来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种测试元器件脚的装置，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的元器件脚测试工人劳动强度大，工作效率低，出错率高的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种测试元器件脚的装置，它包括装置架，所述装置架由上而下依次为料仓架、测试机构架以及收纳盒放置架，所述料仓架上设置有料仓，所述料仓的出口处设置有转轮机构，所述转轮机构连接于测试机构架的顶部，所述转轮机构的输出侧设置有导流槽，所述导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试元器件脚的装置，其特征在于：它包括装置架(100)，所述装置架(100)由上而下依次为料仓架(101)、测试机构架(102)以及收纳盒放置架(103)，所述料仓架(101)上设置有料仓(200)，所述料仓(200)的出口处设置有转轮机构(300)，所述转轮机构(300)连接于测试机构架(102)的顶部，所述转轮机构(300)的输出侧设置有导流槽(400)，所述导流槽(400)的出口处设置有测试机构(500)，所述测试机构(500)设置于测试机构架(102)的一侧，所述收纳盒放置架(103)上放置有多个收纳盒(600)，多个收纳盒(600)位于测试机构(500)的底部。2.根据权利要求1所述的一种测试元器件脚的装置，其特征在于：所述料仓(200)包括料仓底板(201)，所述料仓底板(201)设置于料仓架(101)的顶部，所述料仓底板(201)的左右两侧向上设置有料仓侧板(202)，所述料仓底板(201)的后侧向上设置有料仓挡板(203)，所述料仓挡板(203)与左右两块料仓侧板(202)相配合连接，所述料仓侧板(202)的内侧设置有元器件配合槽(202.1)，所述元器件配合槽(202.1)内具有磁性。3.根据权利要求1所述的一种测试元器件脚的装置，其特征在于：所述转轮机构(300)包括转轮座(301)，所述转轮座(301)上转动安装有转轮(302)，所述转轮(302)的两侧设置有转轮限位件(303)，所述转轮(302)轴的一侧连接有转轮电机(304)，所述转轮电机(304)上连接有感应件(304.1)和传感器(304.2)，所述传感器(304.2)位于感应件(304.1)的外围。4.根据权利要求3所述的一种测试元器件脚的装置，其特征在于：所述转轮(302)外围间隔设置有多个输送槽。5.根据权利要求1所述的一种测试元器件脚的装置，其特征在于：所述测试机构(500)包括测试机构安装板(501)，所述测试机构安装板(501)竖向布置，所述测试机构安装板(501)连接于测试机构架(102)的一侧，所述测试机构安装板(501)的下段连接有测试架(502)，所述测试架(502)上连接有测试座(503)，所述测试座(503)包括横板(503.1)，所述横板(503.1)的后侧向上垂直设置有竖板(503.2)，所述竖板(503.2)的后侧连接有测试件(503.3)，所述测试机构安装板(501)的上段设置有元器件投放机构(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，徐勇，叶建国，韩宙，
申请(专利权)人：江阴亨德拉科技有限公司，
类型：新型
国别省市：