一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种面板缺陷检测方法、终端设备及存储介质，所述方法包括获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集；对于每个缺陷候选区域，确定该缺陷候选区域对应的位置参数；基于各缺陷候选区域对应的置信度及位置参数，对缺陷候选区域集进行过滤得到目标缺陷候选区域集；基于目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。本申请实施例中在获取到缺陷候选区域集后，基于置信度和位置参数对缺陷候选区域集中的缺陷候选区域进行过滤，这样对缺陷候选区域进行过滤时，在考虑缺陷候选区域的置信度的基础上，将缺陷候选区域的位置参数作为筛选的过滤因素，提高了候选框筛选的准确性，从而提高了面板缺陷检测的准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本申请涉及面板检测
，尤其涉及的是一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质。

技术介绍

[0002]产品质量是制造业最为重视的生产指标之一，为了保证产品质量，在产品生产过程中对产品进行缺陷检测成为不可或缺的工序，例如，显示面板(例如，薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)等)为例，每条产线都需要对显示面板进行缺陷检测。然而，目前在对显示面板进行缺陷检测的过程中，普遍存在缺陷检测准确率低的问题。

技术实现思路

[0003]本申请要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种面板缺陷检测方法、装置、智能终端及存储介质，旨在解决现有技术在进行面板缺陷的检测过程中存在缺陷检测准确率低的问题。
[0004]为了解决上述问题，本申请实施例第一方面提供了一种面板缺陷检测方法，其中，所述方法包括：
[0005]获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集，其中，所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；
[0006]确定所述缺陷候选区域集中各缺陷候选区域各自对应的位置参数，其中，所述位置参数用于反映该缺陷候选区域在所述面板图像中的所处区域；
[0007]基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集；
[0008]基于所述目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。
[0009]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集包括：
[0010]将所述面板图像输入预设的缺陷检测模型，通过所述缺陷检测模型输出所述面板图像对应的各缺陷候选区域，其中，各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；
[0011]根据得到的所有缺陷候选区域，确定所述面板图像对应的缺陷候选区域集。
[0012]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：
[0013]根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数；
[0014]根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集。
[0015]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述位置参数包括位置信息以及尺寸信息；所述
根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数具体包括：
[0016]对于每个缺陷候选区域，对该缺陷候选区域对应的置信度、位置信息及尺寸信息进行加权处理，以得到该缺陷候选区域对应的置信分数。
[0017]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述位置信息配置有权重参数，所述位置信息配置的权重参数的获取过程具体包括：
[0018]对于该缺陷候选区域中的每条区域边，确定该区域边与目标边之间的距离，其中，该目标边为所述面板图像中与该区域边平行的图像边，并且所述目标边与该区域边位于缺陷候选区域的区域中心的同一侧；
[0019]根据确定得到的所有距离，确定所述位置信息对应的权重系数。
[0020]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：
[0021]根据所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域对应的置信分数，确定所述缺陷候选区域集对应的目标候选区域以及参考候选区域集，其中，所述参考候选区域集包括所述缺陷候选区域集去除该目标候选区域外的其余缺陷候选区域，所述目标候选区域为所述缺陷候选集中最高置信分数对应的一缺陷候选区域；
[0022]对于参考候选区域集中的每个参考候选区域，确定该目标候选区域与该参考候选区域之间的第一面积参数和第二面积参数；
[0023]根据各参考候选区域对应的第一面积参数和第二面积参数，对该参考候选区域集进行过滤，以得到过滤后的参考候选区域集；
[0024]将过滤后的参考候选区域集作为缺陷候选区域集，并继续执行根据所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域对应的置信分数，确定所述缺陷候选区域集对应的目标候选区域以及参考候选区域集的步骤；直至过滤后的参考候选区域集未包含参考候选区域；
[0025]根据确定得到的所有目标候选区域，确定所述面板图像对应的目标缺陷候选区域集。
[0026]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述对于参考候选区域集中的每个参考候选区域，确定所述目标候选区域与该参考候选区域之间的第一面积参数和第二面积参数具体包括：
[0027]对于参考候选区域集中的每个参考候选区域，确定该目标候选区域与该参考候选区域的相交区域以及合并区域；
[0028]根据所述相交区域以及所述合并区域，确定该参考候选区域对应的第一面积参数；
[0029]根据所述相交区域以及该目标候选区域对应的图像区域，确定该参考候选区域对应的第二面积参数。
[0030]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述根据各参考候选区域对应的第一面积参数和第二面积参数，对该参考候选区域集进行过滤，以得到过滤后的参考候选区域具体为：
[0031]对于每个参考候选区域，若该参考候选区域对应的第一面积参数或者第二面积参数大于预设阈值，将该参考候选区域从所述参考候选区域集中滤除，以得到过滤后的参考候选区域集。
[0032]所述的面板缺陷检测方法，其中，所述基于所述目标缺陷候选区域集，确定所述面板图像对应的缺陷类别，以得到所述待检测面板对应的缺陷类别具体包括：
[0033]基于所述目标缺陷候选区域集以及所述面板图像，确定所述待检测面板对应的分类面板图像；
[0034]将所述分类面板图像输入至预设的缺陷分类模型，通过缺陷分类模型输出所述分类面板图像对应的缺陷类别，并将所述分类面板图像对应的缺陷类别作为所述待检测面板对应的缺陷类别。
[0035]本申请实施例的第二方面提供了一种面板缺陷检测装置，其中，所述装置包括：
[0036]缺陷候选区域获取单元，用于获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集，其中，所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；
[0037]位置信息确定单元，用于确定所述缺陷候选区域集中各缺陷候选区域各自对应的位置参数，其中，所述位置参数用于反映该缺陷候选区域在所述面板图像中的所处区域；
[0038]候选框过滤单元，用于基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集；
[0039]缺陷分类单元，用于基于所述目标缺陷候选区域集，确定所述面板图像对应的缺陷类别，以得到所述待检测面板对应的缺陷类别。
[0040]本申请实施例的第三方面提供了一种终端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集，其中，所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；确定所述缺陷候选区域集中各缺陷候选区域各自对应的位置参数，其中，所述位置参数用于反映该缺陷候选区域在所述面板图像中的所处区域；基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集；基于所述目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。2.根据权利要求1所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集包括：将所述面板图像输入预设的缺陷检测模型，通过所述缺陷检测模型输出所述面板图像对应的各缺陷候选区域，其中，各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；根据得到的所有缺陷候选区域，确定所述面板图像对应的缺陷候选区域集。3.根据权利要求1所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数；根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集。4.根据权利要求3所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述位置参数包括位置信息以及尺寸信息；所述根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数具体包括：对于每个缺陷候选区域，对该缺陷候选区域对应的置信度、位置信息及尺寸信息进行加权处理，以得到该缺陷候选区域对应的置信分数。5.根据权利要求4所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述位置信息配置有权重参数，所述位置信息配置的权重参数的获取过程具体包括：对于该缺陷候选区域中的每条区域边，确定该区域边与目标边之间的距离，其中，该目标边为所述面板图像中与该区域边平行的图像边，并且所述目标边与该区域边位于缺陷候选区域的区域中心的同一侧；根据确定得到的所有距离，确定所述位置信息对应的权重系数。6.根据权利要求3所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：根据所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域对应的置信分数，确定所述缺陷候选区域集对应的目标候选区域以及参考候选区域集，其中，所述参考候选区域集包括所述缺陷候选区域集去除该目标候选区域外的其余缺陷候选区域，所述目标候选区域为所述缺陷候选集中最...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋佳，潘兆麟，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：