一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具制造技术

本实用新型专利技术涉及PCB板那技术领域，具体为一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，包括底板和底板上方的顶板，底板顶面可移动的设置有下治具，下治具上放置有待检测PCB板，顶板下方设有上治具，上治具底面设有金属探针，下治具上设有与探针配合使用的金属靶标，探针底部设有可滚动的金属滚珠，探针通过金属滚珠与靶标接触。本实用新型专利技术通过在探针底部设置可滚动的金属滚珠，探针通过金属滚珠与靶标接触，使得探针在移动过程中不会对靶标造成损坏，从而提高保证靶标的完整，进而提高对位的精确度。进而提高对位的精确度。进而提高对位的精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具


[0001]本技术涉及PCB板
，具体为一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具。

技术介绍

[0002]科学日新月异，电子产品关键部件PCB板由早期单面板，双面板，多层板，进步到今日高密度的软板和软硬结合板。由于工艺越来越复杂，质量要求越来越严格。为了提高生产良率，需要对其进行测试，由于产品铜泊非常细密，测试治具扎针对位是否准确会影响产品的测试，从而影响产品的质量。
[0003]现有公开号为CN205720557U的专利公开一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具，PCB/FPCB板测试对位时，由于下治具有XY平台装置，待测PCB/FPCB放置下治具待测区，待测PCB/FPCB边沿 的非使用区域设定可以与探针形成通路的靶标，即靶标，上治具使用对应探针，以探针读取通路杷标，修正偏移方向及角度，达到上下治具与待测产品位置正确的目的。然而，该对位治具的探针与靶标（铜箔）直接接触，探针在水平方向不可移动，而PCB板上的靶标会在XY平台驱动下产生水平位移，使得探针与靶标之间形成相对运动，在摩擦力的作用下，探针很容易将靶标划损，从而造成治具定位失误的现象。

技术实现思路

[0004]（一）解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，能够将探针与靶标之间的滑动摩擦转化为滚动摩擦，解决了现有的探针与靶标接触时，靶标容易被划损的问题。
[0006]（二）技术方案
[0007]为实现上述能够将探针与靶标之间滑动摩擦转化为滚动摩擦的目的，本技术提供如下技术方案：一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，包括底板和所述底板上方的顶板，所述底板顶面可移动的设置有下治具，所述下治具上放置有待检测PCB板，所述顶板下方设有上治具，所述上治具底面设有金属探针，所述下治具上设有与所述探针配合使用的金属靶标，所述探针底部设有可滚动的金属滚珠，所述探针通过所述金属滚珠与所述靶标接触。
[0008]可选的，所述探针包括针杆和所述针杆底部螺纹连接的端盖，所述探针底端设有与所述端盖螺纹配合的金属材质的螺纹柱，所述端盖内部为设有一通孔，所述滚珠位于所述通孔内，所述通孔远离所述螺纹柱的一端直径小于所述滚珠的直径，所述滚珠突出于所述端盖外部。
[0009]可选的，所述端盖内部设有弹簧，所述弹簧两端分别与所述滚珠和螺纹柱相抵接，且弹簧为不锈钢材质。
[0010]可选的，所述底板顶部安装有XY平台，所述XY平台顶部设有旋转电机，所述旋转电机输出端与所述底板底部固接。
[0011]可选的，所述金属探针为两组，每组所述金属探针为四个，每组中的四根所述金属探针呈矩形阵列分布，所述靶标为两个，两个所述靶标分别与两组所述金属探针相对应，所述靶标为粘接在所述待检测PCB板上的呈十字结构的铜箔。
[0012]（三）有益效果
[0013]与现有技术相比，本技术提供了一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，具备以下有益效果：
[0014]1.本技术探针，通过在探针底部设置可滚动的金属滚珠，探针通过金属滚珠与靶标接触，使得探针在移动过程中不会对靶标造成损坏，从而提高保证靶标的完整，进而提高对位的精确度；
[0015]2.本技术中探针包括针杆和端盖，且滚珠设于端盖内，当滚珠损坏时，可将端盖拧下，并将其内部损坏的滚珠取出并更换，再将端盖拧上即可，可方便滚珠的更换；
[0016]3.本技术通过在端盖内部设置弹簧，在弹簧的弹力下，探针底端能够始终与待检测PCB板或靶标接触，避免了由于待检测PCB板放置不够平整而导致探针与靶标无法接触的现象。
附图说明
[0017]图1为本技术的整体结构示意图；
[0018]图2为本技术的探针剖面结构示意图；
[0019]图3为本技术的探针与上治具连接结构示意图；
[0020]图4为本技术的靶标与下治具连接结构示意图。
[0021]图中：1、底板；2、顶板；3、XY平台；4、下治具；5、上治具；6、探针；61、针杆；62、端盖；63、螺柱；64、通孔；7、待检测PCB板；8、靶标；9、弹簧；10、滚珠。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]实施例：请参阅图1至图4，本技术的实施例提供一种技术方案：一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，包括底板1和底板1上方的顶板2，底板1顶面可移动的设置有下治具4，底板1顶部安装有XY平台3，XY平台3顶部设有旋转电机，旋转电机输出端与底板1底部固接，下治具4上放置有待检测PCB板7，顶板2下方设有上治具5，上治具5底面设有金属探针6，金属探针6为两组，每组金属探针6为四个，每组中的四根金属探针6呈矩形阵列分布，靶标8为两个，两个靶标8分别与两组金属探针6相对应，靶标8为粘接在待检测PCB板7上的呈十字结构的铜箔，下治具4上设有与探针6配合使用的金属靶标8，探针6底部设有可滚动的金属滚珠10，探针6通过金属滚珠10与靶标8接触，PCB/FPCB板在测试对位时，由上治具5下压，使上治具5底部的两组探针6分别与下治具4顶部的两个靶标8对位，当全部探针6底部与对应靶标8接触时，探针6与靶标8组成通路，即对位准确；当探针6偏离对应靶标8时，XY 平台移动或/和旋转来对探针6的位置进行调整，直到对位准确，而在探针6移动过程中，探
针6底部的滚珠10与靶标8之间相接触，使得探针6在移动过程中不会对靶标8造成损坏，从而提高保证靶标8的完整，进而提高对位的精确度。
[0024]为了方便滚珠10的更换，本实施例的探针6包括针杆61和针杆61底部螺纹连接的端盖62，探针6底端设有与端盖62螺纹配合的金属材质的螺纹柱，端盖62内部为设有一通孔64，滚珠10位于通孔64内，通孔64远离螺纹柱的一端直径小于滚珠10的直径，滚珠10突出于端盖62外部，由于滚珠10与待检测PCB板7直接接触，成为了损耗品，当滚珠10损坏时，通过旋拧端盖62，可将端盖62取下，并将其内部的滚珠10取出，换上新的滚珠10后，将端盖62拧上即可。
[0025]为了进一步提高检测精度，在本实施例的端盖62内部设有弹簧9，弹簧9两端分别与滚珠10和螺纹柱相抵接，且弹簧9为不锈钢材质，由于待检测PCB板7在放置后，很难保证水平，而弹簧9的设置使滚珠10与待检测PCB板7弹性接触，从而保证探针6底端能够始终与待检测PCB板7或靶标8接触，避免了由于待检测PCB板7放置不够平整而导致探针6与靶标8无法接触的现象。
[0026]工作原理：首先，将待检测PCB板7放置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，其特征在于：包括底板(1)和所述底板(1)上方的顶板(2)，所述底板(1)顶面可移动的设置有下治具(4)，所述下治具(4)上放置有待检测PCB板(7)，所述顶板(2)下方设有上治具(5)，所述上治具(5)底面设有金属探针(6)，所述下治具(4)上设有与所述探针(6)配合使用的金属靶标(8)，所述探针(6)底部设有可滚动的金属滚珠(10)，所述探针(6)通过所述金属滚珠(10)与所述靶标(8)接触。2.根据权利要求1所述的一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，其特征在于：所述探针(6)包括针杆(61)和所述针杆(61)底部螺纹连接的端盖(62)，所述探针(6)底端设有与所述端盖(62)螺纹配合的金属材质的螺纹柱，所述端盖(62)内部为设有一通孔(64)，所述滚珠(10)位于所述通孔(64)内，所述通孔(64)远离所述螺纹柱的一端直径小于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王学义，王涛，
申请(专利权)人：天津赛旗嘉华科技有限公司，
类型：新型
国别省市：