一种射频低噪声放大器芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，公开了一种射频低噪声放大器芯片测试系统，包括：第一射频开关模组，所述第一射频开关模组的第一侧与噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第一射频开关模组的第二侧和第二射频开关模组的第二侧连接；所述第二射频开关模组的第一侧与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接；所述第一射频开关模组和第二开关模组均包括两个相连的射频开关。有益效果：本测试系统能够在S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)测试中任意切换，通过一个测试系统完成多个测试，将测试人员从仪器连接和仪器校验中解放出来，提高测试效率，降低测试成本。降低测试成本。降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种射频低噪声放大器芯片测试系统


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种射频低噪声放大器芯片测试系统。

技术介绍

[0002]在射频低噪声放大器芯片的测试过程中，需要检测的主要射频性能指标是S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)。
[0003]1：S参数最常见的是使用网络分析仪进行测量。
[0004]2：P1db可用信号发生器+频谱仪测量，或通过网络分析仪测量。
[0005]3：OIP3通过信号源产生双音信号，通过频谱仪读出主音信号功率和三阶交调信号的功率，进而计算出OIP3值。
[0006]4：噪声系数测试方法通常有两种方法：冷源法与Y因子法，均需要频谱仪测试，但Y因子法比冷源法多需要一台噪声源，通常噪声系数比较低的情况下，多数采用Y因子法。
[0007]对于待测件来说，如上述4种参数测试，需要用到网络分析仪、信号发生器、频谱仪和噪声源仪器，完成一组测试需要多次线路的连接和仪器校准，系统搭建比较繁琐，需要耗费大量的人力和时间。如果进行批量测试，则会对测试人员带来巨大的负担，将时间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频低噪声放大器芯片测试系统，其特征在于，包括：第一射频开关模组，所述第一射频开关模组的第一侧与噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第一射频开关模组的第二侧和第二射频开关模组的第二侧连接；所述第二射频开关模组的第一侧与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接；所述第一射频开关模组和第二开关模组均包括两个相连的射频开关。2.根据权利要求1所述的一种射频低噪声放大器芯片测试系统，其特征在于，所述第一射频开关模组包括第一射频开关和第二射频开关，第一射频开关的公共端口和第二射频开关的公共端口连接，所述第一射频开关的若干个可选端口分别和噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第二射频开关的可选端口和第二射频开关模组的第二侧连接。3.根据权利要求2所述的一种射频低噪声放大器芯片测试系统，其特征在于，所述第一射频开关包括第一可选端口、第二可选端口和第三可选端口，所述第一可选端口和噪声源连接，所述第二可选端口与信号发生器连接，所述第三可选端口和网络分析仪的第一端口连接。4.根据权利要求2所述的一种射频低噪声放大器芯片测试系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：段源鸿，黄富华，苏玉，谭游杰，
申请(专利权)人：深圳市时代速信科技有限公司，
类型：新型
国别省市：