一种放大电路特性测试装置制造方法及图纸

技术编号:31846831 阅读:19 留言:0更新日期:2022-01-12 13:28
一种放大电路特性测试装置,包括用于控制信号源输入电阻值的信号源输入电阻切换电路、用于隔离消除前后级电路间阻抗影响的第一电压跟随器、用于放大正弦波输入信号的放大电路、用于测量正弦信号真有效值的第一真有效值转换电路、用于提供电源的辅助电源电路、用于控制负载电阻值的负载电阻切换电路、用于隔离消除前后级电路间阻抗影响的第二电压跟随器、用于测量正弦信号真有效值的第二真有效值转换电路、用于实现复位和切换测试量的按键电路、用于显示测量数值的显示电路和微处理器MCU。本实用新型专利技术提供一种放大电路特性测试装置,通过改变输入与输出端元件接入状态判断放大电路特性,成本低,数据精度高,操作便捷,具有高实用性。有高实用性。有高实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种放大电路特性测试装置


[0001]本技术涉及集成电路测试
,尤其是一种放大电路特性测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路产业的蓬勃发展离不开电路测试技术。电路测试能实效验证电路设计的合理性,监控集成电路加工过程中的实物质量,分析集成电路的实效数据,帮助设计人员升级电路设计方案。传统的电路性能测试步骤繁琐,需要使用的仪器较多,实验仪器的精度不一给测试实验带来不便,需要人为多次测量并记录数据。目前电路测试系统正朝着自动化和智能化的方向发展,这要求电路测试系统需要在技术人员极少参与的情况下,自动测量并处理电路特性数据,再通过适当方式输出电路特性测试结果。放大电路作为增强信号幅度或信号功率的重要电路,被广泛应用在通讯、雷达、广播等装置中,其基本特性体现在输入电阻、输出电阻及电压增益三个指标中。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术存在的缺陷,本技术提供一种放大电路特性测试装置,通过改变输入与输出端元件接入状态判断放大电路特性,成本低,数据精度高,具有高实用性。
[0004]本技术对所实现的测试电路特性所采用的设计方案是:
[0005]一种放大电路特性测试装置,包括用于控制信号源输入电阻值的信号源输入电阻切换电路、用于隔离消除前后级电路间阻抗影响的第一电压跟随器、用于放大正弦波输入信号的放大电路、用于测量正弦信号真有效值的第一真有效值转换电路、用于提供电源的辅助电源电路、用于控制负载电阻值的负载电阻切换电路、用于隔离消除前后级电路间阻抗影响的第二电压跟随器、用于测量正弦信号真有效值的第二真有效值转换电路、用于实现复位和切换测试量的按键电路、用于显示测量数值的显示电路和微处理器MCU;
[0006]所述信号源输入电阻切换电路分别与微处理器MCU的IO1、第一电压跟随器、待测电路输入端连接,所述辅助电源电路分别与12V直流电、所述信号源输入电阻切换电路、第一电压跟随器、放大电路、第一真有效值转换电路、按键电路、显示电路、负载电阻切换电路、第二电压跟随器、第二真有效值转换电路连接,所述第一电压跟随器与所述放大电路连接,所述放大电路与所述第一真有效值转换电路连接,所述第一真有效值转换电路接微处理器MCU的AD1,所述按键电路接微处理器MCU的RESET和微处理器MCU的IO5,所述显示电路接微处理器MCU的IO3和微处理器MCU的IO4,所述负载电阻切换电路分别与微处理器MCU的IO2、待测电路输出端连接,所述第二电压跟随器与待测电路输出端、第二真有效值转换电路连接,所述第二真有效值转换电路接微处理器MCU的AD2。
[0007]进一步,所述信号源输入电阻切换电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管、第一三极管和第一继电器。
[0008]所述第二电阻的一端接微处理器MCU的IO1,所述第二电阻的另一端与所述第一三
极管的基极连接,所述第一二极管的阴极分别与电源+5V、所述第一继电器的4脚连接,所述第一二极管的阳极与所述第一电阻的一端连接,所述第一电阻的另一端同时与所述第一三极管的集电极、第一继电器的5脚连接,所述第一三极管的发射极接电源地GND,所述第一继电器的1脚接待测电路输入端,所述第一继电器的3脚与所述第三电阻的一端连接,所述第三电阻的另一端、第一继电器的2脚同时与所述第一电压跟随器的第一运放的同相端连接。
[0009]再进一步,所述第一电压跟随器包括第一运放和第一电容。
[0010]所述第一运放的反相端分别与所述第一运放的输出端、第一电容的一端连接,所述第一运放的电源端接+12V电源,所述第一运放的接地端接电源地GND,所述第一电容的另一端接所述放大电路的第四电阻的一端。
[0011]再进一步,所述放大电路包括第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二运放。
[0012]所述第四电阻的另一端分别与所述第五电阻的一端、第二运放的反相端连接,所述第二运放的同相端与所述第六电阻的一端连接,所述第六电阻的另一端接电源地GND,所述第二运放的接地端接

5V电源,所述第二运放的电源端接+5V电源,所述第二运放的输出端、第五电阻的另一端同时与所述第一真有效值转换电路的第十二电阻的一端、第二接口的3脚连接。
[0013]再进一步,所述第一真有效值转换电路包括第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻、第十七电阻、第十八电阻、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第九电容、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第五二极管、第一滑动变阻器、第一接口、第二接口、第一真有效值转换芯片。
[0014]所述第四二极管的阴极接电源地GND,所述第四二极管的阳极与所述第九电阻的一端连接,所述第九电阻的另一端、第七电阻的一端、第二二极管的阴极同时与+VS电源连接,所述第七电阻的另一端、第二电容的正极同时与+VA电源连接,所述第二电容的负极接电源地GND,所述第二二极管的阳极、第一接口的1脚同时与+5V电源连接,所述第一接口的2脚接电源地GND、所述第一接口的3脚、第三二极管的阴极同时与

5V电源连接,所述第三二极管的阳极、第八电阻的一端、第十电阻的一端同时与

VS电源连接,所述第八电阻的另一端、第三电容的负极同时与

VA电源连接,所述第三电容的正极接电源地GND,所述第十电阻的另一端与所述第五二极管的阴极连接,所述第五二极管的阳极接电源地GND,所述第二接口的6脚、第十七电阻的一端同时接微处理器MCU的AD1,所述第二接口的4脚、5脚同时接电源地GND,所述第二接口的3脚与第十二电阻的一端连接,所述第二接口的2脚接电源地GND,所述第二接口的1脚与所述第十八电阻的一端连接,所述第一滑动变阻器的3脚接

VA电源,所述第一滑动变阻器的1脚接+VA电源,所述第一滑动变阻器的2脚与所述第十一电阻的一端连接,所述第一真有效值转换芯片的1脚同时与所述第十五电阻的一端、第四电容的一端连接,所述第四电容的另一端接电源地GND,所述第一真有效值转换芯片的4脚与所述第十一电阻的另一端连接,所述第一真有效值转换芯片的15脚与所述第五电容的一端连接,所述第五电容的另一端同时与所述第十二电阻的另一端、第十三电阻的一端连接,所述第十三电阻的另一端接电源地GND,所述第一真有效值转换芯片的5脚与所述第十四电阻的一端连接,所述第十四电阻的另一端接+VA电源,所述第一真有效值转换芯片的2脚、7脚、8脚、9脚、14脚悬空,所述第一真有效值转换芯片的6脚、11脚同时与所述第十六电阻的一端、第十
七电阻的另一端、第八电容的一端连接,所述第一真有效值转换芯片的13脚、第六电容的一端同时接+VA电源,所述第六电容的另一端接电源地GND,所述第一真有效值转换芯片的16脚分别与所述第十八电阻的另一端、第九电容的一端连接,所述第一真有效值转换芯片的10脚与所述第八电容的另一端连接,所述第一真有效值本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种放大电路特性测试装置,其特征在于:所述装置包括用于控制信号源输入电阻值的信号源输入电阻切换电路、用于隔离消除前后级电路间阻抗影响的第一电压跟随器、用于放大正弦波输入信号的放大电路、用于测量正弦信号真有效值的第一真有效值转换电路、用于提供电源的辅助电源电路、用于控制负载电阻值的负载电阻切换电路、用于隔离消除前后级电路间阻抗影响的第二电压跟随器、用于测量正弦信号真有效值的第二真有效值转换电路、用于实现复位和切换测试量的按键电路、用于显示测量数值的显示电路和微处理器MCU;所述信号源输入电阻切换电路分别与微处理器MCU的IO1、第一电压跟随器、待测电路输入端连接,所述辅助电源电路分别与12V直流电、所述信号源输入电阻切换电路、第一电压跟随器、放大电路、第一真有效值转换电路、按键电路、显示电路、负载电阻切换电路、第二电压跟随器、第二真有效值转换电路连接,所述第一电压跟随器与所述放大电路连接,所述放大电路与所述第一真有效值转换电路连接,所述第一真有效值转换电路接微处理器MCU的AD1,所述按键电路接微处理器MCU的RESET和微处理器MCU的IO5,所述显示电路接微处理器MCU的IO3和微处理器MCU的IO4,所述负载电阻切换电路分别与微处理器MCU的IO2、待测电路输出端连接,所述第二电压跟随器分别与待测电路输出端、第二真有效值转换电路连接,所述第二真有效值转换电路接微处理器MCU的AD2;信号源输入电阻切换电路的继电器开关切换由微处理器的微处理器MCU的IO1输出电平控制,微处理器MCU输出一个正弦波信号给待测电路,当微处理器MCU的IO1输出低电平,此时可测得信号源输入电压,当微处理器MCU的IO1输出高电平,此时可测得待测电路输入电压,从而计算出待测电路输入电阻值;负载电阻切换电路的继电器开关切换由微处理器MCU的IO2输出电平控制,当微处理器MCU的IO2输出低电平,此时可测得待测电路空载输出电压,反之,当微处理器MCU的IO2输出高电平,此时可测得待测电路负载输出电压,从而计算出待测电路输出电阻值,同时计算出电压增益,微处理器MCU通过AD转换器采样,将得到的数值进行存贮和运算,并由按键选择输出量,将计算结果显示在显示电路的OLED显示器屏幕上。2.如权利要求1所述的一种放大电路特性测试装置,其特征在于:所述信号源输入电阻切换电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一二极管、第一三极管和第一继电器;所述第二电阻的一端接微处理器MCU的IO1,所述第二电阻的另一端与所述第一三极管的基极连接,所述第一二极管的阴极分别与电源+5V、所述第一继电器的4脚连接,所述第一二极管的阳极与所述第一电阻的一端连接,所述第一电阻的另一端同时与所述第一三极管的集电极、第一继电器的5脚连接,所述第一三极管的发射极接电源地GND,所述第一继电器的1脚接待测电路输入端,所述第一继电器的3脚与所述第三电阻的一端连接,所述第三电阻的另一端、第一继电器的2脚同时与所述第一电压跟随器的第一运放的同相端连接。3.如权利要求2所述的一种放大电路特性测试装置,其特征在于:所述第一电压跟随器包括第一运放和第一电容;所述第一运放的反相端分别与所述第一运放的输出端、第一电容的一端连接,所述第一运放的电源端接+12V电源,所述第一运放的接地端接电源地GND,所述第一电容的另一端接所述放大电路的第四电阻的一端。4.如权利要求3所述的一种放大电路特性测试装置,其特征在于:所述放大电路包括第
四电阻、第五电阻、第六电阻和第二运放;所述第四电阻的另一端分别与所述第五电阻的一端、第二运放的反相端连接,所述第二运放的同相端与所述第六电阻的一端连接,所述第六电阻的另一端接电源地GND,所述第二运放的接地端接

5V电源,所述第二运放的电源端接+5V电源,所述第二运放的输出端、第五电阻的另一端同时与所述第一真有效值转换电路的第十二电阻的一端、第二接口的3脚连接。5.如权利要求4所述的一种放大电路特性测试装置,其特征在于:所述第一真有效值转换电路包括第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻、第十七电阻、第十八电阻、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第九电容、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第五二极管、第一滑动变阻器、第一接口、第二接口、第一真有效值转换芯片;所述第四二极管的阴极接电源地GND,所述第四二极管的阳极与所述第九电阻的一端连接,所述第九电阻的另一端、第七电阻的一端、第二二极管的阴极同时与+VS电源连接,所述第七电阻的另一端、第二电容的正极同时与+VA电源连接,所述第二电容的负极接电源地GND,所述第二二极管的阳极、第一接口的1脚同时与+5V电源连接,所述第一接口的2脚接电源地GND、所述第一接口的3脚、第三二极管的阴极同时与

5V电源连接,所述第三二极管的阳极、第八电阻的一端、第十电阻的一端同时与

VS电源连接,所述第八电阻的另一端、第三电容的负极同时与

VA电源连接,所述第三电容的正极接电源地GND,所述第十电阻的另一端与所述第五二极管的阴极连接,所述第五二极管的阳极接电源地GND,所述第二接口的6脚、第十七电阻的一端同时接微处理器MCU的AD1,所述第二接口的4脚、5脚同时接电源地GND,所述第二接口的3脚与第十二电阻的一端连接,所述第二接口的2脚接电源地GND,所述第二接口的1脚与所述第十八电阻的一端连接,所述第一滑动变阻器的3脚接

VA电源,所述第一滑动变阻器的1脚接+VA电源,所述第一滑动变阻器的2脚与所述第十一电阻的一端连接,所述第一真有效值转换芯片的1脚同时与所述第十五电阻的一端、第四电容的一端连接,所述第四电容的另一端接电源地GND,所述第一真有效值转换芯片的4脚与所述第十一电阻的另一端连接,所述第一真有效值转换芯片的15脚与所述第五电容的一端连接,所述第五电容的另一端同时与所述第十二电阻的另一端、第十三电阻的一端连接,所述第十三电阻的另一端接电源地GND,所述第一真有效值转换芯片的5脚与所述第十四电阻的一端连接,所述第十四电阻的另一端接+VA电源,所述第一真有效值转换芯片的2脚、7脚、8脚、9脚、14脚悬空,所述第一真有效值转换芯片的6脚、11脚同时与所述第十六电阻的一端、第十七电阻的另一端、第八电容的一端连接,所述第一真有效值转换芯片的13脚、第六电容的一端同时接+VA电源,所述第六电容的另一端接电源地GND,所述第一真有效值转换芯片的16脚分别与所述第十八电阻的另一端、第九电容的一端连接,所述第一真有效值转换芯片的10脚与所述第八电容的另一端连接,所述第一真有效值转换芯片的12脚、第七电容的一端同时接

VA电源,所述第一真有效值转换芯片的3脚、第七电容的另一端同时接电源地GND,所述第十五电阻的另一端同时与所述第十六电阻的另一端、第九电容的另一端连接。6.如权利要求5所述的一种放大电路特性测试装置,其特征在于:所...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋燕君孔丽萍谷嘉炜许程涛蒋汉聂周凌宜王鑫挺杨鸿伟夏榕欣
申请(专利权)人:浙江树人学院浙江树人大学
类型:新型
国别省市:

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