一种用于芯片检测的多工位测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于芯片检测的多工位测试治具，包括第一热盘、第二热盘、进料盘、出料盘、吸头组件和测试固定板，所述第一热盘和第二热盘并列安装，所述进料盘和出料盘分别设置在第一热盘和第二热盘上，所述进料盘和出料盘上分别设置有测试固定板，第一热盘和第二热盘上开设有限位槽，进料盘和出料盘的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构，进料盘和出料盘的顶侧设置有定位杆，测试固定板的底侧设置有定位孔，定位杆与定位孔为配合结构，保证测试治具稳定，保证检测的准确性，进料盘和出料盘上的定位杆呈矩形阵列设置，原型号机型搭载多工位，融合性与精度要求是基本保证，充分显示机械化与集成化的优势。充分显示机械化与集成化的优势。充分显示机械化与集成化的优势。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片检测的多工位测试治具


[0001]本技术涉及芯片检测设备领域，具体为一种用于芯片检测的多工位测试治具。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分；
[0003]在对于芯片检测时，随着芯片需求用量越来越大，常规的4
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8工位的检测产能已经不能够满足需求，待检测芯片的储存量较小，不能形成高效的检测流程影响检测效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于芯片检测的多工位测试治具，解决了芯片检测时，随着芯片需求用量越来越大，常规的4
‑
8工位的检测产能已经不能够满足需求，待检测芯片的储存量较小，不能形成高效的检测流程影响检测效率。
[0005]本技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0006]一种用于芯片检测的多工位测试治具，包括第一热盘、第二热盘、进料盘、出料盘、吸头组件、测试固定板、吸盘座、吸头、气孔和定位销，所述第一热盘和第二热盘并列安装，所述进料盘和出料盘分别设置在第一热盘和第二热盘上，所述进料盘和出料盘上分别设置有测试固定板，所述测试固定板上安装有吸头组件。
[0007]作为本技术进一步的方案：所述第一热盘和第二热盘上开设有限位槽，所述进料盘和出料盘的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构。
[0008]作为本技术进一步的方案：进料盘和出料盘的顶侧设置有定位杆，所述测试固定板的底侧设置有定位孔，定位杆与定位孔为配合结构。
[0009]作为本技术进一步的方案：所述吸头组件包括吸盘座、吸头、气孔和定位销，所述吸盘座的内部设置有安装孔，所述吸头安装在安装孔内，所述吸盘座通过定位销配合安装在测试固定板上，所述测试固定板的内部开设有气孔，所述气孔与吸头沿同一竖直方向设置。
[0010]作为本技术进一步的方案：所述进料盘和出料盘的内部均开设有通孔，所述进料盘和出料盘上的定位杆呈矩形阵列设置。
[0011]作为本技术进一步的方案：所述第一热盘和第二热盘的侧边分别固定有耳扣。
[0012]本技术的有益效果：第一热盘和第二热盘并列安装，进料盘和出料盘分别设置在第一热盘和第二热盘上，进料盘和出料盘上分别设置有测试固定板，测试固定板上安装有吸头组件，第一热盘和第二热盘上开设有限位槽，进料盘和出料盘的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构，进料盘和出料盘的顶侧设置有定位杆，测试固定板的底侧设置有定位孔，定位杆与定位孔为配合结构，能够保证检测过程中，测试治具稳定，保证检测
的准确性，进料盘和出料盘上的定位杆呈矩形阵列设置，原型号机型搭载多工位，融合性与精度要求是基本保证，充分显示机械化与集成化的优势。
附图说明
[0013]为了便于本领域技术人员理解，下面结合附图对本技术作进一步的说明。
[0014]图1为本技术整体正视立体结构图；
[0015]图2为本技术整体仰视立体结构图；
[0016]图3为本技术整体正视立体结构图中的A区域结构图；
[0017]图中：1、第一热盘；2、第二热盘；3、进料盘；4、出料盘；5、吸头组件；6、测试固定板；51、吸盘座；52、吸头；53、气孔；54、定位销。
具体实施方式
[0018]下面将结合实施例对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]如图1
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3所示，一种用于芯片检测的多工位测试治具，包括第一热盘1、第二热盘2、进料盘3、出料盘4、吸头组件5、测试固定板6、吸盘座51、吸头52、气孔53和定位销54，第一热盘1和第二热盘2并列安装，进料盘3和出料盘4分别设置在第一热盘1和第二热盘2上，进料盘3和出料盘4上分别设置有测试固定板6，测试固定板6上安装有吸头组件5。
[0020]第一热盘1和第二热盘2上开设有限位槽，进料盘3和出料盘4的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构，进料盘3和出料盘4的顶侧设置有定位杆，测试固定板6的底侧设置有定位孔，定位杆与定位孔为配合结构，能够保证检测过程中，测试治具稳定，保证检测的准确性。
[0021]吸头组件5包括吸盘座51、吸头52、气孔53和定位销54，吸盘座51的内部设置有安装孔，吸头52安装在安装孔内，吸盘座51通过定位销54配合安装在测试固定板6上，测试固定板6的内部开设有气孔53，气孔53与吸头52沿同一竖直方向设置，能够便于气体的输出。
[0022]进料盘3和出料盘4的内部均开设有通孔，进料盘3和出料盘4上的定位杆呈矩形阵列设置，第一热盘1和第二热盘2的侧边分别固定有耳扣，能够配合使用，便于第一热盘1和第二热盘2的转移。
[0023]本技术的工作原理：第一热盘1和第二热盘2并列安装，进料盘3和出料盘4分别设置在第一热盘1和第二热盘2上，进料盘3和出料盘4上分别设置有测试固定板6，测试固定板6上安装有吸头组件5，吸头52安装在安装孔内，吸盘座51通过定位销54配合安装在测试固定板6上，能够实现对芯片的吸附固定，第一热盘1和第二热盘2上开设有限位槽，进料盘3和出料盘4的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构，进料盘3和出料盘4的顶侧设置有定位杆，测试固定板6的底侧设置有定位孔，定位杆与定位孔为配合结构，能够保证检测过程中，测试治具稳定，保证检测的准确性，进料盘3和出料盘4上的定位杆呈矩形阵列设置，原型号机型搭载多工位，融合性与精度要求是基本保证，充分显示机械化与集成化的优势。
[0024]以上公开的本技术优选实施例只是用于帮助阐述本技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该技术仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本技术的原理和实际应用，从而使所属
技术人员能很好地理解和利用本技术。本技术仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片检测的多工位测试治具，其特征在于，包括第一热盘(1)、第二热盘(2)、进料盘(3)、出料盘(4)、吸头组件(5)、测试固定板(6)、吸盘座(51)、吸头(52)、气孔(53)和定位销(54)，所述第一热盘(1)和第二热盘(2)并列安装，所述进料盘(3)和出料盘(4)分别设置在第一热盘(1)和第二热盘(2)上，所述进料盘(3)和出料盘(4)上分别设置有测试固定板(6)，所述测试固定板(6)上安装有吸头组件(5)。2.根据权利要求1所述的用于芯片检测的多工位测试治具，其特征在于，所述第一热盘(1)和第二热盘(2)上开设有限位槽，所述进料盘(3)和出料盘(4)的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构。3.根据权利要求1所述的用于芯片检测的多工位测试治具，其特征在于，进料盘(3)和出料盘(4)的顶侧设置有定位杆，所述测试固...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴明涛，丁丙前，魏加祝，
申请(专利权)人：苏州易锝玛精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：