一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置，包括用于固定陶瓷基板一边的固定部，用于量测陶瓷基板另一边的量测部，用于连接所述固定部和所述量测部的支撑部，所述固定部为台阶状，所述量测部设有上限位部和下限位部。上述的上限位部和下限位部分别对应陶瓷基板设定尺寸的上限和下限位置点。本实用新型专利技术结构简单、制作方便、加工成本低，测量陶瓷基板外形尺寸时，具有方便、快捷、效率高等优势。解决了背景技术中提出的现有的检测对工件外形尺寸的检测操作不方便，检测效率低等问题。检测效率低等问题。检测效率低等问题。

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置


[0001]本技术涉及器件检测用具领域，具体地说，是涉及一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置。

技术介绍

[0002]低温共烧陶瓷（LTCC）基板和高温共烧陶瓷（HTCC）基板，在由生坯烧结成熟瓷的过程中，存在着烧成收缩的现象。即使对生坯进行高精度的切割，在烧成后，陶瓷基板依然存在着尺寸数据离散的问题。为适应封装的要求，需要对陶瓷基板外形尺寸控制在一定范围内，一般会对其作尺寸公差要求。
[0003]通常，对陶瓷基板外形尺寸的测量主要使用游标卡尺量测、螺旋测微仪、影像测量仪。在试验件或小批量产品测量时，游标卡尺量测和螺旋测微仪具有灵活、方便的优势，影像测量仪具有测量精度高、数据采集无纸化等优点。但在批量化生产中，陶瓷基板的外形尺寸测量时无需要求提供精确的尺寸数据，只需判断实际尺寸是否落入目标尺寸的正负公差范围内即可，同时要求检测效率要高。
[0004]专利号为CN 209991894 U的专利文件公开了一种器件外形尺寸检测用夹具，可以同时测量高度和宽度的检验夹具，但是该夹具存在着结构复杂、操作不方便、测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置，其特征在于，包括用于固定陶瓷基板一边的固定部（100），用于量测陶瓷基板另一边的量测部（300），用于连接所述固定部（100）和所述量测部（300）的支撑部（200），所述固定部（100）为台阶状，所述量测部（300）设有上限位部（302）和下限位部（301）。2.根据权利要求1所述的一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置，其特征在于，所述支撑部（200）上还设有朝向固定部（100）的第一滑槽（201），所述量测部（300）滑动设置在第一滑槽（201）内，且通过调节螺栓紧固。3.根据权利要求1所述的一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置，其特征在于，所述上限位部...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶沈宏，黄聪，童建喜，汪涛，何利松，罗绍谨，卢冠宇，谢凯南，
申请(专利权)人：嘉兴佳利电子有限公司，
类型：新型
国别省市：