【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
一种方法,包括:在第一介电层(18)中的通路内形成选择器件(120)的第一硫族化物材料层(24);和在第二介电层(22)中形成的通路(26;31)内形成存储元件(130)的第二硫族化物材料层(40;40a)。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:IV卡波夫,CC郭,Y金,G阿特伍德,
申请(专利权)人:意法半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:IT[意大利]
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