【技术实现步骤摘要】
一种新型电子产品主板加工用测试装置
[0001]本专利技术属于电子产品测试
，具体为一种新型电子产品主板加工用测试装置。
技术介绍
[0002]在电子产品的生产过程中，其电路板的生产是一个比较关键的工艺，需要对每一块电路板进行不同的测试，不同的电路板根据其大小和安装的电子元件不同，其测试也是不一样的，其中就有一项是无干扰源环境下的主板功能性测试，一般情况下要做到无干扰源环境测试，需要专业的设备器材，如无干扰频普分析仪等。
[0003]目前在对电子产品主板进行测试时其防护性较差，通过检测设备中的检测探头对电子产品主板各个测试点接触时，由于检测过程中缺乏相应的支撑缓冲结构，使电子产品主板受挤压时容易对探测点及其主板本身造成一定的损伤，增加加工成本，同时现有的测试装置无法实现对批量主板的测试的目的，需单次完成对主板的放置、将主板托盘推入测试设备、启动测试设备、等待完成对主板的测试，待测试完成后取出主板再往复操作，使其测试的效率十分低下，不利于对主板的加工测试工作，因此需一种防护型且高效测试的电子产品主板加工用测试装置
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型电子产品主板加工用测试装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的上表面卡接有支撑座(2)，所述支撑座(2)内设置有空腔(5)，所述空腔(5)内设置有驱动机构(3)，所述驱动机构(3)的两个输出端均固定连接有连接轴(4)，所述连接轴(4)的外壁卡接有齿盘(6)，所述齿盘(6)与齿板(7)相啮合，所述齿板(7)的上表面与限位板(8)的下表面固定连接，两个限位板(8)的上表面均与连接板(10)的下表面固定连接，所述连接板(10)的上方设置有测试托盘(12)，所述测试托盘(12)上表面的前后方均匀开设有若干个放置槽(13)；所述测试托盘(12)的底部套接在立板(14)外壁，所述立板(14)的下表面与支撑座(2)内壁的下表面固定连接，所述测试托盘(12)底部的左右两侧均通过销轴活动连接有连接杆(15)，所述连接杆(15)的左端通过销轴与滑动组件(16)的上表面固定连接，所述滑动组件(16)滑动连接在滑槽(17)内，两个滑槽(17)均开设在连接板(10)的上表面；所述滑动组件(16)的左端与滑槽(17)内壁的左侧面固定连接，两个连接轴(4)的外壁均通过轴承卡接在支撑座(2)的左右两侧面，所述连接轴(4)的左端卡接有半齿轮(18)，所述半齿轮(18)的外壁设置有两个齿杆(19)，对应两个齿杆(19)的顶端均与挡块(20)的下表面固定连接，两个挡块(20)的相对面分别与测试顶板(21)的左右两侧面固定连接，所述测试顶板(21)的下表面卡接有测试触头(22)。2.根据权利要求1所述的一种新型电子产品主板加工用测试装置，其特征在于：所述滑动组件(16)包括滑块(162)，所述滑块(162)滑动连接在滑槽(17)内，所述滑块(162)的上表面通过销轴与连接杆(15)的左端活动连接，所述滑块(162)的左侧面通过弹簧(161)与滑槽(17)内壁的左侧面固定连接。...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐朝阳，
申请(专利权)人：江苏联康测控有限公司，
类型：发明
国别省市：
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