一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法技术

本发明专利技术涉及尺寸测量领域，具体提供了一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，包括如下步骤；对应各边缘设置基准块；使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度后依次扫描第一边缘和第二边缘；然后再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转后依次扫描第二边缘与第四边缘；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3；获取第一特征点P1到第一基准面的距离a，获取第二特征点P3到第二基准面的距离b；根据距离a、b、以及基准块之间的距离d获取第一边缘到第二边缘的距离c；以相同的方法获取第三边缘到第四边缘的距离c

【技术实现步骤摘要】
一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法


[0001]本专利技术涉及尺寸测量领域，具体涉及一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法。

技术介绍

[0002]产品的内部尺寸精度影响着产品的装配精度、密封性能等，特别是对于手机、笔记本电脑等3C产品来说，其内部长宽尺寸的精度尤为重要，因此需要保证对其内部长宽尺寸的测量精度。目前对笔记本电脑的内部长宽尺寸进行测量时发现，由于笔记本电脑的四周具有向外凸起的边缘，其内部容易产生遮挡，受产品颜色和特征(R角、圆弧、遮挡)的影响，使得成像位置不一定为管控位置，内部尺寸测量的准确性低。

技术实现思路

[0003]本专利技术针对3C产品内部尺寸测量过程中，内部产生的遮挡容易影响测量的准确性这一技术问题，提供了一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法。并且利用该方法对3C产品内部长宽尺寸进行测量过程中，3D轮廓仪仅需要转动一次角度，降低了因为抖动对测量精度了影响。
[0004]一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，该3C产品依次包括第一边缘、第三边缘、第二边缘和第四边缘，第一边缘与第二边缘相对，第三边缘与第四边缘相对；包括如下步骤：
[0005]对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，对应第三边缘设置第三基准块，对应第四边缘设置第四基准块；所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，所述第三基准块包括第五基准面，所述第四基准块包括第六基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d，第五基准面到第六基准面的距离为d
’
；
[0006]使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度；利用3D轮廓仪依次扫描第一边缘与第三边缘，并同步扫描第一基准块与第三基准块；
[0007]再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转，使3D轮廓能够扫描到第二边缘；利用3D轮廓仪依次扫描第二边缘与第四边缘，并同步扫描第二基准块与第四基准块；
[0008]获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3；
[0009]获取第一特征点P1到第一基准面的距离a，获取第二特征点P3到第二基准面的距离b；
[0010]根据距离a、b、d获取第一边缘到第二边缘的距离c；
[0011]获取第三边缘到第四边缘的距离c
’
的方法与获取第一边缘到第二边缘的距离c的方法原理相同。
[0012]进一步的，所述获取第一特征点P1到第一基准面的距离a包括：
[0013]获取3D轮廓仪的数值中心点O；
[0014]获取数值中心点O到第一基准面的距离S1；
[0015]获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，其中第一辅助面与第一基准面平行且
即为第二特征点P3。
[0040]进一步的，所述第一特征点P1、第二特征点P3分别位于产品的R角上；
[0041]第一特征点P1的提取过程包括：
[0042]在3D轮廓仪扫描第一边缘得到的第一R角轮廓上的第一边获取任意两点E1、E2，并限定出第五直线；
[0043]建立与第五直线平行的第一辅助线，第五直线与第一辅助线的间距为L1；
[0044]第一辅助线与第一R角轮廓的交点R
‑
M3即为第一特征点P1；
[0045]第二特征点P3的提取过程包括：
[0046]在3D轮廓仪扫描第二边缘得到的第二R角轮廓上的第三边获取任意两点F1、F2，并限定出第六直线；
[0047]建立与第六直线平行的第二辅助线，第六直线与第二辅助线的间距为L1；
[0048]第二辅助线与第二R角轮廓的交点R
‑
M4即为第二特征点P3。
[0049]有益效果：本专利技术所提供的一种3C产品的内部长宽尺寸的测量方法，通过建立基准块，利用3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度后环绕扫描3C产品内部的第一边缘至第四边缘及相应的基准块，通过取特征点的方式能够快速获取3C产品的内部长宽尺寸，避免了3C产品内部的遮挡，保证所测量的尺寸即为管控位置的尺寸，提高了对3C产品内部尺寸的管控精度；并且在扫描过程中仅需要转动一次角度，避免了转动角度次数过多造成抖动，提高测量的精度。
附图说明
[0050]图1为测量方法的流程示意图；
[0051]图2为被测3C产品与基准块的布置示意图；
[0052]图3为3D轮廓仪扫描第一边缘获取的图像变换前后的示意图；
[0053]图4为被测3C产品的长度尺寸计算示意图；
[0054]图5为图像校正后距离a的计算示意图；
[0055]图6为图像校正后距离b的计算示意图；
[0056]图7为提取R角部分特征点的示意图之一；
[0057]图8为提取R角部分特征点的示意图之二；
[0058]图9为3D轮廓仪扫描第一边缘时的示意图。
[0059]附图标记：10、3D轮廓仪；11、第一边缘；12、第二边缘；13、第三边缘；14、第四边缘；21、第一基准块；22、第二基准块；23、第三基准块；24、第四基准块；211、第一基准面；212、第三基准面；221、第二基准面；222、第四基准面；231、第五基准面；232、第七基准面；241、第六基准面；242、第八基准面。
具体实施方式
[0060]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0061]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、
“
水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0062]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0063]实施例1
[0064]本实施例提供了一种对3C产品的内部长宽尺寸的测量方法，在本实施例中所测量的对象为笔记本电脑，该笔记本电脑的四周由第一边缘11、第三边缘13、第二边缘12和第四边缘14依次围绕而成，所测量的长度尺寸即为第一边缘11到第二边缘12的距离，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，该3C产品依次包括第一边缘、第三边缘、第二边缘和第四边缘，第一边缘与第二边缘相对，第三边缘与第四边缘相对；其特征在于，包括如下步骤：对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，对应第三边缘设置第三基准块，对应第四边缘设置第四基准块；所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，所述第三基准块包括第五基准面，所述第四基准块包括第六基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d，第五基准面到第六基准面的距离为d
’
；使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度；利用3D轮廓仪依次扫描第一边缘与第三边缘，并同步扫描第一基准块与第三基准块；再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转，使3D轮廓能够扫描到第二边缘；利用3D轮廓仪依次扫描第二边缘与第四边缘，并同步扫描第二基准块与第四基准块；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3；获取第一特征点P1到第一基准面的距离a，获取第二特征点P3到第二基准面的距离b；根据距离a、b、d获取第一边缘到第二边缘的距离c；获取第三边缘到第四边缘的距离c
’
的方法与获取第一边缘到第二边缘的距离c的方法原理相同。2.根据权利要求1所述的一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取第一特征点P1到第一基准面的距离a包括：获取3D轮廓仪的数值中心点O；获取数值中心点O到第一基准面的距离S1；获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，其中第一辅助面与第一基准面平行且经过第一特征点P1；获取距离a。3.根据权利要求2所述的一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取数值中心点O到第一基准面的距离S1以及获取数值中心到第一辅助面的距离S2包括：获取当前3D轮廓仪的倾斜角度θ1，其中θ1为3D轮廓仪的激光与第一基准块的第三基准面所形成的夹角；获取3D轮廓仪扫描的第一特征点P1的坐标值P1(x
1a
，h
1a
)，获取同一时刻扫描第一基准面时的任意点P2，及点P2的坐标值P2(x
2a
，h
2a
)；获取齐次变换矩阵，利用齐次变换矩阵获取第一特征点P1以及任意点P2的变换后的坐标值，Q1(x1，h1),Q2(x2，h2)；获取数值中心点O到第一基准面的距离S1，S1＝h1*cosθ1+x1*sinθ1；获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，S2＝h2*cosθ1+x2*sinθ1。4.根据权利要求3所述的一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取齐次变换矩阵包括：建立齐次变换矩阵模型：其中P
x
、P
y
、P
w
表示变换前的坐标值，Q
x
、
Q<...

【专利技术属性】
技术研发人员：张庆祥，王临昌，潘冠健，周少峰，郑晓泽，唐小琦，陈英滔，谭辉，汤胜水，孟伟，廖建金，徐亮亮，吴增雷，
申请(专利权)人：苏州三姆森光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：