一种光学透镜边厚差测量仪制造技术

本实用新型专利技术属于透镜加工领域，具体涉及一种光学透镜边厚差测量仪，包括底座、中心承座、移动立柱、固定支柱、调节支架和测量仪器；底座上方同轴设置有用于放置待测透镜的中心承座，中心承座外侧设置有两根用于抵挡待测透镜边沿的移动立柱，移动立柱底部固接有一调节板，调节板上开设有调节长孔，移动立柱通过调节螺栓一与底座可移动连接；固定支柱竖直设置于底座上方，调节支架一端通过调节夹具与固定支柱可移动连接，调节支架另一端通过紧固件可拆卸连接有测量仪器，测量仪器可移动地悬设于中心承座上方。该测量仪一台设备即可实现不同规格的透镜边厚差测量，且切换调整简便、快捷，测量更加精确、稳定，提高工作效率。提高工作效率。提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光学透镜边厚差测量仪


[0001]本技术属于透镜加工领域，特别涉及一种光学透镜边厚差测量仪。

技术介绍

[0002]光学透镜在加工过程中，按照工艺要求需要控制零件边厚差，为此需要制作边厚差测量工装，因每种零件形状及大小不同，目前，在光学行业透镜加工过程中，制作的工装往往不能通用，在制作工装方面浪费了大量的时间和精力，这无形中也增加了透镜加工的物质资源和人工成本。

技术实现思路

[0003]针对上述情况，本技术根据透镜边厚差的测量原理，设计了一种光学透镜边厚差测量仪，可适用于测量口径φ6mm
‑
φ180mm范围内透镜的边厚差，能够满足光学行业绝大多数的透镜边厚差检测要求。
[0004]为了实现以上目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种光学透镜边厚差测量仪，包括底座、中心承座、移动立柱、固定支柱、调节支架和测量仪器。
[0006]所述底座上方同轴设置有用于放置待测透镜的中心承座，所述中心承座外侧设置有两根用于抵挡待测透镜边沿的移动立柱，所述移动立柱底部固接有一调节板，所述调节板上开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学透镜边厚差测量仪，其特征在于：包括底座、中心承座、移动立柱、固定支柱、调节支架和测量仪器；所述底座上方同轴设置有用于放置待测透镜的中心承座，所述中心承座外侧设置有两根用于抵挡待测透镜边沿的移动立柱，所述移动立柱底部固接有一调节板，所述调节板上开设有调节长孔，所述移动立柱通过调节螺栓一与所述底座可移动连接；所述固定支柱竖直设置于所述底座上方，所述调节支架一端通过调节夹具与所述固定支柱可移动连接，所述调节支架另一端通过紧固件可拆卸连接有测量仪器，所述测量仪器可移动地悬设于所述中心承座上方。2.根据权利要求1所述的一种光学透镜边厚差测量仪，其特征在于：所述调节夹具包括U型卡块一，所述U型卡块一的连接端开设有竖直的卡环一，其开口端两侧壁上贯穿开设有水平的通孔一，所述卡环一配合套箍在所述固定支柱上，所述通孔一内设置有调节螺栓二，所述调节螺栓...

【专利技术属性】
技术研发人员：田军，耿浩，刘广康，史成浡，种丽平，李洋，吕红伟，李薇，南勇，张琪，
申请(专利权)人：河南平原光电有限公司，
类型：新型
国别省市：