用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法，包括：步骤1，在PC上设定上下电测试条件，其中，上下电测试信息包括电源域数量、各电源域电压、额定电流、各DSP芯片的上下电顺序和上下电测试次数；步骤2，PC通过RS232接口给可编程电源发送控制信号，可编程电源根据控制信号分别给HTOL底板的各个通道提供电压。本发明专利技术通过PC可以对测试系统上下电测试次数、上电成功次数和上电失败次数等进行监测，通用性强，对于不同电源域，不同上电顺序的DSP芯片，只需在PC上修改上下电测试条件，节约成本，可以在常温、低温和高温检测测试系统是否存在异常情况。测试系统是否存在异常情况。测试系统是否存在异常情况。

【技术实现步骤摘要】
用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及测试
，特别涉及一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法。

技术介绍

[0002]目前，在芯片上电后需要ATE测试系统对电子电路进行测试，ATE测试系统价格昂贵，且无法再高低温下进行测试，使用继电器进行上下电，存在继电器寿命问题，对芯片上电后的功能未进行测试，无法知道芯片在多次上下电后是否存在异常情况，且无法适应DSP芯片这种需要多路电源，对于不同的电源域有严格上下电顺序的芯片。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法，其目的是为了解决传统的上下测试方法采用ATE测试系统，价格昂贵，无法在高低温下进行上下电测试，采用继电器进行上下电测试，存在继电器寿命问题，对DSP芯片上电后的功能未进行测试，无法知道芯片在多次上下电后是否存在异常情况，无法适应对于不同的电源域电压有严格上下电顺序的DSP芯片的问题。
[0004]为了达到上述目的，本专利技术的实施例提供了一种用于DSP本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统，其特征在于，包括：PC；可编程电源，所述可编程电源的第一端通过RS232接口与PC电连接；HTOL底板，所述HTOL底板的GPIO端与所述可编程电源的第二端电连接，所述HTOL底板的GPIO端用于输出反馈信号，所述HTOL底板的第一端与所述可编程电源的第三端电连接；HTOL顶板，所述HTOL顶板设置有多个，每个所述HTOL顶板均安装在所述HTOL底板上，每个所述HTOL顶板上均设置有DSP芯片，每个所述DSP芯片的IO30端均与所述HTOL底板的GPIO端电连接。2.一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试方法，应用于如权利要求1所述的用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统，其特征在于，包括：步骤1，在PC上设定上下电测试条件，其中，上下电测试信息包括电源域数量、各电源域电压、额定电流、各DSP芯片的上下电顺序和上下电测试次数；步骤2，PC通过RS232接口给可编程电源发送控制信号，可编程电源根据控制信号分别给HTOL底板的各个通道提供电压；步骤3，延时一段时间且HTOL底板各个通道的电流稳定后，对HTOL底板各个通道的电流进行获取；步骤4，判断获取的HTOL底板各个通道的电流是否超过额定电流，当获取的HTOL底板各个通道的电流中有一通道中的电流超过额定电流时，关闭可编程电源，PC发出报警信号，结束上下电测试；步骤5，当获取的HTOL底板各个通道的电流均未超过额定电流时，可编程电源通过HTOL底板给各个DSP芯片进行上电；步骤6，各个DSP芯片上电运行后分别进行自测，得到各个DSP芯片的自测功能结果；步骤7，当所有D...

【专利技术属性】
技术研发人员：范松，马维超，易峰，刘律辑，
申请(专利权)人：湖南进芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：