下载用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法的技术资料

文档序号:31718095

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本发明提供了一种用于DSP芯片电路可靠性的自动上下电测试系统及方法,包括:步骤1,在PC上设定上下电测试条件,其中,上下电测试信息包括电源域数量、各电源域电压、额定电流、各DSP芯片的上下电顺序和上下电测试次数;步骤2,PC通过RS232接...
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