一种基于近场三维成像的雷达散射截面积精确外推方法技术

技术编号:31709990 阅读:39 留言:0更新日期:2022-01-01 11:13
本发明专利技术属于合成孔径雷达(SAR)雷达散射截面积(RCS)测量技术领域,公开了一种基于近场三维成像的雷达散射截面积(RCS)精确外推方法,用来解决现有RCS外推技术不足的问题。该方法主要包括初始化雷达系统及观测场景参数,基于初始化相关参数构造测量矩阵,采用标准的贝叶斯学习方法对数据块进行基于块的学习处理,采用近场三维格林函数对雷达剖面进行三维成像处理,采用标准平面元加权算子实现NF

【技术实现步骤摘要】
一种基于近场三维成像的雷达散射截面积精确外推方法


[0001]本专利技术属于合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)雷达散射截面积(Radar Cross Section,RCS)测量
,涉及一种提供SAR成像
的RCS精确外推的方法。

技术介绍

[0002]合成孔径雷达(SAR)是一种能够全天时、全天候工作的主动式遥感技术。与光学传感器相比,SAR可以穿透云雾,在恶劣的气象条件下也可以完成观测任务。随着SAR成像技术的广泛应用,雷达散射截面积(RCS)成为了研究的热点。RCS反映了电磁波作用下物体的散射强度,在天线传播领域中得到了广泛的研究。特别的,传统的RCS测量技术依赖于微波暗室中紧凑的天线距离(CATR),具有环境条件可控的优点。但其缺点是成本过高,限制严格,很难为大型物体提供CATR。近年来,随着军事科技的日益进步,隐身与反隐身、探测与反探测等技术不断发展,对目标RCS测量提出了更高的要求。详见文献“J.W.Odendaal,L.Botha,and J.Joubert,“A full
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于近场三维成像的雷达散射截面积精确外推方法,其特征是它包括以下几个步骤:步骤1、初始化雷达系统及观测场景参数:初始化,即初始化相关参数:初始化标称观测点,记为其中ρ为远场观测半径,为观测角度,为从观测点到场景中心的方向矢量;初始化第一个超参数,记为q;初始化第二个超参数,记为S;初始化三维图像像素点,记为(x,y,z),其中x表示观测场景的x轴计数,y表示观测场景的y轴计数,z表示观测场景的z轴计数;初始化二维阵列元素,记为(M,N);初始化二维阵列尺寸,记为D
M
×
D
N
;初始化二维阵列采样间隔,记为d;初始化任意阵列元素有关的距离,记为r
mn
;初始化频率,记为f
l
;初始化距离分辨率,记为d
r
;初始化参考距离,记为R0;初始化距离历史,记为R
(0)
=[R1,R2,

,R
ss
,

,R
S
],ss=1,2,...,S,其中R1表示第1个散射体的相对距离,R2表示第2个散射体的相对距离,R
ss
表示第ss个散射体的相对距离,R
S
表示第S个散射体的相对距离;初始化光速,记为c;初始化波数,记为k
l
;初始化波长,记为λ
l
;初始化物体的最大尺寸,记为D;步骤2:基于初始化相关参数构造测量矩阵:基于初始化相关参数,构造如下的测量矩阵,记为Θ,Θ的结构如下:其中,φ
lmn
为随雷达视线变化的相位,其中l为距离向采样点,m为水平向采样点,n为垂直向采样点,k1为第一个采样点的波数,k2为第二个采样点的波数,k
L
为第L个采样点的波数,R1为第一个散射体的相对距离,R2为第二个散射体的相对距离,R
p
为第p个散射体的相对距离;步骤3、采用标准的贝叶斯学习方法对数据块进行基于块的学习处理:步骤3.1、采用标准的贝叶斯学习方法处理得到初始数据块Y及初始数据块计数U0;采用标准的贝叶斯信息准则方法计算得到当前决策总数LU0;步骤3.2、采用公式计算得到第一次决策,记为其中表示在对q遍历条件下求最小值运算符号,BIC(
·
)表示贝叶斯信息准则运算符号,q为步骤1初始化得到的第一个超参数,S为步骤1初始化得到的第二个超参数,LU0为计算得到的当前决策总数;步骤3.3、遍历并更新数据块Y,具体步骤是:对于第一个数据块,采用公式计算得到对应第一个数据块的第一次决策,记为为对应的数据块范围,其中为当前数据块对应的水平向采样点、为当前数据块对应的垂直向采样点;对于第二个数据块,采用公式计算得到对应第二个数据块的第一次决策,记为为对应的数据块范围,其中为当前数据块对应的
水平向采样点、为当前数据块对应的垂直向采样点;对于第u个数据块,采用公式计算得到对应第u个数据块的第一次决策,记为为对应的数据块范围,其中为当前数据块对应的水平向采样点、为当前数据块对应的垂直向采样点;对于第U个数据块,采用公式计算得到对应第一个数据块的第一次决策,记为为对应的数据块范围,其中为当前数据块对应的水平向采样点、为当前数据块对应的垂直向采样点;由此得到遍历后的所有数据块的第一次决策集合,记为步骤3.4、采用公式计算得到第二次决策,记为其中表示在对S遍历条件下求最小值运算符号,BIC(
·
)表示贝叶斯信息准则运算符号,为步骤3.3得到的第u个数据块的第一次决策,S为步骤1初始化得到的第二个超参数,LU0为计算得到的当前决策总数;步骤3.5、采用标准的贝叶斯学习方法,对步骤3.4得到的第二次决策进行处理,得到雷达剖面,记为其中X
u
=[σ
u
(R1),σ
u
(R2),...,...

【专利技术属性】
技术研发人员:张晓玲胥小我蒲羚张天文师君韦顺君
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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