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本发明属于合成孔径雷达(SAR)雷达散射截面积(RCS)测量技术领域，公开了一种基于近场三维成像的雷达散射截面积(RCS)精确外推方法，用来解决现有RCS外推技术不足的问题。该方法主要包括初始化雷达系统及观测场景参数，基于初始化相关参数构造...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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