【技术实现步骤摘要】
一种原位检测样品紫外老化性能的方法及装置
[0001]本专利技术属于材料性能检测
,尤其涉及一种原位检测样品紫外老化性能的方法及装置。
技术介绍
[0002]近年来,对于材料性能的研究主要集中在生产机械的优化改进、模具设计、产品表面处理与改性以及制品结构设计等方面,关于紫外线老化对材料力学性能的影响研究较少。材料紫外老化的研究一般采用不同辐射强度的紫外线对其进行人工加速紫外老化,对不同老化时间的试样进行弯曲强度测试、冲击强度测试、拉伸强度、动态热机械分析等,除此之外还有拉曼光谱仪、X射线衍射仪、红外光谱仪、扫描电子显微镜(SEM)以及透射电子显微镜(TEM)等仪器。但是这些技术的操作条件苛刻,或样品制备过程复杂,并不利于在原位条件下对材料结构和力学性能的表征。再者,针对材料紫外老化的研究,一般使用紫外灯管为光源,激光波长和高功率密度不可控。分析测试方法是采用先照射后测试分析的方法,此方法无法进行现场实时的检测分析,另在样品照射后,样品在保存运输阶段过程中,无法保证样品性能不再发生变化,影响检测结果的准确性。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种原位检测样品紫外老化性能的方法,其特征在于,包括:将粘稠状高分子材料旋涂于玻璃基底表面得到负载单层薄膜样品的基底;将负载单层薄膜样品的基底置于原子力显微镜样品检测区域,对单层薄膜样品进行检测,获得样品紫外辐射老化前的性质;将紫外激光光源发出的光线依次经透镜与反射镜从负载单层薄膜样品的基底的底部入射,利用原子力显微镜对其进行检测,得到样品紫外辐射老化后的性质;比较样品紫外辐照老化前的性质与样品紫外辐射老化后的性质,得到样品紫外老化性能的变化差异。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述紫外激光光源发出的光线依次经透镜与反射镜从负载单层薄膜样品的基底的底部垂直入射。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述负载单层薄膜样品的基底的紫外光透光率为90%。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述玻璃基底为超白玻璃材质的盖玻片或石英材质的盖玻片;所述负载单层薄膜样品的基底中单层薄膜的厚度为100~1000nm。5.一种原位检测样品紫外老化性能的方法,其特征在于,包括:将不透光的样品置于原子力显微镜样品检测区域进行检测,获得样品紫外辐射老化前的性质;将紫外激光光源发出的光线依次经紫外光...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡明军,石岩,王宏达,
申请(专利权)人:中国科学院长春应用化学研究所,
类型:发明
国别省市:
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