一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备制造技术

本实用新型专利技术涉及检测技术领域，公开了一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备，包括固定机架，所述固定机架内部固定连接载物台滑轨，所述载物台滑轨顶部活动连接平板检测器，所述平板检测器顶部固定连接有载物台和载物台移动电机，所述固定机架左侧内壁固定连接直线滑轨，所述直线滑轨上下两端均固定连接有丝杠固定座，所述直线滑轨顶部固定连接有Z轴电机，所述Z轴电机底部设置有联轴器，所述Z轴丝杠右端活动连接有X光发射器。本实用新型专利技术中，当对物料进行探伤时，将物料放入载物台上表面，通过X光发射器发射X光，对物料进行照射，同时Z轴电机工作带动Z轴丝杠旋转，使X光发射器沿着直线滑轨上下移动，对物料进行探伤操作。对物料进行探伤操作。对物料进行探伤操作。

【技术实现步骤摘要】
一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备


[0001]本技术属于检测
，具体为一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备。

技术介绍

[0002]X射线实际上是一种波长极短、能量很大的电磁波。X射线具有穿透性,但人体组织间有密度和厚度的差异，当X射线透过人体不同组织时，被吸收的程度不同，经过显像处理后即可得到不同的影像， X射线(X
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ray)检测仪是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X 光，快速检测出被检物，利用高电压撞击靶材产生X射线穿透来检测电子元器件、半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等；
[0003]目前行业内X
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RAY无损探伤检测和X
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RAY点料机是两种不同工作原理的设备，使用方需要同时购买两种设备才可以完成所有工作需求。X
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RAY点料机的X光发射源固定不动，只能作为点料使用。X
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RAY 无损探伤检测的X光发射源Z轴运动行程较短，无法满足电子元件的点料使用。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：为了解决目前行业内X
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RAY无损探伤检测和X
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RAY点料机是两种不同工作原理的设备，使用方需要同时购买两种设备才可以完成所有工作需求。X
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RAY点料机的X光发射源固定不动，只能作为点料使用。X
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RAY无损探伤检测的X光发射源Z轴运动行程较短，无法满足电子元件的点料使用的问题，提供一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备。
[0005]本技术采用的技术方案如下：一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备，包括固定机架，所述固定机架内部固定连接有载物台滑轨，所述载物台滑轨顶部活动连接有平板检测器，所述平板检测器顶部固定连接有载物台和载物台移动电机，所述固定机架左侧内壁固定连接有直线滑轨，所述直线滑轨上下两端均固定连接有丝杠固定座，两个所述丝杠固定座之间活动连接有Z轴丝杠，所述直线滑轨顶部固定连接有Z轴电机，所述Z轴电机底部设置有联轴器，所述 Z轴丝杠右端活动连接有X光发射器。
[0006]在一优选的实施方式中，所述Z轴电机通过联轴器与Z轴丝杠连接。
[0007]在一优选的实施方式中，所述固定机架底部四角均固定连接有固定腿。
[0008]在一优选的实施方式中，所述平板检测器内部设置有内部缺陷检测单元、电子元件焊接缺陷检测单元、芯片内部缺陷检测单元和电子元器件点料计数单元。
[0009]在一优选的实施方式中，所述载物台移动电机和Z轴电机均通过 PLC程序控制。
[0010]在一优选的实施方式中，所述载物台移动电机位于载物台右侧。
[0011]综上所述，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：
[0012]1、本技术中，当对物料进行探伤时，将物料放入载物台上表面，通过X光发射器发射X光，对物料进行照射，同时Z轴电机工作带动Z轴丝杠旋转，使X光发射器沿着直线滑
轨上下移动，对物料进行探伤操作。
[0013]2、本技术中，当需要对物料进行点料时，关闭Z轴电机，使 X光发射器固定，通过X光发射器发射X光，对物料进行照射，在检测过程中，载物台电机带动载物台沿着载物台滑轨左右移动，便于对载体台上的物料进行清点。
附图说明
[0014]图1为本技术一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备的结构示意简图。
[0015]图中标记：1
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固定机架、2
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载物台滑轨、3
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平板检测器、4
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载物台、5
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载物台移动电机、6
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直线滑轨、7
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丝杠固定座、8
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Z轴丝杠、 9
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Z轴电机、10
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联轴器、11
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X光发射器。
具体实施方式
[0016]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0017]参照图1，一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备，包括固定机架1，固定机架1底部四角均固定连接有固定腿，提高固定机架1的稳定性，防止在检测及点料的过程中发生晃动，固定机架 1内部固定连接有载物台滑轨2，载物台滑轨2顶部活动连接有平板检测器3，平板检测器3内部设置有内部缺陷检测单元、电子元件焊接缺陷检测单元、芯片内部缺陷检测单元和电子元器件点料计数单元，平板检测器3顶部固定连接有载物台4和载物台移动电机5，载物台移动电机5位于载物台4右侧，载物台电机5带动载物台4沿着载物台滑轨2左右移动，便于对载体台4上的物料进行清点，固定机架1左侧内壁固定连接有直线滑轨6，直线滑轨6上下两端均固定连接有丝杠固定座7，两个丝杠固定座7之间活动连接有Z轴丝杠8，直线滑轨6顶部固定连接有Z轴电机9，载物台移动电机5和Z轴电机9均通过PLC程序控制，Z轴电机9通过联轴器10与Z轴丝杠8 连接，通过Z轴电机9工作带动Z轴丝杠8旋转，使X光发射器11 沿着直线滑轨6上下移动，对物料进行探伤操作，Z轴电机9底部设置有联轴器10，Z轴丝杠8右端活动连接有X光发射器11。
[0018]工作原理：当对物料进行探伤时，将物料放入载物台4上表面，通过X光发射器11发射X光，对物料进行照射，同时Z轴电机9工作带动Z轴丝杠8旋转，使X光发射器11沿着直线滑轨6上下移动，对物料进行探伤操作；
[0019]当需要对物料进行点料时，关闭Z轴电机9，使X光发射器11 固定，通过X光发射器11发射X光，对物料进行照射，在检测过程中，载物台电机5带动载物台4沿着载物台滑轨2左右移动，便于对载体台4上的物料进行清点。
[0020]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要
素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0021]以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备，包括固定机架(1)，其特征在于：所述固定机架(1)内部固定连接有载物台滑轨(2)，所述载物台滑轨(2)顶部活动连接有平板检测器(3)，所述平板检测器(3)顶部固定连接有载物台(4)和载物台移动电机(5)，所述固定机架(1)左侧内壁固定连接有直线滑轨(6)，所述直线滑轨(6)上下两端均固定连接有丝杠固定座(7)，两个所述丝杠固定座(7)之间活动连接有Z轴丝杠(8)，所述直线滑轨(6)顶部固定连接有Z轴电机(9)，所述Z轴电机(9)底部设置有联轴器(10)，所述Z轴丝杠(8)右端活动连接有X光发射器(11)。2.如权利要求1所述的一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备，其特征在于：所述Z轴电机...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙尚坤，陈近刚，
申请(专利权)人：深圳市智诚精展科技有限公司，
类型：新型
国别省市：