一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，其中，成像单元与待测区域之间有一预设距离，成像单元的接收部处于待测区域的像素点阵列发光光束的照射区域；光路组件包括至少一个滤光部件和至少一个分光部件，滤光部件设置于成像单元上方生成的像所在的平面，包括直径可调的通孔；分光部件的法线与滤光部件的输出光束之间的角度为第一预设角度，分光部件的第一输出部和第二输出部分别输出光束至图像采集单元与光谱测量单元。通过成像单元及光路组件对光的口径限制，在微米尺度上实现像素级的图像采集；通过分束光路将光束分别送至图像采集单元和光谱测量单元，同时观测MicroLED的被测区域并测量该区域的光谱。MicroLED的被测区域并测量该区域的光谱。MicroLED的被测区域并测量该区域的光谱。

【技术实现步骤摘要】
一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统


[0001]本技术涉及MicroLED领域，尤其涉及一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统。

技术介绍

[0002]随着显示技术的快速发展，对显示设备的显示质量和性能要求也越来越高。MicroLED和MiniLED显示技术由于其高亮度、高效率、低功耗、长寿命等特点而受到越来越多的关注。Micro LED具有芯片尺寸小、集成度高和自发光的特点；其中，MicroLED显示器由发出红、绿、蓝三色光的MicroLED芯片组成，每个芯片独立发光并按照一定的阵列排布(如Bayer阵列排布)组成MicroLED显示器；MiniLED显示器面板由大量晶粒尺寸在100微米以上的LED组成。
[0003]目前，常规光谱测量仪器还无法达到MicroLED和MiniLED的微米级尺度，由于每个芯片单独发光，其发光特性各异，常规检测手段不能有效的得到每个单独像素点的光谱。且无法在提供被观测物的光谱信息的同时输出被观测物的图像信息。
[0004]由此，需要一种能够在微米级尺度测量被测物光谱信息并采集图像信息的方案。

技术实现思路

[0005]为了解决上述现有技术的缺陷，本技术提供一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统。
[0006]本技术提供一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，包括显微镜成像单元、光路组件、图像采集单元和光谱测量单元；
[0007]其中，所述成像单元与待测区域之间有一预设距离，所述成像单元的接收部处于所述待测区域的像素点阵列发光光束对应的照射区域；
[0008]所述光路组件包括至少一个滤光部件和至少一个分光部件，所述滤光部件设置于所述成像单元上方生成的像所在的平面，所述滤光部件包括至少一个通孔，所述发光光束穿过所述通孔，所述通孔的直径可调；
[0009]所述分光部件的法线与所述滤光部件的输出光束之间的角度为第一预设角度，所述分光部件的第一输出部与所述滤光部件的输出光束的一部分对应，所述分光部件的第二输出部与所述滤光部件的输出光束的其他部分对应；
[0010]所述图像采集单元的接收部与所述第一输出部的输出光束相对应，所述光谱测量单元的接收部与所述第二输出部的输出光束相对应。
[0011]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述滤光部件包括一个光阑；所述分光部件包括一个分束镜；
[0012]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述光路组件还包括至少一个准直镜，所述准直镜设置于所述滤光部件和所述分光部件之间，所述准直镜与所述滤光部件的输出光束对应，所述准直镜与所述滤光部件数量相同。
[0013]进一步的，所述光阑为可调光阑。
[0014]进一步的，所述成像单元和所述光路组件沿所述待测区域的像素点阵列发光光束同轴布置。
[0015]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述光路组件还包括在滤光部件和分光部件之间设置的转向光路，所述待测区域的像素点阵列发光光束经所述滤光部件进入所述转向光路沿第二预设角度进入所述分光部件。
[0016]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述成像单元和所述光路组件安装于位移平台上；
[0017]所述位移平台驱动所述成像单元在所述待测区域上方移动；所述位移平台驱动所述光路组件在所述成像单元上方移动。
[0018]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述位移平台具有刻度，所述刻度的最小分度与所述待测区域内的单个像素宽度相同，所述成像单元和所述光路组件的移动距离为所述最小分度的整数倍。
[0019]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述位移平台还包括校准装置，用于调整所述成像单元与所述滤光部件的距离，使得所述滤光部件位于所述像所在的平面。
[0020]根据本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，所述成像单元中的成像镜头为可调显微镜镜头。
[0021]本技术提供的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，具有如下技术效果：
[0022]1)通过成像单元以及通过滤光部件对光的口径进行限制，对芯片的微结构在微米尺度上实现像素级的图像采集；
[0023]2)通过分光部件将光束分别送至图像采集单元和光谱测量单元，能够实现同时观测MicroLED或MiniLED的被测区域并获取该区域的光谱，实现所见图像即所测光谱。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1是本技术提供的MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统的结构示意图；
[0026]附图标记：
[0027]1、显微镜成像单元；2、滤光部件；3、准直镜；4、分光部件；5、图像采集单元；6、光谱测量单元。
具体实施方式
[0028]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术中的附图，对本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人
员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]需要说明的是，Micro LED均为LED的微缩化和矩阵化，其中Micro LED让LED单元小于100微米，能够实现和OLED一样的自发光模式，每一个Micro LED可以视为一个像素，可单独驱动点亮；而Mini LED，即毫米发光二极管，晶粒尺寸约在100微米以上；而Micro LED和Mini LED面板上的像素点数目繁多，且每个像素点的发光特性各异，常规的检测手段无法实现对各个像素点的光谱特性进行测量，而通过显微成像的方式只能对面板上的的微结构进行拍照检测，而不能实现像素级的光谱测量，也就不能将观测到的面板微结构与检测到的光谱一一对应。
[0030]由此，需要一种能够同时实现像素级图像观测和像素级光谱测量的系统。
[0031]在一个实施例中，如图1所示，本技术提供了一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，包括成像单元1、滤光部件2、准直镜3、分光部件4、图像采集单元5和光谱测量单元6；
[0032]其中，成像单元1与待测区域之间有一预设距离，所述成像单元的接收部处于所述待测区域的像素点阵列发光光束对应的照射区域，接收所述待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，其特征在于，包括成像单元、光路组件、图像采集单元和光谱测量单元；所述成像单元与待测区域之间有一预设距离，所述成像单元的接收部处于所述待测区域的像素点阵列发光光束对应的照射区域；所述光路组件包括至少一个滤光部件和至少一个分光部件，所述滤光部件设置于所述成像单元上方生成的像所在的平面，所述滤光部件包括至少一个通孔，所述发光光束穿过所述通孔，所述通孔的直径可调；所述分光部件的法线与所述滤光部件的输出光束之间的角度为第一预设角度，所述分光部件的第一输出部与所述滤光部件的输出光束的一部分对应，所述分光部件的第二输出部与所述滤光部件的输出光束的其他部分对应；所述图像采集单元的接收部与所述第一输出部的输出光束相对应，所述光谱测量单元的接收部与所述第二输出部的输出光束相对应。2.根据权利要求1所述的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，其特征在于，所述滤光部件包括一个光阑；所述分光部件包括一个分束镜。3.根据权利要求2所述的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，其特征在于，所述光路组件还包括至少一个准直镜，所述准直镜设置于所述滤光部件和所述分光部件之间，所述准直镜与所述滤光部件的输出光束对应，所述准直镜与所述滤光部件数量相同。4.根据权利要求2所述的一种MicroLED或MiniLED显微光谱测量系统，其特征在于，所述光阑为可调光阑。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗时文，杨坤涛，尹政政，郑增强，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：