包括监视工件图像的工件检查和缺陷检测系统技术方案

一种工件检查和缺陷检测系统包括：光源；透镜，所述透镜输入由工件的表面引起的图像光；以及相机，所述相机接收沿着成像光路透射的成像光。所述系统利用用所述相机获取的工件的图像作为训练图像来训练缺陷检测部分以检测包括具有缺陷的工件的缺陷图像。基于所述训练图像的特征来确定异常检测器分类特性。用所述相机获取工件的运行模式图像，并且基于从所述图像中确定的特征，利用所述异常检测器分类特性来确定所述工件的图像是否被分类为异常的。另外，所述缺陷检测部分确定图像是否是包括具有缺陷的工件的缺陷图像，并且对其可执行附加操作(例如，用于测量所述缺陷的尺寸的量测操作等)。测操作等)。测操作等)。

【技术实现步骤摘要】
包括监视工件图像的工件检查和缺陷检测系统


[0001]本公开涉及工件检查系统，并且更具体地涉及用于检查工件并且检测缺 陷的精密机器视觉系统。

技术介绍

[0002]可利用诸如机器视觉检查系统(或简称“视觉系统”)的精密非接触式工 件检查系统来获得工件的图像以进行检查。此类系统可用于各种类型的应用 (例如，一般工件检查、用于确定工件的精确尺寸测量结果的量测应用等)。 此类系统通常包括计算机、相机和光学系统。在某些配置中，可包括移动机 构(例如，精密工作台、输送机等)，其移动以允许工件横动和检查。一个 示例性现有技术的机器视觉检查系统是可从位于伊利诺伊州奥罗拉的 Mitutoyo America Corporation(MAC)购得的QUICK系列基于PC 的视觉系统和软件。例如，在2003年1月发布的《QVPAK 3D CNC 视觉测量机器用户指南》中一般地描述了QUICK系列视觉系统和 软件的特征和操作，该指南特此通过引用整体地并入本文。这种类 型的系统使用显微镜型光学系统并且移动工作台以提供工件的检查图像。
[0003]此类机器视觉检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工件检查和缺陷检测系统，包括：光源；透镜，所述透镜输入由被所述光源照射的工件的表面引起的图像光，并且沿着成像光路透射所述图像光；相机，所述相机接收沿着所述成像光路透射的成像光并且提供所述工件的图像；一个或多个处理器；以及存储器，所述存储器耦合到所述一个或多个处理器并且存储程序指令，所述程序指令当由所述一个或多个处理器执行时使所述一个或多个处理器至少：获取多个训练图像，其中所述多个训练图像中的至少一些被用于训练缺陷检测部分；从所述多个训练图像中确定多个训练图像特征；至少部分地基于所述确定的训练图像特征来确定多个异常检测器分类特性；利用所述相机来获取工件的第一运行模式图像；从所述工件的第一运行模式图像中确定多个特征；以及至少部分地基于从所述工件的第一运行模式图像中确定的特征，利用所述异常检测器分类特性来确定所述工件的第一运行模式图像是否将被分类为异常的。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述程序指令当由所述一个或多个处理器执行时还使所述一个或多个处理器：利用所述异常检测器分类特性来确定工件的第二运行模式图像将被分类为非异常的；以及利用所述缺陷检测部分来分析所述第二运行模式图像以确定所述工件的第二运行模式图像是否将被分类为包括所述工件的缺陷的缺陷图像。3.根据权利要求1所述的系统，其中依照对所述异常检测器分类特性的利用将所述工件的第一运行模式图像分类为异常的。4.根据权利要求3所述的系统，其中所述程序指令当由所述一个或多个处理器执行时还使所述一个或多个处理器：至少部分基于将所述工件的第一运行模式图像分类为异常的来生成指示成像条件、照明条件或工件条件中的至少有一个有问题的消息。5.根据权利要求3所述的系统，其中所述程序指令当由所述一个或多个处理器执行时还使所述一个或多个处理器：确定所述工件的第一运行模式图像被分类为异常的原因。6.根据权利要求5所述的系统，其中所述程序指令当由所述一个或多个处理器执行时还使所述一个或多个处理器：生成指示所述工件的第一运行模式图像被分类为异常的所述原因的消息。7.根据权利要求5所述的系统，其中所述程序指令当由所述一个或多个处理器执行时还使所述一个或多个处理器：在确定所述第一运行模式图像被分类为异常的所述原因之后，调整所述光源的亮度、或所述光源的位置、或所述透镜或透镜元件相对于所述相机或工件中的至少一个的位置中的至少一个。8.一种操作工件检查和缺陷检测系统的方法，所述方法包括：
利用所述工件检查和缺陷检测系统的光源、透镜和相机来获取多个训练图像，其中所述多个训练图像中的至少一些被用于训练缺陷检测部分；从所述训练图像中确定多个训练图像特征；至少部分地基于所述训练图像特征来确定多个异常检测器分类特性；获取工件的第一运行模式图像；从所述工件的第一运行模式图像中确定多个特征；以及至少部分地基于从所述工件的第一运行模式图像中确定的特征，利用所述异常检测器分类特性来确定所述工件的第一运行模式图像是否将被分类为异常的。9.根据权利要求8所述的方法，还包括：利用所述异常检测器分类特性来确定工件的第二运行模式图像将被分类为非异常的；以及利用所述缺陷检测部分来分析所述第二运行模式图像以确定所述工件的第二运行模式图像是否将被分类为包括所述工件的缺陷的缺陷图像。10.根据权利要求8所述的方法，其中依...

【专利技术属性】
技术研发人员：WT沃森，RK布瑞尔，SR坎贝尔，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：