基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法，包括：将一系列食品标准样品分别进行预处理，制成一系列标准预制样；将各标准预制样分别延流制膜，之后置入恒温磁场中进行稳定处理，制成标准样品膜；检测各标准样品膜的阻抗值，由此建立各标准样品中有害金属元素含量与恒温磁场的强度、相应标准样品膜的阻抗值的标准关系式；按照前述步骤操作，测得由待检测食品制成的待检测样品膜的阻抗值，再依据所述标准关系式，计算出待检测食品中的有害金属元素含量。本发明专利技术的方法操作简单，无需复杂检测设备，可以快速实现食品中多种有害金属元素含量的检测，检测范围广、准确性高，能很好的满足低成本、高通量、高效率的检测需求。效率的检测需求。效率的检测需求。

【技术实现步骤摘要】
基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法


[0001]本专利技术涉及一种食品中有害金属元素含量的检测方法，具体涉及一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法。

技术介绍

[0002]面粉或米粉制品作为主食或风味小吃深受人们的喜爱。但是，由于小麦、水稻等农作物易于富集土壤中的铅、镉、汞等重金属元素，进而可能会导致面粉或米粉制品中的重金属元素超标。长期使用此类被重金属污染的食品，会给人体的神经、造血、消化和肾脏等多个系统造成不可逆的损伤。同时，面粉或米粉制品在制作过程中也可能会受到有害金属污染。例如，传统油条中一般会使用明矾以实现膨松、柔软和酥脆的口感。但长期食用明矾超标的食品，其中的铝元素会在人体内过量累积且难以代谢，进而对人体大脑产生严重影响。如何精确检测面粉或米粉制品中的有害金属元素的含量，一直是食品安全领域重点关注的问题。
[0003]目前，检测食品中铅、镉、汞、铝等含量的方法主要由石墨炉原子吸收光谱法、电感耦合等离子体质谱法、火焰原子吸收光谱法、原子荧光光谱分析法、冷原子吸收光谱法和液相色谱
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原子荧光光谱联用法等。这些方法均存在一些缺陷，例如：光谱法操作简单，但检测灵敏度较低，质谱法灵敏度高，准确性好，但设备使用和成本高昂，且光谱和质谱法需要对样品进行预处理，预处理过程复杂，检测周期长，因此均难以满足实际应用的需求。近年来，也有研究人员提出了利用电学检测技术检测食品中有害金属元素含量的方案，例如参考CN110618272A、CN103534587A，但这些方法同样存在操作复杂，设备成本高昂等问题，难以同时满足简单、快速、准确的检测需求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法，以克服现有技术中的不足。
[0005]为实现前述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案包括：本专利技术实施例提供了一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法，其包括：S1、将多个食品标准样品分别粉碎，之后分别与水混合且充分搅拌至完全糊化，再分别进行打浆及高压均质，从而制得多个标准预制样；S2、对多个所述标准预制样分别进行真空脱泡处理；S3、将经步骤S2处理后的多个所述标准预制样延流制膜，之后置入恒温磁场中进行稳定处理，制得多个标准样品膜；S4、检测位于所述恒温磁场中的所述标准样品膜的阻抗值，再由此建立各标准样品中有害金属元素含量Y与所述恒温磁场的强度B、相应标准样品膜的阻抗值z的标准关系式；
S5、按照步骤S1
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S3的操作，将待检测食品制成待检测样品膜，并参照步骤S4的操作检测待检测样品膜的阻抗值，再依据步骤S4建立的所述标准关系式，计算出待检测食品中的有害金属元素含量。
[0006]在一些实施方式中，所述食品包括面粉或米粉类食品，例如馒头、米糕、米线、油条等，且不限于此。
[0007]在一些实施方式中，所述有害金属元素包括铅、镉、汞、铝中的任意一种，且不限于此。
[0008]在一些实施方式中，步骤S1包括：将所述食品标准样品破碎后在80~110℃烘干，之后加入去离子水中，使所述食品标准样品与去离子水的质量比为1:2~1:6，并在80~110℃充分搅拌至完全糊化。
[0009]在一些实施方式中，步骤S2包括：将所述标准预制样在0.1~0.5MPa的真空条件下脱泡20~50min。
[0010]在一些实施方式中，步骤S3包括：将所述标准预制样倒入带凹槽的绝缘平板中，室温下进行延流成膜，制备成标准样品膜，所述标准样品膜的膜厚为0.3~1.5mm，并静置30~60min。
[0011]其中，所述绝缘平板的材质包括无机和/或有机绝缘材料，如陶瓷、玻璃、四氟、塑料制品等，且不限于此。
[0012]在一些实施方式中，步骤S3还包括：将载有所述标准样品膜的绝缘平板置入恒温磁场中，并设定所述恒温磁场的温度为40~60℃，磁场强度为大于0而小于或等于300mT，经10~60min完成所述的稳定处理。
[0013]在一些实施方式中，步骤S4包括：在所述标准样品膜的两端连接电极，并在室温条件下以阻抗分析仪测试40~50kHz下的阻抗值。
[0014]在一些实施方式中，所述步骤S4包括：若所述食品为馒头，所述有害金属元素为铅，则所述标准关系式为Y=0.02B+1.25z
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4.98；若所述食品为米糕，所述有害金属元素为镉，则所述标准关系式为Y=0.01B+1.25z
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3.58；若所述食品为米线，所述有害金属元素为汞，则所述标准关系式为Y=0.01B+1.25z
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2.08；若所述食品为油条，所述有害金属元素为铝，则所述标准关系式为Y=0.25B+1.03z+0.29。
[0015]在一些实施方式中，所述步骤S4包括：若所述有害金属元素为铅或镉，则所述方法的检测范围为0~0.5mg/kg；若所述有害金属元素为汞，则所述方法的检测范围为0~0.06mg/kg；若所述有害金属元素为铝，则所述方法的检测范围为0~120mg/kg。
[0016]与现有技术相比，本专利技术所提供的一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法操作简单，无需复杂检测设备，可以快速实现食品中有害金属元素含量的检测，检测范围广、准确性高，能很好的满足低成本、高通量、高效率的检测需求。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是实施例1提供的一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法的示意图。
具体实施方式
[0019]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。
[0020]实施例1：一种基于磁电耦合方法检测馒头中金属铅含量的方法，包括以下步骤：S1、样品预制备：制作一系列不同铅含量的馒头标准样品，再将各馒头标准样品分别剪碎，100℃烘干2h，粉碎，再分别加入去离子水中，各馒头标准样品与去离子水的质量比为1:3~1:6，85℃水浴充分搅拌至完全糊化，之后分别打浆及高压均质得到一系列标准预制样；S2、真空脱泡：将各标准预制样在真空条件下0.3~0.5MPa脱泡35~45min；S3、延流制膜：将各标准预制样倒入带凹槽的绝缘平板中，凹槽的长宽尺寸为100mm
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100mm、槽深2mm，室温25℃下进行延流成膜，膜厚0.3~1.2mm，并静置35~45min，制成标准样品膜；S4、磁场辅助稳定：将载有标准样品膜的绝缘平板放入恒温磁场中，设定温度45~55℃，并调节磁场强度B=50~200mT，稳定35~45min；S5、检测：参阅图1，在室温（25℃）下，将两片铜电极4连接在位于所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于磁电耦合方法检测食品中有害金属元素含量的方法，其特征在于包括：S1、将多个食品标准样品分别粉碎，之后分别与水混合且充分搅拌至完全糊化，再分别进行打浆及高压均质，从而制得多个标准预制样；S2、对多个所述标准预制样分别进行真空脱泡处理；S3、将经步骤S2处理后的多个所述标准预制样延流制膜，之后置入恒温磁场中进行稳定处理，制得多个标准样品膜；S4、检测位于所述恒温磁场中的所述标准样品膜的阻抗值，再由此建立各标准样品中有害金属元素含量Y与所述恒温磁场的强度B、相应标准样品膜的阻抗值z的标准关系式；S5、按照步骤S1
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S3的操作，将待检测食品制成待检测样品膜，并参照步骤S4的操作检测待检测样品膜的阻抗值，再依据步骤S4建立的所述标准关系式，计算出待检测食品中的有害金属元素含量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述食品包括面粉或米粉类食品。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述有害金属元素包括铅、镉、汞、铝中的任意一种。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S1包括：将所述食品标准样品破碎后在80~110℃烘干，之后加入去离子水中，使所述食品标准样品与去离子水的质量比为1:2~1:6，并在80~110℃充分搅拌至完全糊化。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S2包括：将所述标准预制样在0.1~0.5MPa的真空条件下脱泡20~50min。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S3包括：将所述标准预制样倒入带凹槽的绝缘平...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈新文，周孙林，钟美媛，孟嫚，杨哪，徐振林，孙远明，周仕源，赵书馨，钟景凤，黄景辉，彭翠容，
申请(专利权)人：广东利诚检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：