本发明专利技术涉及一种用于协调工件(5)的所述表面涂层中的缺陷(1)的识别并经由使用至少一个研磨或抛光工具(7，8)进行研磨和/或抛光来处理所述缺陷的方法，所述研磨或抛光工具能够基于存储的程序以自动的计算机控制的方式在所述缺陷(1)上移动，所述方法包括以下方法步骤：a)对所述工件(5)的所述表面涂层进行自动扫描，特别是光学扫描，并在数据库中检测所述扫描的位置数据；b)通过将所述检测到的位置数据与所述工件(5)的存储目标数据进行比较来识别所述缺陷(1)；c)模拟所述研磨或抛光工具(7，8)的可能运动，以便处理所述缺陷(1)；d)将在所述模拟中确定的所述研磨或抛光工具(7，8)的所述设置数据转发给主计算机；e)将用于处理所述缺陷(1)的所述确定的处理数据传送到所述研磨或抛光工具(7，8)；以及f)使用所述研磨或抛光工具(7，8)处理所述缺陷(1)。本发明专利技术还涉及一种用于执行所述方法的装置。于执行所述方法的装置。于执行所述方法的装置。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于协调识别和处理工件缺陷的方法及执行该方法的装置
[0001]本专利技术涉及一种根据权利要求1的前序部分的协调识别和通过至少一个研磨或抛光工具对至少一个缺陷进行研磨和/或抛光处理的方法，该研磨或抛光工具可基于存储的程序以自动的计算机控制的方式在工件表面涂层的缺陷上移动，并且本专利技术还涉及一种用于执行该方法的装置。
技术介绍
[0002]特别是在涂漆表面存在缺陷的情况下，诸如在车身上发现的缺陷，特别是灰尘夹杂物、尘土颗粒、油漆凸起和凹坑的形式的缺陷，尽管做了很多努力，这些缺陷仍然无法避免，必须通过打磨和抛光来重新加工这些缺陷。
[0003]特别地，对检测到的故障进行故障排除和故障分类非常耗时，即使对于受过专门培训且经验丰富的员工来说也是如此。
[0004]根据缺陷分类，然后选择合适的磨料，并通过手工研磨和后续抛光去除缺陷。
[0005]事实证明，对于研磨来说，基底带有微细纹理的磨料是最佳选择。这些磨料可作为磨料片而被手动使用，或在手动引导的机器上旋转、偏心、轨道或振动地使用。
[0006]根据缺陷大小，目的是使生成的研磨区域尽可能小，并为后续抛光做好准备，使其粗糙度深度最小。
[0007]对于研磨过程，基本上已知有两种不同的方法，其各有优缺点。
[0008]例如，在所谓的干研磨的情况下，研磨过程中产生的研磨粉会聚集在研磨片上，这意味着每个研磨片只能处理较少缺陷。
[0009]如果使用所谓的湿研磨方法进行研磨，其中用研磨水润湿缺陷和/或研磨片，则可处理相当多的缺陷。然而，由于粘附的研磨粉或泥，待处理的缺陷在抛光之前研磨过程之后应该进行清洁，这可能非常耗时，尤其是在竖直表面上。
[0010]为了进行抛光，将适量的抛光膏配给到研磨区域和/或抛光轮上，并用抛光机处理研磨区域。
[0011]处理缺陷是非常耗时和费力的，特别是当缺陷位于过渡处、弯曲表面、油污边缘或裂缝附近时。
[0012]当处理缺陷区域时，如果以一定角度设置手持式研磨和抛光机，例如，如果不得不在对人体工程学不利的地方进行研磨，使用了错误的微颗粒，研磨片在衬垫上的位置不正确，没有及时更换研磨片，研磨时间过长并导致磨削过深，用于研磨区域的抛光膏的量选择得过多，从而在诸如机动车的车身的工件上留下不必要的抛光膏溅渍，或者抛光膏选择得太少，从而不能达到最佳的抛光效果，并且由于接触压力过大和抛光时间太长，抛光区域变得过热，并且抛光膏絮凝并产生抛光卷曲，那么员工可能会在质量方面蒙受相当大的损失并增加额外工作量。
[0013]由质量管理团队进行的独立产品和过程审核定期地评估过程，对员工提出改进并进行培训。
[0014]现有技术中已知的是，部分地自动化故障定位和故障处理。
[0015]在故障排除过程中，定位程序有助于确定缺陷的位置并将其用于进一步的处理，其中定位程序可是半自动的或全自动的。
[0016]根据现有技术，在固定定位方法和模块化定位方法之间进行了区分，在固定定位方法中，通过系统检查工件，例如完成喷漆的车身的表面，以及在模块化定位方法中，工件根据外部轮廓由检测单元进行检查，检测单元具有附接到机器人臂的检测器。
[0017]利用固定定位方法，可相对于轮廓检查不同尺寸和特性的工件，其中，由于该方法，不可能在工件的阴影区域和底切处进行检查。此外，与模块化定位方法相比，这种方法记录的扫描位置数据和缺陷分类的准确度较低。
[0018]在缺陷处理过程中，员工会得到部分自动化的研磨和抛光时段，或者这些都是自动进行的。
技术实现思路
[0019]本专利技术的目的是进一步开发一种通用类型的方法，使得研磨或抛光结果得到优化，特别是缺陷检测和自动研磨和抛光得到更好的协调。
[0020]通过具有权利要求1的特征的方法和具有权利要求15的特征的装置来实现该目的。
[0021]根据本专利技术的协调识别和通过用至少一个研磨或抛光工具对至少一个缺陷进行研磨和/或抛光来处理的方法，该研磨或抛光工具可基于存储的程序以自动的计算机控制的方式在工件表面涂层的缺陷上移动，该方法具有以下方法步骤：
[0022]a)在检测站(2)中对工件(5)的表面涂层进行自动扫描，特别是光学扫描，并将扫描的位置数据存储在数据库中；
[0023]b)将检测到的位置数据与工件(5)的存储目标数据进行比较，识别缺陷(1)；
[0024]c)模拟用于处理缺陷(1)的研磨或抛光工具(7，8)的可能运动；
[0025]d)将在模拟期间确定的用于研磨或抛光工具(7，8)的设置数据转发至主计算机；
[0026]e)将确定的用于处理缺陷(1)的处理数据传送到研磨或抛光工具(7，8)；
[0027]f)通过研磨或抛光工具(7，8)处理缺陷(1)。
[0028]根据本专利技术的方法明显改善了各个方法步骤的精确协调，特别是通过自动缺陷检测和自动研磨和抛光的互动。
[0029]这伴随着明显的时间节省，因为特别是自动检测缺陷所需的时间比由受过培训的人员手动或目视检测缺陷所需的时间更短。
[0030]此外，检测到的缺陷的坐标的自动存储能够直接传递这些坐标，以用于研磨工具或抛光工具的对准。
[0031]在进行研磨或抛光之前，预模拟研磨或抛光过程确保了可通过可用的研磨或抛光工具自动处理相应的缺陷。
[0032]基于传送到研磨或抛光工具的控制单元的处理数据，可优化研磨或抛光工具对缺陷的后续处理，特别是在速度方面。
[0033]本专利技术的有利的实施例变型是从属权利要求的主题。
[0034]根据本专利技术方法的有利的实施例变型，在检测站借助于可移动的检测单元进行工
件表面涂层的光学扫描。
[0035]这使得在位置数据、缺陷大小和缺陷类型方面提高定位过程的准确性成为可能。这反过来又使得能够以尽可能小的研磨点进行处理。
[0036]根据本专利技术方法的有利的实施例变型，当在步骤c)中检测到不可能通过研磨或抛光工具自动处理缺陷区域时，标记和指示该缺陷区域。
[0037]这样做的优点在于，研磨或抛光工具直接绕过此类缺陷，从而进一步节省时间。不可加工的缺陷在屏幕上显示给操作员，并且存储该缺陷的坐标，这使得在自动可加工的缺陷被处理后，能够由经过培训的专业人员进行此类缺陷的处理。
[0038]根据另一个有利的实施例变型，在步骤e)之前将工件细分至处理区域，特别是在检测到多个缺陷的情况下。
[0039]这样做的优点在于，借助于路径规划软件，可以对缺陷进行速度优化处理。
[0040]优选地，基于工件的几何形状和相应研磨或抛光工具的可接近性来计算处理区域。
[0041]这可明显改善协调性，尤其是在现有几种研磨或抛光工具的情况下。此外，可避免工具的碰撞。
[0042]根据又一个优选的实施例变型，在有多个待处理缺陷的情况下，控制至少一个研磨或抛光工具，使得在时间和距离方面优化对缺陷的处理。特别地，同时控制彼此相邻布置的几个本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于协调识别和通过至少一个研磨或抛光工具(7，8)对至少一个缺陷(1)进行研磨和/或抛光来处理的方法，所述研磨或抛光工具能够基于存储的程序以自动的计算机控制的方式在工件(5)的表面涂层中的所述缺陷(1)上移动，所述方法包括以下步骤：a)在检测站(2)中对所述工件(5)的所述表面涂层进行自动扫描，特别是光学扫描，并将扫描的位置数据存储在数据库中；b)将检测到的位置数据与所述工件(5)的存储目标数据进行比较，识别所述缺陷(1)；c)模拟用于处理所述缺陷(1)的所述研磨或抛光工具(7，8)的可能运动；d)将在所述模拟期间确定的用于所述研磨或抛光工具(7，8)的设置数据转发至主计算机；e)将确定的用于处理所述缺陷(1)的处理数据传送到所述研磨或抛光工具(7，8)；f)通过用所述研磨或抛光工具(7，8)研磨来处理所述缺陷(1)。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，借助于可移动的检测单元(6)在检测站(2)中进行所述工件(5)的所述表面涂层的所述光学扫描。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，当在步骤c)中检测到不可能通过所述研磨或抛光工具(7，8)自动处理所述缺陷时，标记并指示所述缺陷。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤e)之前，所述工件(5)被划分为处理区域。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述工件(5)的几何形状和相应的研磨或抛光工具(7，8)的可接近性来计算所述处理区域。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在有多个待处理的缺陷的情况下，控制所述至少一个研磨或抛光工具(7，8)，使得在时间和距离方面优化对所述缺陷的处理。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，同时控制彼此相邻布置的多个研磨或抛光工具(7，8)以处理相应的缺陷。8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在工件部件能够在它们的保持件中移动预定距离的情况下，控制所述研磨或抛光工具(...
【专利技术属性】
技术研发人员：W，
申请(专利权)人：施塔克卤德有限公司及两合公司，
类型：发明
国别省市：
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