表面检查方法、装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供表面检查方法、表面检查装置和计算机可读存储介质。根据本发明专利技术实施例的表面检查方法包括：获取至少第一边缘检测数据和第二边缘检测数据，所述第一边缘检测数据是对所述表面的边缘的第一检测方向检测得到的第一表面轮廓，所述第二边缘检测数据是对所述表面的边缘的第二检测方向检测得到的第二表面轮廓，所述第一检测方向与所述第二检测方向之间非平行；根据至少所述第一边缘检测数据和所述第二边缘检测数据确定在所述表面上是否存在缺陷候选区域；当确定在所述表面上存在所述缺陷候选区域时，获取基于所述缺陷候选区域的表面图像，根据基于所述缺陷候选区域的表面图像进行缺陷检测。面图像进行缺陷检测。面图像进行缺陷检测。

【技术实现步骤摘要】
表面检查方法、装置和计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及缺陷检测领域，尤其涉及一种表面检查方法、表面检查装置和计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在工业生产中，产品表面的缺陷检测是确保产品质量的重要步骤之一。在传统生产线上，往往需要由经验丰富的工人来负责人工产品表面检查和质量控制，然而，这种做法容易导致产品质量检测效率低下、费时以及标准不一致。
[0003]在此前提下，进一步发展出了自动化的产品表面检查和质量控制的方案，例如，用户可以利用三维传感器作为工具，对产品表面进行图像采集和缺陷检测。然而，这种表面缺陷检测方式通常受到传感器视野、图像采集速度以及检测精度的限制。例如，高精度的三维传感器往往视野很小，从而无法快速获取大面积的精确表面数据，因此通过扫描整个产品表面区域进行检测的方式将非常耗时。此外，由于无法对缺陷位置进行准确定位，从而使得在进行图像拟合时会导致较大的误差，也因此无法获得较高的检测精度。
[0004]由此可见，需要一种能够快速且有效地定位表面缺陷，且能够进一步提高缺陷检测精度的方法和装置。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检查方法，包括：获取至少第一边缘检测数据和第二边缘检测数据，所述第一边缘检测数据是对所述表面的边缘的第一检测方向检测得到的第一表面轮廓，所述第二边缘检测数据是对所述表面的边缘的第二检测方向检测得到的第二表面轮廓，所述第一检测方向与所述第二检测方向之间非平行；根据至少所述第一边缘检测数据和所述第二边缘检测数据确定在所述表面上是否存在缺陷候选区域；当确定在所述表面上存在所述缺陷候选区域时，获取基于所述缺陷候选区域的表面图像，根据基于所述缺陷候选区域的表面图像进行缺陷检测。2.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一检测方向与所述第二检测方向之间相互正交。3.如权利要求1所述的方法，其中，根据至少所述第一边缘检测数据和所述第二边缘检测数据确定是否存在缺陷候选区域包括：判断所述第一表面轮廓是否存在第一非平面区域，所述第二表面轮廓是否存在第二非平面区域；当所述第一表面轮廓存在第一非平面区域且第二表面轮廓存在第二非平面区域时，分别获取所述第一表面轮廓的至少一个第一非平面区域和所述第二表面轮廓的至少一个第二非平面区域；将至少一个所述第一非平面区域和至少一个所述第二非平面区域在所述表面指示的一个或多个相交区域，作为所述缺陷候选区域。4.如权利要求3所述的方法，其中，判断所述第一表面轮廓是否存在第一非平面区域，所述第二表面轮廓是否存在第二非平面区域包括：分别判断所述第一表面轮廓和所述第二表面轮廓的形变程度；当所述第一表面轮廓中的区域的形变程度超过第一阈值时，将超过第一阈值的区域作为所述第一非平面区域，以及当所述第二表面轮廓中的区域的形变程度超过第二阈值时，将超过第二阈值的区域作为所述第二非平面区域。5.如权利要求3所述的方法，其中，将至少一个所述第一非平面区域和至少一个所述第二非平面区域在所述表面指示的相交区域，作为所述缺陷候选区域包括：获取至少一个所述第一非平面区域和/或至少一个所述第二非平面区域相对于所述表面至少一个边缘的距离；根据所获取的距离，在至少一个所述第一非平面区域和至少一个所述第二非平面区域在所述表面指示的一个或多个相交区域中进行选择，得到所述缺陷候选区域。6.如权利要求1所述的方法，其中，当存在所述缺陷候选区域时，获取基于所述缺陷候选区域的表面图像，根据基于所述缺陷候选区域的表面图像进行缺陷检测包括：从第三检测方向获取基于所述缺陷候选区域的表面图像，得到基于所述缺陷候选区域的表面图像中各个点相对于所述第三检测方向的深度值，其中所述第三检测方向与所述第一检测方向、所述第二检测方...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹婷，张毅飞，王志成，王刚，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：