一种工件母线扫描立式测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种工件母线扫描立式测试装置，所述测试装置包括固定于测试平台上且用于对工件底部进行定位的工件支承座、位于所述工件支承座正上方且用于对工件顶部进行定位的支承板以及用于扫描母线的光幕传感器，其中：所述测试平台上固定有与其相垂直的立柱，所述立柱上固定有同向的导轨，所述导轨上设有与其滑动连接的下滑块，所述支承板固定于所述立柱上或者受上驱动系统驱动沿立柱上下移动，所述光幕传感器设有两个分别固定于光幕传感器支架的左右两侧，所述光幕传感器支架与所述下滑块固定连接，所述下滑块受下驱动系统驱动上下移动。本实用新型专利技术采用立式测量方式，测量精准度高。测量精准度高。测量精准度高。

【技术实现步骤摘要】
一种工件母线扫描立式测试装置


[0001]本技术涉及扫描测试
，特别是涉及一种工件母线扫描立式测试装置，尤其适用于高速旋转工件的母线测量。

技术介绍

[0002]高速旋转工件在研制过程中，动平衡技术研究是研究工作中的重要部分。工件的母线弯曲校正是动平衡技术研究工作的前提和基础。目前，针对工件尤其是大长度工件的母线弯曲情况无法通过现有技术装备获得，因为现有技术中卧式测量方式工件会由于自重向下弯曲，导致测量结果失真。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是针对现有技术中存在的缺乏针对大长度工件母线测试装置的技术缺陷，而提供一种工件母线扫描立式测试装置。
[0004]为实现本技术的目的所采用的技术方案是：
[0005]一种工件母线扫描立式测试装置，包括固定于测试平台上且用于对工件底部进行定位的工件支承座、位于所述工件支承座正上方且用于对工件顶部进行定位的支承板以及用于扫描母线的光幕传感器，其中：
[0006]所述测试平台上固定有与其相垂直的立柱，所述立柱上固定有同向的导轨，所述导轨上设有与其滑动连接的下滑块，所述支承板固定于所述立柱上或者受上驱动系统驱动沿立柱上下移动，所述光幕传感器设有两个分别固定于光幕传感器支架的左右两侧，所述光幕传感器支架与所述下滑块固定连接，所述下滑块受下驱动系统驱动上下移动。
[0007]在上述技术方案中，所述支承板上设有供高速旋转工件或高精度芯轴进入的开槽，所述开槽一端开口，另一端为与所述高速旋转工件或高精度芯轴端轴相适配的弧形边缘，更进一步的，所述弧形边缘的顶部固定有弧形立板，为所述端轴提供良好的定位。
[0008]在上述技术方案中，所述测试平台以及立柱的材质为大理石，所述立柱的底部通过位于其左右两侧的两个立柱支承架固定于测试平台上。
[0009]在上述技术方案中，所述支承板直接固定或通过上支承固定于与所述导轨滑动连接的上滑块上，所述上滑块受上驱动系统的驱动沿所述导轨上下移动。
[0010]在上述技术方案中，所述上驱动系统为上同步带传动系统，所述下驱动系统为下同步带传动系统。
[0011]在上述技术方案中，所述上同步带传动系统包括上减速机、传动支承A以及同步带A，所述同步带A环绕于所述上减速机的输出轴、传动支承A的转轴之间，同所述上减速机输出轴同步转动，所述上支承的顶部固定于上滑台上，所述上滑台固定于所述上滑块上，所述同步带A通过压板A固定于所述上滑台的侧边上；
[0012]所述下同步带传动系统包括下减速机、传动支承B以及同步带B，所述同步带B环绕于所述下减速机的输出轴、传动支承B的转轴之间，同所述下减速机输出轴同步转动，所述
光幕传感器支架固定于下滑台上，所述下滑台固定于所述下滑块上，所述同步带B通过压板B固定于所述下滑台的侧边上。
[0013]在上述技术方案中，所述上同步带传动系统还包括上光电限位开关A和下光电限位开关A，所述上滑台的侧边上固定有限位挡板A，所述上光电限位开关A和下光电限位开关A分别位于所述同步带A的上下极限位置上，所述同步带A运动至上极限位置时，所述限位挡板A进入所述上光电限位开关A，所述同步带A运动至下极限位置时，所述限位挡板A进入所述下光电限位开关A。
[0014]在上述技术方案中，所述下同步带传动系统还包括上光电限位开关B和下光电限位开关B，所述下滑块的侧边上固定有限位挡板B，所述上光电限位开关B和下光电限位开关B分别位于所述同步带B的上下极限位置上，所述同步带B运动至上极限位置时，所述限位挡板B进入所述上光电限位开关B，所述同步带A运动至下极限位置时，所述限位挡板B进入所述下光电限位开关B。
[0015]在上述技术方案中，所述上减速机通过上电机支架固定于所述立柱的顶部，所述下减速机通过下电机支架固定于所述立柱的底部，所述上电机支架、下电机支架、传动支承B、传动支承A朝向运动部件的一侧上均设有机械限位，所述上电机支架上的机械限位设置在靠近上滑台一侧，所述下电机支架上的机械限位设置在靠近下滑台一侧。
[0016]在上述技术方案中，所述测试装置还包括手持控制器，所述手持控制器与所述上减速机、下减速机以及光幕传感器通讯连接。
[0017]在上述技术方案中，所述测试平台固定于支承梁上，所述支承梁的底部设有可调地脚和滚轮。
[0018]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0019]1.本技术的测试装置采用立式测量方式，避免了工件卧式支承方式，左右两端支承点跨度过长造成的弯曲现象。本测试装置将工件竖直安装在测试装置上，控制光幕传感器沿高精度芯轴母线进行扫描。通过光幕传感器反馈的数据，研究母线弯曲情况。
[0020]2.本技术的测试装置采用单导轨双滑台设计，降低了累积误差、加工成本以及制造、安装、调试难度。
[0021]3.本技术能够依靠上滑台移动调整支承板的高度，适应多规格工件。本技术的测试装置配置有可移动手持控制器，方便工作人员操作。
附图说明
[0022]图1为本技术所述的结构图视图1。
[0023]图2为本技术所述的结构图视图2。
[0024]图3为本技术所述的结构图视图3。
[0025]图4是支承板的结构图。
[0026]图5是上同步带传动系统的局部结构图。
[0027]图6是下同步带传动系统的局部结构图。
[0028]1‑
上减速机，2
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上电机支架，3
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导轨，4
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上滑块，5
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上支承，6
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传动支承B，7
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支承板，8
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高精度芯轴，9
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立柱，10
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下滑台，11
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光幕传感器支架，12
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光幕传感器，13
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下减速机，14
‑
工件支承座，15
‑
测试平台，16
‑
同步带A，17
‑
同步带B，18
‑
下滑块，19
‑
立柱支承架，20
‑
光
电限位开关，21
‑
限位挡板B，22
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机械限位，23
‑
压板B，24
‑
压板A，25
‑
上滑台，26
‑
限位挡板A，27
‑
支承梁，28
‑
可调地脚，29
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滚轮，30
‑
下电机支架，31
‑
传动支承A，32
‑
开槽，33
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弧形立板，34
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上光电限位开关A，35
‑
下光电限位开关A，36
‑
上光电限位开关B，37
‑...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工件母线扫描立式测试装置，其特征在于，包括固定于测试平台上且用于对工件底部进行定位的工件支承座、位于所述工件支承座正上方且用于对工件顶部进行定位的支承板以及用于扫描母线的光幕传感器，其中：所述测试平台上固定有与其相垂直的立柱，所述立柱上固定有同向的导轨，所述导轨上设有与其滑动连接的下滑块，所述支承板固定于所述立柱上或者受上驱动系统驱动沿立柱上下移动，所述光幕传感器设有两个分别固定于光幕传感器支架的左右两侧，所述光幕传感器支架与所述下滑块固定连接，所述下滑块受下驱动系统驱动上下移动。2.如权利要求1所述的工件母线扫描立式测试装置，其特征在于，所述支承板上设有供高速旋转工件或高精度芯轴进入的开槽，所述开槽一端开口，另一端为与所述高速旋转工件或高精度芯轴端轴相适配的弧形边缘，更进一步的，所述弧形边缘的顶部固定有弧形立板，为所述端轴提供良好的定位。3.如权利要求1所述的工件母线扫描立式测试装置，其特征在于，所述测试平台以及立柱的材质为大理石，所述立柱的底部通过位于其左右两侧的两个立柱支承架固定于测试平台上。4.如权利要求1所述的工件母线扫描立式测试装置，其特征在于，所述支承板直接固定或通过上支承固定于与所述导轨滑动连接的上滑块上，所述上滑块受上驱动系统的驱动沿所述导轨上下移动。5.如权利要求4所述的工件母线扫描立式测试装置，其特征在于，所述上驱动系统为上同步带传动系统，所述下驱动系统为下同步带传动系统。6.如权利要求5所述的工件母线扫描立式测试装置，其特征在于，所述上同步带传动系统包括上减速机、传动支承A以及同步带A，所述同步带A环绕于所述上减速机的输出轴、传动支承A的转轴之间，同所述上减速机输出轴同步转动，所述上支承的顶部固定于上滑台上，所述上滑台固定于所述上滑块上，所述同步带A通过压板A固定于所述上滑台的侧边上；所述下同步带传动系统包括下减速机、传动支承B以及同步带B，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：和玉洁，李新，高剑波，张一，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：新型
国别省市：