一种半导体寿命试验机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体寿命试验机，涉及半导体测试设备技术领域。包括试验机本体，试验机本体右表面内凹有放置槽，试验机本体前面开设有矩形槽，放置槽后内壁开设有滑槽，放置槽内壁滑动连接有盛放板，盛放板上表面堆叠有半导体本体，盛放板下表面固定连接有弹簧，弹簧下表面固定连接在放置槽下内壁，盛放板后固定连接有滑块，滑块表面滑动连接在滑槽内壁，放置槽后内壁开设有测试室，测试室上内壁开设有凹槽，试验机本体前面设置有动力机构；动力机构包括电机，试验机本体的矩形槽内壁滑动连接有推动板，丝杆后表面转动连接在推动板前面；无需人工在对每一个待测试半导体进行逐一放置，有效的提高了测试速度，降低劳动强度。强度。强度。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体寿命试验机


[0001]本技术涉及半导体测试设备
，尤其涉及一种半导体寿命试验机。

技术介绍

[0002]半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质，其电导率容易受控制，可作为信息处理的元件材料。从科技或是经济发展的角度来看，半导体非常重要。很多电子产品，如计算机、移动电话、数字录音机的核心单元都是利用半导体的电导率变化来处理信息。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。
[0003]而目前针对于半导体的寿命测试往往是采用人工将待测试的半导体放置在试验机的测试台上的方式进行寿命测试，然而当待测数量足够多时将是非常恐怖的劳动量，并且频繁的开关试验机也会使其使用寿命降低且容易发生损坏从而影响半导体的测试效果，因此亟需一种自动化程度高且能自行完成测试的半导体寿命试验机。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种半导体寿命试验机，解决了现有半导体寿命试验机无法自动将放置半导体，需要人工重复放置半导体进行试验导致工作量大、劳动强度高的技术问题。
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体寿命试验机，包括试验机本体(1)，所述试验机本体(1)右表面内凹有放置槽(11)，所述试验机本体(1)前面开设有矩形槽，其特征在于：所述放置槽(11)后内壁开设有滑槽(12)，所述放置槽(11)内壁滑动连接有盛放板(13)，所述盛放板(13)上表面堆叠有半导体本体(14)，所述盛放板(13)下表面固定连接有弹簧(17)，所述弹簧(17)下表面固定连接在放置槽(11)下内壁，所述盛放板(13)后固定连接有滑块(16)，所述滑块(16)表面滑动连接在滑槽(12)内壁，所述放置槽(11)后内壁开设有测试室(15)，所述测试室(15)上内壁开设有凹槽，所述试验机本体(1)前面设置有动力机构；所述动力机构包括电机(2)，所述电机(2)后表面固定连接在试验机本体(1)前面，所述试验机本体(1)的输出轴圆周表面固定连接有传动块(21)，所述传动块(21)下表面螺纹啮合有丝杆(22)，所述试验机本体(1)前面固定连接有固定架(23)，所述丝杆(22)圆周表面转动连接在固定架(23)的内圈，所述试验机本体(1)的矩形槽内壁滑动连接有推动板(24)，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴旭艳，
申请(专利权)人：上海腾尖检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：