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本实用新型公开了一种半导体寿命试验机，涉及半导体测试设备技术领域。包括试验机本体，试验机本体右表面内凹有放置槽，试验机本体前面开设有矩形槽，放置槽后内壁开设有滑槽，放置槽内壁滑动连接有盛放板，盛放板上表面堆叠有半导体本体，盛放板下表面固定连...
该专利属于上海腾尖检测技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海腾尖检测技术有限公司授权不得商用。

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