一种象管装架仪制造技术

一种像管装架仪，属于物理学领域中的一种测量装置和电学领域中的真空光电成像器件及电子束成像器件的一种装配仪器．采用千分表装置和标准块来直接测量像管的极间距离，进行像管装配，从而取代通过测量电极尺寸来间接测量极间距离的传统装配像管方法．本实用新型专利技术具有比传统装配方法提高装配精度１～２数量级、像管分辨率长期稳定良好、提高工作效率和降低零件加工成本等优点．（*该技术在1995年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本技术属于物理学领域中的一种测量装置和电学领域中的真空光电成像器件及电子束成像器件的一种装配仪器。对于如图1所示的二极式静电聚焦像管，为确保其良好成像，除对像管各电极零件尺寸提出合理的精度要求外，主要应保证阴极〔1〕内表面B和阳极〔2〕顶端面C之间的距离p(以下简称该距离为极间距离)满足像管电子光学设计要求。然而，该距离在未装配阳极〔2〕之前，无法预先直接量出，而在装配阳极〔2〕之后，因为阴极〔1〕、阳极〔2〕均装在封闭的管壳中又无法进行测量检验。因此，长期以来的传统测量、装配方法是根据有关电极零件尺寸阴极面板厚度dc，阳极长度la，先计算出装配后阴极外端面A和阳极尾端面D之间的长度lb＝dc+p+la(1)式(1)中的p值是由电子光学设计给出的。装配时设法使lb满足(1)式，装配后再检验该尺寸。然而，由于所有电极零件尺寸dc和la都存在公差，采用这种间接测量、装配方法，不可避免地把电极零件公差都叠加在p值上了，显然这种测量、装配方法的装配精度实际受到零件精度的限制(一般为0.1mm)。既使每次装配都对各电极零件进行仔细测量，也因对零件的多次测量的累积测量误差造成p值的实际尺寸与设计要求有较大的偏差。(特别是在装配阳极之前，在没有良好固定阳极〔2〕装置时，lb值是很难测量准确的，因此很难控制lb正好等于dc+p+la)。如果每次测量误差为0.1mm，那么经过三次测量误差累积，装配的实际p值与设计要求的p值最大偏差为0.3mm。为确保像管良好成像，一般p值装配公差应控制在0.01～0.1mm范围。大于0.1mm的p值偏差必然导致像质恶化，这正是在像管研制与生产中经常出现的分辨率时好时坏、像质不能长期稳定的症结所在。为确保像管装配的实际极间距离p能满足设计要求，以获得稳定的良好图像，专利技术本装架仪。本技术的基本设计思想是改变传统的间接测量p值的装配方法，采用千分表和标准块直接测量p值的装配方法。图2给出这一设计的示意图。它的基本结构由千分表装置、标准块和底座组成。带有中心孔的标准块〔10〕放在底座〔11〕的上表面——基准平面E上，标准块〔10〕中心孔轴线与千分表测量头〔5〕同轴，且与基准平面E垂直；把千分表壳体〔4〕及测量头〔5〕延长，分别固接上它们的延长部分千分表壳体〔4〕固接套筒〔7〕，测量头〔5〕固接测量杆〔6〕，并使套筒〔7〕和测量杆〔6〕滑动配合，它们均与千分表测量头〔5〕同轴(该轴线为千分表装置轴线)；千分表装置包括千分表〔3〕、套筒〔7〕、测量杆〔6〕、锁紧螺钉〔8〕、压紧螺母〔13〕、滑块〔14〕和弹性爪〔15〕。当锁紧螺钉〔8〕放松时，测量杆〔6〕可以在套筒〔7〕内自由上下滑动，并保持同轴；当锁紧螺钉〔8〕锁紧时，可使套筒〔7〕和测量杆〔6〕相对位置固定。压紧螺母〔13〕、滑块〔14〕和套筒下端的弹性爪〔15〕组成一个可以装卡阳极〔2〕的机构；滑块〔14〕的内表面和弹性爪〔15〕的外表面是一个锥面滑配合，当下旋压紧螺母〔13〕时，推动滑块〔14〕下滑，压弹性爪〔15〕，使弹性爪〔15〕收拢，外径变小，可装套上阳极〔2〕；当上旋压紧螺母〔13〕时，弹性爪自动弹开，外径变大，就可卡住阳极〔2〕，使阳极〔2〕和套筒〔7〕形成一体。标准块〔10〕是一个具有中心孔的圆柱体，其高度h根据像管电子光学设计给出的极间距离p来确定(p和h允许有适当偏差)，中心孔大小应与测量杆〔6〕下端外径滑配合，上下表面平整光滑、相互平行，与中心孔轴线垂直底座〔11〕的上表面为本装置的基准平面E。E面应平整光滑，当把标准块〔10〕放在E表面上后，要接触严密。采用本技术进行像管装配时，首先下旋压紧螺母〔13〕，使弹性爪〔15〕收拢，把待装阳极〔2〕穿过测量杆〔6〕套在弹性爪〔15〕上，再上旋压紧螺母〔13〕，弹性爪〔15〕张开卡住阳极〔2〕；把装有阳极〔2〕的千分表装置的测量杆〔6〕插入放在基准平面E上的标准块〔10〕的中心孔中，并使测量杆〔6〕下端触到基准平面E，同时下压套筒〔7〕(这时锁紧螺钉〔8〕是松开的〕，使阳极〔2〕顶端面C触到标准块〔10〕的上表面，然后用锁紧螺钉〔8〕锁住套筒〔7〕和测量杆〔6〕，使它们相对位置不变。把千分表装置从标准块〔10〕中心孔拔出，这时露出阳极孔的测量杆长度恰好就是标准块〔10〕的高度h。如果事先加工的标准块〔10〕的高度h正好等于设计给出的极间距离p，那么就把标准块〔10〕从基准平面E上取走，换上待装配的、焊有阴极面板的管壳〔12〕(图中用虚线表示出〕，并把装有阳极〔2〕的千分表装置插入管壳〔12〕中，使测量杆〔6〕触到阴极中心内表面B，并保持测量杆〔6〕在管壳〔12〕的中心轴线上，在焊点〔9〕处进行点焊，最后下旋压紧螺母〔13〕，使弹性爪〔15〕与阳极〔2〕脱开，再拔出千分表装置即可；如果标准块〔10〕的高度h与设计给出的p值有差异，只要松开锁紧螺钉〔8〕，适当推(或拉)测量杆〔6〕，调节测量杆〔6〕露出阳极孔长度，使h+Δh＝p’ (2)式(2)中的Δh为推(或拉)测量杆〔6〕时的调节长度，该值从千分表指针偏转格数读出，且推测量杆〔6〕时Δh＜0，拉测量杆〔6〕时Δh＞0。调好尺寸后，再进行像管装配。本技术是以二极式像管为例说明的，但该装架仪同样适用于多电极的像管(包括变像管、像增强器、条纹管以及带移像段的各种摄像管)的装配。由公式(2)可以看出，采用本技术装配像管时，其极间距离p不是根据电极零件尺寸间接测量的，而是在一个具有固定标准高度h的特制标准块〔10〕上，用一个具有较高精度(0.01～0.001mm)的千分表装置来调节测量杆〔6〕露出阳极孔的长度，进行直接测量的。因此，采用本技术装架像管，既不存在零件公差累积问题，也不存在测量误差的累积问题。其装配精度不受零件精度限制，仅受到装架仪所选用的千分表本身精度的限制。如果装架仪选用精度为0.001mm的千分表，那么采用本技术装配像管的装配精度要比传统装配方法提高两个数量级；通常选用精度为0.01mm的千分表即可满足装配精度要求，这时可提高精度一个数量级。本技术从根本上屏弃掉用传统装配方法带来的、不可避免的累积测量误差和累积零件公差等随机因素所造成的像管分辨率时好时坏的弊病。采用本技术进行像管装配，每次装配重复性好，可获得长期稳定的良好分辨率；采用该装架仪装配像管，不需要对电极尺寸进行烦琐的测量，因而可大大提高工效；用这种装配仪器进行像管装配，可装出具有高精度的极间距离p，这就抓住了像管装配的关键，而对电极尺寸(如图1中的dc、la)加工精度可以适当放宽，从而降低成本，对大量生产更有意义。根据上述设计思想，本技术的最佳实施例如图3所示从结构上可以看出，它是通过立柱〔21〕和传动联接机构把千分表装置、标准块〔10〕和底座〔11〕联成一体，构成一台完整装架仪器的。在底座〔11〕上，加工两个不同深度的同心圆槽〔22〕和〔23〕，用来分别放置标准块〔10〕和对中器〔16〕，圆心在千分表装置轴线上，两圆槽底表面与该轴线垂直，确保千分表装置、标准块〔10〕。对中器〔16〕和同心圆槽的同心在一条轴线上。其中圆槽〔22〕的槽底表面为本仪器的工作基准面E，应精密加工，平整光滑与标准块〔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用来测量、装配真空光电成像器件及电子束成像器件的装架仪。包括千分表［３］和底座［１１］，其特征在于，把带有中心孔的标准块［１０］放在底座［１１］的上表面——基准平面Ｅ上，标准块［１０］中心孔轴线与千分表测量头［５］同轴，且与基准面Ｅ垂直；把千分表壳体［４］及测量头［５］延长，分别与套筒［７］和测量杆［６］固接，并使套筒［７］和测量杆［６］滑动配合，且与千分表测量头［５］同轴。

【技术特征摘要】
1.一种用来测量、装配真空光电成像器件及电子束成像器件的装架仪。包括千分表〔3〕和底座〔11〕，其特征在于，把带有中心孔的标准块〔10〕放在底座〔11〕的上表面——基准平面E上，标准块〔10〕中心孔轴线与千分表测量头〔5〕同轴，且与基准面E垂直；把千分表壳体〔4〕及测量头〔5〕延长，分别与套筒〔7〕和测量杆〔6〕固接，并使套筒〔7〕和测量杆〔6〕滑动配合，且与千分表测量头〔5〕同轴。2.按权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：李集田，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：22[中国|吉林]