一种电容芯体测试盒及测试工作台制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电容芯体测试盒，其能用于电容芯体的测试，同时还提供了使用该测试盒的测试工作台。其用于容纳电容芯体工艺条，电容芯体工艺条包括金属条和焊接在金属条上的电容芯体，测试盒包括用于容纳金属条的容纳腔一和用于容纳电容芯体的容纳腔二，容纳腔二内设有电容接触点，电容接触点与探针接触点通过导体连接，当电容芯体置于容纳腔二的内部时，电容接触点的位置与电容芯体的位置相对应，探针接触点上方敞开。探针接触点上方敞开。探针接触点上方敞开。

【技术实现步骤摘要】
一种电容芯体测试盒及测试工作台


[0001]本技术涉及电容测试
，具体为一种电容芯体测试盒及测试工作台。

技术介绍

[0002]在片式电解电容的生产过程中，需要对电容器芯体进行参数测试，以控制产品在生产过程中的品质，并且要求测试设备要能对不同尺寸规格的电容芯体都能进行兼容测试，更换不同尺寸的被测电容芯体时尽可能减少设备准备时间。
[0003]现有片式电解电容有两类，一种是钽电容块状芯体，一种是叠铝电容所需的铝箔芯体，这些电容芯体没有封装的外壳保护，通常比较脆弱，直接将所有探针压在电容芯体表面可能会损伤电容芯体，所以现有技术进行测试时，都是针对有封装的电容即成品电容对其电极（引脚）直接进行加压接触进行测试，无法满足上述在电容生产过程中对电容芯体进行参数测试，以控制产品在生产过程中的品质的要求。

技术实现思路

[0004]针对传统都是对封装电容进行测试的问题，本技术提供了一种电容芯体测试盒，其能用于电容芯体的测试，同时还提供了使用该测试盒的测试工作台。
[0005]其技术方案是这样的：一种电容芯体测试盒，其用于容纳电容芯体工艺条，所述电容芯体工艺条包括金属条和焊接在所述金属条上的电容芯体，其特征在于：测试盒包括用于容纳所述金属条的容纳腔一和用于容纳所述电容芯体的容纳腔二，所述容纳腔二内设有电容接触点，所述电容接触点与探针接触点通过导体连接，当所述电容芯体置于所述容纳腔二的内部时，所述电容接触点的位置与所述电容芯体的位置相对应，所述探针接触点上方敞开。
[0006]其进一步特征在于：
[0007]所述容纳腔二底部设有电路板，所述电容接触点和所述探针接触点位于所述电路板上；
[0008]所述电路板上设有长方体导体，所述电容接触点位于所述长方体导体的一端，所述探针接触点位于所述长方体导体的另一端；
[0009]所述容纳腔二内还设有凸块，用于分隔所述电容芯体。
[0010]一种测试工作台，其包括输送轨道、上下驱动机构、探针卡，所述上下驱动机构位于所述输送轨道上方，所述探针卡与所述上下驱动机构连接，通过所述上下驱动机构控制所述探针卡上下运动，所述探针卡上安装有探针，其特征在于：所述输送轨道上安装有上述电容芯体测试盒。
[0011]其进一步特征在于：
[0012]所述探针卡上对应每个电容芯体至少设有探针一、探针二、探针三和探针四，所述探针一和所述探针二与测试盒内的金属条位置相对应，所述探针三与所述电容芯体位置相对应，所述探针四与所述测试盒内的探针接触点位置相对应。
[0013]采用了这样的结构后，在测试时，电容芯体工艺条可以置入测试盒内，电容芯体工艺条的金属条位于容纳槽一内，电容芯体工艺条的电容芯体则位于容纳槽二内，电容芯体背面与电容接触点接触，当进行测试时，探针可以压覆在金属条和探针接触点上来对电容芯体进行测试，不需要将全部探针压覆在电容芯体上，有效减小了损伤电容芯体的可能性。
附图说明
[0014]图1为电容芯体工艺条和测试盒示意图；
[0015]图2为电容芯体工艺条置入测试盒后的示意图；
[0016]图3为探针板与测试盒位置关系示意图；
[0017]图4为探针压覆在测试盒时的示意图；
[0018]图5为测试工作台示意图。
具体实施方式
[0019]如图1、图2、图3、图4所示的一种电容芯体测试盒，其用于容纳电容芯体工艺条1，电容芯体工艺条1包括金属条1
‑
1和焊接在金属条1
‑
1上的电容芯体1
‑
2，测试盒2包括用于容纳金属条1
‑
1的容纳腔一2
‑
1和用于容纳电容芯体1
‑
2的容纳腔二2
‑
2，容纳腔一2
‑
1的形状与金属条1
‑
1的形状相对应，容纳腔二2
‑
2底部通过螺栓2
‑
3安装有电路板，电容接触点和探针接触点位于电路板上，电容接触点与位于测试盒上的探针接触点通过导体连接，具体的，电路板上设有长方体导体2
‑
4，电容接触点位于长方体导体2
‑
4的一端，探针接触点位于长方体导体2
‑
4的另一端，当电容芯体1
‑
2置于容纳腔二2
‑
2的内部时，电容接触点的位置与电容芯体1
‑
2的位置相对应，探针接触点上方敞开。另外，容纳腔二2
‑
2内还设有凸块2
‑
5，用于分隔电容芯体1
‑
2。
[0020]结合图5所示的一种测试工作台，其包括输送轨道3、上下驱动机构4、探针卡5，上下驱动机构4通过龙门架6安装于输送轨道3上方，探针卡5与上下驱动机构4连接，通过上下驱动机构4控制探针卡5上下运动，探针卡5外接至测试装置上，探针卡5上安装有探针，输送轨道3上安装有上述电容芯体测试盒2。其具体结构可以为，输送轨道3可以使用电动导轨，测试盒2通过滑块安装在电动导轨时，从而可以使输送轨道3带动测试盒2进行直线运动，上下驱动机构4也可以采用电动导轨，其位于输送轨道3上方，探针卡5通过滑块安装在电动导轨上，并通过电动导轨控制探针卡5上下运动从而可以使其下压在测试盒2上。
[0021]具体的，结合图4，探针卡5上对应每个电容芯体1
‑
2至少设有探针一5
‑
1、探针二5
‑
2、探针三5
‑
3和探针四5
‑
4，探针一5
‑
1和探针二5
‑
2与测试盒2内的金属条1
‑
1位置相对应，探针三5
‑
3与电容芯体1
‑
2位置相对应，探针四5
‑
4与测试盒2内的探针接触点（即长方体导体2
‑
4上方敞开的一端）位置相对应。
[0022]在使用时，可以预先安装生产工序将电容芯体通过一端电极引线焊接在一个金属条上，一个金属条上通常焊有多个电容芯体，形成了一个一字排列的阵列，通常被称为电容芯体工艺条，金属条一侧为正极，电容芯体表面为负极。在对其进行测试时，将电容芯体工艺条1置入测试盒2内，金属条1
‑
1置入容纳腔一2
‑
1内，将电容芯体1
‑
2置于容纳腔二2
‑
2内并且位于凸块2
‑
5之间同时位于长方体导体2
‑
4的一端即位于电容接触点上，从而完成电容芯体的放置，之后再将测试盒2置于输送轨道3上，可以根据需要通过装夹装置固定在输送
轨道3上，输送轨道3带动测试盒2移动直到到达探针卡5的下方，上下驱动机构4控制探针卡5向下运动使探针下压，在进行4参数测试时，需要使用4根探针分别为探针一5
‑
1、探针二5
‑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容芯体测试盒，其用于容纳电容芯体工艺条，所述电容芯体工艺条包括金属条和焊接在所述金属条上的电容芯体，其特征在于：测试盒包括用于容纳所述金属条的容纳腔一和用于容纳所述电容芯体的容纳腔二，所述容纳腔二内设有电容接触点，所述电容接触点与探针接触点通过导体连接，当所述电容芯体置于所述容纳腔二的内部时，所述电容接触点的位置与所述电容芯体的位置相对应，所述探针接触点上方敞开。2.根据权利要求1所述的一种电容芯体测试盒，其特征在于：所述容纳腔二底部设有电路板，所述电容接触点和所述探针接触点位于所述电路板上。3.根据权利要求2所述的一种电容芯体测试盒，其特征在于：所述电路板上设有长方体导体，所述电容接触点位于所述长方体导体的一端，所述探针接触点位于所述长方体导体的另一端。...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊焰明，杨晔，
申请(专利权)人：江苏伊施德创新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：