本申请涉及一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，其中该方法包括：获取固态硬盘链路速率的测试请求；根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。本发明专利技术可以快速高效地判断SSD是否存在链路掉速的异常。常。常。
【技术实现步骤摘要】
快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置及计算机设备
[0001]本专利技术涉及固态硬盘测试
，特别是涉及一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
[0002]在固态硬盘出厂前，SSD厂商都会对SSD进行大量的内部测试，以检验其产品质量是否满足客户和设计需求。其中，SSD的性能通常是其最核心的指标之一，也是消费者最为关注的指标之一。为了让SSD发挥出最高的性能，最关键的一个前提就是必须保证SSD在上电初始化阶段，与主机协商在其支持的最高链路速度上，否则，若SSD与主机协商过程中出现链路掉速，则SSD不但无法发挥出最高的性能，而且很有可能因链路掉速而与主机协商失败，导致主机不认盘，即出现所谓“丢盘”的问题。
[0003]目前，在测试SSD链路速率是否出现掉速的方法中，通常采用的方法是对整机进行循环上下电测试，当主机将进入操作系统后，利用第三方的测试软件，如CrystalDiskInfo或HWINFO64等软件来观察SSD的链路速率是否正确。虽然这种测试方法简单，但是效率较低，无法快速测试SSD是否出现掉速的异常，这是因为这种测试方法每一个循环的整个过程为：主机上电初始化
→
主机进入操作系统
→
启动第三方软件去获取SSD链路速率
→
主机下电，而这一个循环所需的时间至少要15秒以上，若测试轮数较多，则整体测试时间较长，这不利于提前发现SSD是否存在链路掉速的问题，从而不利于保证整个SSD产品开发周期。
专利技术内容
[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0005]一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，所述方法包括：
[0006]获取固态硬盘链路速率的测试请求；
[0007]根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
[0008]对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
[0009]读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
[0010]将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
[0011]在其中一个实施例中，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
[0012]若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
[0013]在其中一个实施例中，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所
支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：
[0014]若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
[0015]在其中一个实施例中，所述对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态的步骤包括：
[0016]对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
[0017]对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
[0018]一种快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，所述装置包括：
[0019]获取模块，所述获取模块用于获取固态硬盘链路速率的测试请求；
[0020]第一读取模块，所述第一读取模块用于根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；
[0021]上下电模块，所述上下电模块用于对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；
[0022]第二读取模块，所述第二读取模块用于读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；
[0023]判断模块，所述判断模块用于将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。
[0024]在其中一个实施例中，所述判断模块还用于：
[0025]若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。
[0026]在其中一个实施例中，所述判断模块还用于：
[0027]若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。
[0028]在其中一个实施例中，所述上下电模块还用于：
[0029]对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；
[0030]对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。
[0031]一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
[0032]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
[0033]上述快速判断固态硬盘链路速率的测试方法、装置、计算机设备及存储介质通过获取固态硬盘链路速率的测试请求；根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。本专利技术可以快速高效地判断SSD是否存在链路掉速的异常，每个循环所需的时间可不超过2s，若SSD存在异常则可及时发现并解决，既保证了SSD产品开发周期，同时也保证了SSD产品的质量。
附图说明
[0034]图1为一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的流程示意图；
[0035]图2为另一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的流程示意图；
[0036]图3为再一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试方法的流程示意图；
[0037]图4为一个实施例中快速判断固态硬盘链路速率的测试装置的结构框图；
[0038]图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0039]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0040]目前，在测试SSD链路速率是否出现掉本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取固态硬盘链路速率的测试请求；根据所述固态硬盘链路速率的测试请求读取待测固态硬盘链路能力寄存器中所支持的链路速度值；对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态；读取固态硬盘链路状态寄存器中固态硬盘当前的链路速率值；将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常。2.根据权利要求1所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值一致，则继续循环执行上下电操作直至满足测试要求。3.根据权利要求2所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述将固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值进行比较，判断待测固态硬盘是否出现链路掉速异常的步骤还包括：若固态硬盘当前的链路速率值与链路能力寄存器中所支持的链路速度值不一致，则表明固态硬盘已经出现链路掉速异常。4.根据权利要求1
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3中任一项所述的快速判断固态硬盘链路速率的测试方法，其特征在于，所述对所述待测固态硬盘进行掉电操作并保持一定时间的掉电状态，对所述待测固态硬盘进行上电操作并保持一定时间的上电状态的步骤包括：对所述待测固态硬盘进行掉电操作，并保持一秒的掉电状态；对所述待测固态硬盘进行上电操作，并保持一秒的上电状态。5.一种快速判断固态硬盘链路速率的测试装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗发治，谢文明，谈敏，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：
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