一种CT探测器状态检测方法技术

本发明专利技术涉及医学影像技术领域，尤其涉及一种CT探测器状态检测方法，包括以下步骤：采集多组CT探测器的暗电流数据；根据CT探测器的电路结构，对暗电流数据进行校正；根据校正后的暗电流数据，对CT探测器安装后的每个模块单元及各个探测器通道进行统计计算和检验，辨别模块单元的状态及各个探测器通道的状态是否正常；优势在于：相对于现有技术采用探测器监测系统的各种检测指标来评判探测器的状态，本方法是通过统计方法，结合探测器的电路结构，利用暗电流数据的特点，计算采集的多组暗电流数据，辨别CT探测器安装后的状态是否正常，具有操作计算过程简单、高效，所得结论客观可靠的优点。优点。优点。

【技术实现步骤摘要】
一种CT探测器状态检测方法


[0001]本专利技术涉及医学影像
，尤其涉及一种CT探测器状态检测方法。

技术介绍

[0002]断层层析成像(CT)扫描仪采集的信号由CT探测器所采集。一般在CT扫描仪设备出厂前，生产厂家需要对CT探测器进行调试、校准，使CT探测器符合规定的要求。另外，CT探测器模块可能在加工、运输、安装等过程中，存在发生误操作误安装等意外，导致CT探测器模块性能受损、安装不合格或者出现漏光等情况。因此，在出厂前的调试过程中，需要对安装后CT探测器模块的状态进行评估，确保探测器模块在生产、安装过程中满足比如封装稳定性、没有出现漏光情况等预设的标准，从而实现重建图像质量的稳定。
[0003]另一方面，随着CT扫描仪使用次数的增多，长期使用过程中可能出现了一些误操作，使得CT探测器部分模块的性能及稳定性可能发生了变化，而在对CT扫描仪的后期维护中，针对这种可能出现的模块性能、稳定性的变化，可能需要对模块进行拆卸、调整、更换等操作，这同时也要求调整、更换后的模块及CT探测器整体也满足上述比如封装稳定性、没有出现漏光情况等预本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CT探测器状态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S100.采集多组CT探测器的暗电流数据；S200.根据CT探测器的电路结构，对暗电流数据进行校正；S300.根据校正后的暗电流数据，对CT探测器安装后的每个模块单元及各个探测器通道进行统计计算和检验，辨别模块单元的状态及各个探测器通道的状态是否正常。2.如权利要求1所述的一种CT探测器状态检测方法，其特征在于，所述步骤S100中暗电流数据的采集具体包括以下内容：暗电流数据I0(x，y，t)为无曝光下n
×
m探测器的数据采集，其中每组暗电流数据对应每个时刻t，一共T个时刻，x代表在探测器通道方向的第x个通道，n为探测器通道方向的通道总数，y代表在探测器排方向的第y排，m为探测器排方向的通道总数。3.如权利要求2所述的一种CT探测器状态检测方法，其特征在于，所述步骤S200中，对暗电流数据的校正包括以下步骤：S210.对所有暗电流数据，在时间T方向计算暗电流均值向量V0(x，y)，S220.使每个时刻t的暗电流数据I0(x，y，t)减去此暗电流均值向量V0(x，y)，得到暗电流校正后的数据I1(x，y，t)。4.如权利要求3所述的一种CT探测器状态检测方法，其特征在于，探测器通道的统计计算和检验包括以下步骤：S310.提取每个探测器通道在所有时刻的校正数据I1(x，y，t)信号，由这些信号可以获取探测器标号为(x，y)通道的暗电流数据的观察直方分布函数F
x，y
(I)，其中F
x，y
(I)＝hist(I1(x，y，t))，t＝1，...，T，式中的hist(I)代表使输入的数据I直方图分布；S320.探测器标号为(x，y)通道的统计检验公式为：h
x，y
(k)＝TEST(F
x，y
，P
ideal
，α)，其中，TEST为统计检验方式，α为对于每个探测器通道进行统计检验的显著性水平，P
ideal
表示常数变量，代表正常暗电流数据噪声的累积分布函数，h
...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘健宏，王斌，陈伟，
申请(专利权)人：明峰医疗系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：