辐射检测装置制造方法及图纸

本公开提供一种辐射检测装置包括检测面板。检测面板包括多个第一像素沿着数据线延伸方向排列为第一排、多个第二像素沿着数据线延伸方向排列为第二排以及另多个第二像素沿着数据线延伸方向排列为第三排。所述多个第一像素的每一个包括第一开关，并且所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个包括第二开关。所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个包括光电二极管。所述多个第一像素不包括光电二极管，即所述多个第二像素的每一个相较于所述多个第一像素还包括与所述第二开关电性连接的光电二极管。开关电性连接的光电二极管。开关电性连接的光电二极管。

【技术实现步骤摘要】
辐射检测装置


[0001]本公开涉及一种检测设备，尤其涉及一种辐射检测装置。

技术介绍

[0002]对于一般的辐射检测装置的去除基本背景值(offset)的处理上，通常会受到动态因素的影响，其中包括读出电路芯片的模拟至数字转换器的变异，或者是来自栅极端的电源噪声等，甚至读出电路芯片的模式切换也会影响操作温度，进而影响到检测值。换言之，由于如上述动态因素的影响，一般的辐射检测装置在取得基本背景值信息的过程中，所取得的基本背景值信息实际上已与检测的曝光信息之间存在差异。对此，一般的校正方式仅是通过遮蔽光电二极管(photodiode)的方式来避免曝光的影响，但是由于连接光电二极管的电路回路理论上会存在暗电流或其他缺陷的影响，因此一般的辐射检测装置无法提供适当的基本背景值信息。有鉴于此，以下将提出几个实施例的解决方案。

技术实现思路

[0003]本公开是针对一种辐射检测装置，可有效地取得背景噪声来用于校正辐射检测结果。
[0004]根据本公开的实施例，本公开的辐射检测装置包括检测面板。检测面板包括多个第一像素沿着数据线延伸方向本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐射检测装置，其特征在于，包括：检测面板，包括多个第一像素沿着一数据线延伸方向排列为第一排、多个第二像素沿着所述数据线延伸方向排列为第二排以及另多个第二像素沿着所述数据线延伸方向排列为第三排，其中所述多个第一像素的每一个包括第一开关，并且所述多个第二像素以及另所述多个第二像素的每一个包括第二开关，其中所述多个第二像素以及另所述多个第二像素的每一个包括光电二极管，并且所述多个第一像素不包括光电二极管。2.根据权利要求1所述的辐射检测装置，其特征在于，还包括：第一背景线，电性连接所述第一排的所述多个第一像素；第一数据线，电性连接所述第二排的所述多个第二像素；以及第二数据线，电性连接所述第三排的另所述多个第二像素且所述第二数据线邻近于所述第一数据线并远离所述第一背景线，其中所述第一背景线与所述第一数据线的最小间距与所述第一数据线与所述第二数据线的最小间距不同。3.根据权利要求2所述的辐射检测装置，其特征在于，所述第一数据线与所述第二数据线的所述最小间距与所述第一背景线与所述第一数据线的所述最小间距的比值大于6。4.根据权利要求2所述的辐射检测装置，其特征在于，还包括：第二背景线；以及第三背景线，其中所述第一背景线与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊福，郑顺成，
申请(专利权)人：睿生光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：