【技术实现步骤摘要】
一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法、设备及存储设备
[0001]本专利技术涉及磁场测量领域,尤其涉及一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法、设备及存储设备。
技术介绍
[0002]地面任意一点的磁场具有一定的强度和方向,为了描述地面各点地磁场,以测量点为原点,建立空间直角坐标系来描述。其中,地磁场由空间中任一点地磁总场F、水平分量H、北向分量X、东向分量Y、垂直分量Z、磁偏角D(地理子午平面与磁子午平面的夹角)、磁倾角I(水平面与总场F之间的夹角)这七个要素组成。地磁场测量在地球物理探索、航空、航海、航天、国防军事等多个方面有着重要应用,因此,获得高精度的地磁要素数据至关重要。
[0003]地磁矢量测量方法按照被测参数的不同,可以分为总场测量、分量测量、磁向测量三种。总场测量主要是利用Overhauser磁力仪、质子磁力仪、光泵磁力仪等标量仪器直接获取;地磁分量测量主要是通过磁通门磁力仪、超导量子干涉磁力仪等分量磁力仪来测量;对于磁向测量,目前使用广泛的是DI仪和线圈式磁力仪。DI仪可被用于对地磁倾角、偏角的绝对 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法,该dIdD磁力仪由正交球形线圈、总场传感器、测量平台和主机四部分组成,其中,正交球形线圈由测量磁倾角C
i
线圈和测量磁偏角C
d
线圈组成,C
d
和C
i
线圈相互正交;总场传感器用来测量由地磁场和偏置场叠加的合成场及无偏场,其特征在于:包括以下步骤:S1:仪器未工作时,进行初始状态测量,测量结果包括东西向不水平度ε1、南北向不水平度ε2和背景地磁场F0;S2:分别向C
i
线圈和C
d
线圈中施加偏置场,得到与背景地磁场F0的合成场F
i+
、F
i
‑
、F
d+
和F
d
‑
;S3:通过东西向不水平度ε1、南北向不水平度ε2和合成场F
d+
、F
d
‑
解算出仪器姿态的朝向角θ1和θ2;S4:通过东西向不水平度ε1、南北向不水平度ε2和朝向角θ1,分别解算出姿态漂移导致的磁倾角测量误差ε
I
和磁偏角测量误差ε
D
;S5:根据所述磁倾角测量误差ε
I
和磁偏角测量误差ε
D
,计算得到磁倾角和磁偏角的校正值,以此完成对dIdD磁力仪的校正。2.如权利要求1所述的一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法,其特征在于:步骤S1中,所述仪器东西向不水平度ε1和南北向不水平度ε2由电子水平仪测得。3.如权利要求1所述的一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法,其特征在于:步骤S1中,所述背景地磁场F0由总场传感器测得。4.如权利要求1所述的一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法,其特征在于:步骤S2中,所述偏置场由等大反向的高稳定电流在通入C
i
线圈或C
d
线圈后产生。5.如权利要求1所述的一种dIdD磁力仪平台机械漂移校正方法,其特征在于:...
【专利技术属性】
技术研发人员:葛健,朱晶,董浩斌,郑千玮,钱君立,王锐,
申请(专利权)人:中国地质大学武汉,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。