【技术实现步骤摘要】
一种碳化硅动静态测试一体机
[0001]本专利技术属于半导体测试设备
，具体涉及一种碳化硅动静态测试一体机。
技术介绍
[0002]半导体器件比如IGBT、碳化硅等是许多设备都会用到的器件，最常见的碳化硅半导体器件就是晶体管，碳化硅晶体管具阻断电压高、导通压降低、关断时间短以及耐高温等一些列优势，在电力电子器件的应用场合占据了非常大的优势。在碳化硅期间中，SiC BJT具有更加独特的优势，如与SiC MOSFET相近的关断时间，而且无需复杂的栅氧工艺。虽然SiC BJT具有独特优势，但作为流控型器件，在器件工作时，需要持续的基极电流供给，这就需要器件的各项功能均稳定发挥。
[0003]为了提升碳化硅器件的各项性能，科研工作者进行了多方面的研究，现有技术中已经开发了一些晶体管测试仪，比如CN203838298U公开的晶体管扫描测试系统以及CN113253087A公开的一种碳化硅动态测试设备，中国专利CN203838298U包括用于测试晶体管或者二极管的测试仪，还包括继电器组以及继电器控制单元，能够实现自动测试，提...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种碳化硅动静态测试一体机，包括测试设备主体（1）和进样装置，所述进样装置包括立架（2），其特征在于，所述立柱（2）顶部转动连接有活动柱（21），所述活动柱（21）上铺设有与碳化硅器件（11）接口端以及所述测试设备主体（1）接线端口连接的导线，所述导线与所述碳化硅器件（11）接口端连接的一端连接有导电金属柱（22），所述导电金属柱（22）固定在所述活动柱（21）底部；所述立柱（2）的侧方设有固定架（3），所述固定架（3）上安装有样品存储箱（4）、样品传送装置（5）、高度调节装置（6）、样品回收箱（7）和控制器；所述样品存储箱（4）和所述高度调节装置（6）均位于所述样品传送装置（5）上方，所述样品回收箱（7）位于所述样品传送装置（5）与所述立架（2）之间，并且位于所述样品传送装置（5）侧下方；所述样品传送装置（5）包括安装在所述固定架（3）上的传送组件和条形轮（52），所述条形轮（52）安装在所述传送组件上，位于所述样品存储箱（4）下方，并能将所述样品存储箱（4）的底面打开；所述高度调节装置（6）分别与所述活动柱（21）和所述样品存储箱（4）连接，用于将所述样品存储箱（4）内最底层所述碳化硅器件（11）与其它所述碳化硅器件（11）分隔开；所述控制器与所述样品传送装置（5）和所述高度调节装置（6）连接。2.根据权利要求1所述的一种碳化硅动静态测试一体机，其特征在于，所述样品存储箱（4）的底面包括两个活动板（41），两个所述活动板（41）分别转动安装在所述样品存储箱（4）相对的两侧壁底部，所述样品存储箱（4）的底部、位于两个所述活动板（41）下方处分别设有支撑块（411），两个所述活动板（41）之间留有距离；所述样品存储箱（4）内侧壁上设置有两个挡板（42），且一个所述挡板（42）与一个所述活动板（41）位置相对应。3.根据权利要求2所述的一种碳化硅动静态测试一体机，其特征在于，所述传送组件包括两个圆形的传送轮（51）和传送带（53），所述传送轮（51）安装在所述固定架（3）上，两个所述传送轮（51）之间传动连接有所述传送带（53），所述条形轮（52）位于两个所述传送轮（51）之间，且位于所述传送带（53）内部，任一所述传送轮（51）上设有控制其转动的第一动力装置，所述条形轮（52）上设有控制其转动的第二动力装置，所述样品回收箱（7）位于所述立架（2）与靠近所述立架（2）的所述传送轮（51）之间，并且位于该传送轮（51）侧下方；所述控制器分别与所述第一动力装置和所述第二动力装置连接。4.根据权利要求3所述的一种碳化硅动静态测试一体机，其特征在于，所述固定架（3）包括立板（32），所述样品存储箱（4）、所述传送轮（51）、所述条形轮（52）、所述高度调节装置（6）和所述控制器均安装在所述立板（32）上。5.根据权利要求3所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜浩晨，
申请(专利权)人：陕西开尔文测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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