本实用新型专利技术公开了一种半导体分立器件上料数量检测装置，包括主体、上料装置、运输装置和计数装置，所述上料装置设于主体的一侧，所述运输装置设于主体上，所述计数装置设于主体的另一侧。本实用新型专利技术属于半导体分立器件上料数量检测技术领域，具体是指一种半导体分立器件上料数量检测装置；在使用过程中，通过上料装置进行单个上料，运输装置进行运输，计数装置进行计数收集，有效解决了目前市场上半导体分立器件计数效率低下，现行生产力提升，造成了很多的人力浪费，大大的降低了生产效率的问题。题。题。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体分立器件上料数量检测装置
[0001]本技术属于半导体分立器件上料数量检测
，具体是指一种半导体分立器件上料数量检测装置。
技术介绍
[0002]目前现状是生产完半导体分立器件后，都是用人员数盘，一盘一盘的装半导体分立器件，或先数够一个批次的半导体分立器件生产量，生产完后再清点半导体分立器件数量与生产数是否一致，严重地浪费人力。有时，很多国外客户别为了保证数量的准确性，不惜使用人员进行专门的外观确认半导体分立器件数量，给现行生产力提升，造成了很多的人力浪费，大大的降低了生产效率。
技术实现思路
[0003]针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本技术提供一种半导体分立器件上料数量检测装置，通过上料装置进行单个上料，运输装置进行运输，计数装置进行计数收集，有效解决了目前市场上半导体分立器件计数效率低下，现行生产力提升，造成了很多的人力浪费，大大的降低了生产效率的问题。
[0004]本技术采取的技术方案如下：本技术一种半导体分立器件上料数量检测装置，包括主体、上料装置、运输装置和计数装置，所述上料装置设于主体的一侧，所述运输装置设于主体上，所述计数装置设于主体的另一侧；所述上料装置包括第一箱体、第一齿轮、第一电机、第一气泵、第一吸孔、第一滤网、第一限数件、第一上料管、上料装置运输装置和上料装置计数装置，所述第一箱体设于上料装置上，所述上料装置运输装置设于第一箱体内，所述上料装置计数装置书第一箱体内；所述第一电机设于上料装置运输装置的外壁上，所述第一齿轮设于第一电机的输出端，所述第一吸孔设于上料装置运输装置的壁上，所述第一滤网设于第一吸孔上，所述第一限数件设于上料装置运输装置内，所述第一上料管贯通设于上料装置运输装置上，所述第一气泵贯通设于上料装置计数装置的外壁上。
[0005]进一步地，所述运输装置包括第二箱体、第二电机、第一转动滚筒、第二转动滚筒、第一转动带、第一传送带和第一挡板，所述第二箱体设于运输装置上，所述第二电机设于第二箱体内，所述第一转动滚筒转动设于第二箱体的一端，所述第二转动滚筒转动设于第二箱体的另一端，所述第一转动带的一端绕接设于第二电机的输出端，所述第一转动带的另一端绕接设于第一转动滚筒的一端，所述第一传送带的一端套接设于第一转动滚筒上，所述第一传送带的另一端套接设于第二转动滚筒上，所述第一挡板设于第二箱体上。
[0006]进一步地，所述计数装置包括收集箱、数量显示器和环形红外线传感器，所述收集箱设于计数装置上，所述环形红外线传感器设于收集箱上，所述数量显示器设于收集箱上。
[0007]进一步地，所述环形红外线传感器电连接数量显示器。
[0008]采用上述结构本技术取得的有益效果如下：本方案一种半导体分立器件上料数量检测装置，上料装置通过第一气泵抽气，将物料吸在第一吸孔上，第一电机输出端转动
带动第一齿轮转动，第一齿轮带动物料进行旋转，经过第一限数件将多余的物料挤掉，保证齿与齿之间一个物料，经过第一上料管进行运输装置，运输装置通过第二电机输出端转动带动第一转动带转动，从而带动第一转动滚筒转动，继而带动第一传送带转动，随后带动第二转动滚筒转动，将物料单个依次运输至计数装置上，计数装置通过环形红外线传感器感应有物料经过电连接数量显示器，将数量显示在数量显示器上，大大提高了数量检测的精确度。
附图说明
[0009]图1为本技术一种半导体分立器件上料数量检测装置主视剖面图；
[0010]图2为本技术一种半导体分立器件上料数量检测装置俯视图；
[0011]图3为图1中A部分的局部放大图。
[0012]其中，1、主体，2、上料装置，3、运输装置，4、计数装置，5、第一箱体， 6、第一齿轮，7、第一电机，8、第一气泵，9、第一吸孔，10、第一滤网，11、第一限数件，12、第一上料管，13、第二箱体，14、第二电机，15、第一转动滚筒，16、第二转动滚筒，17、第一转动带，18、第一传送带，19、第一挡板， 20、收集箱，21、数量显示器，22、环形红外线传感器。
[0013]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。
具体实施方式
[0014]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0015]如图1
‑
3所示，本技术一种半导体分立器件上料数量检测装置，包括主体1、上料装置2、运输装置3和计数装置4，所述上料装置2设于主体1的一侧，所述运输装置3设于主体1上，所述计数装置4设于主体1的另一侧；所述上料装置2包括第一箱体5、第一齿轮6、第一电机7、第一气泵8、第一吸孔9、第一滤网10、第一限数件11、第一上料管12、上料装置2运输装置3和上料装置2计数装置4，所述第一箱体5设于上料装置2上，所述上料装置2运输装置3设于第一箱体5内，所述上料装置2计数装置4书第一箱体5内；所述第一电机7设于上料装置2运输装置3的外壁上，所述第一齿轮6设于第一电机7的输出端，所述第一吸孔9设于上料装置2运输装置3的壁上，所述第一滤网10设于第一吸孔9上，所述第一限数件11设于上料装置2运输装置3 内，所述第一上料管12贯通设于上料装置2运输装置3上，所述第一气泵8贯通设于上料装置2计数装置4的外壁上。
[0016]所述运输装置3包括第二箱体13、第二电机14、第一转动滚筒15、第二转动滚筒16、第一转动带17、第一传送带18和第一挡板19，所述第二箱体13设于运输装置3上，所述第二电机14设于第二箱体13内，所述第一转动滚筒15 转动设于第二箱体13的一端，所述第二转动滚筒16转动设于第二箱体13的另一端，所述第一转动带17的一端绕接设于第二电机14的输出端，所述第一转动带17的另一端绕接设于第一转动滚筒15的一端，所述第一传送带18的一端套接设于第一转动滚筒15上，所述第一传送带18的另一端套接设于第二转动滚筒16
上，所述第一挡板19设于第二箱体13上。
[0017]所述计数装置4包括收集箱20、数量显示器21和环形红外线传感器22，所述收集箱20设于计数装置4上，所述环形红外线传感器22设于收集箱20上，所述数量显示器21设于收集箱20上。
[0018]所述环形红外线传感器22电连接数量显示器21。
[0019]具体使用时，用户首先将物料放入在上料装置2运输装置3内，启动上料装置2，第一气泵8开始抽气，将物料吸在第一吸孔9上，第一电机7输出端转动带动第一齿轮6转动，第一齿轮6带动物料进行旋转，经过第一限数件11将多余的物料挤掉，保证齿与齿之间一个物料，经过第一上料管12进行运输装置 3，启动运输装本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件上料数量检测装置，其特征在于：包括主体、上料装置、运输装置和计数装置，所述上料装置设于主体的一侧，所述运输装置设于主体上，所述计数装置设于主体的另一侧；所述上料装置包括第一箱体、第一齿轮、第一电机、第一气泵、第一吸孔、第一滤网、第一限数件、第一上料管、上料装置运输装置和上料装置计数装置，所述第一箱体设于上料装置上，所述上料装置运输装置设于第一箱体内，所述上料装置计数装置书第一箱体内；所述第一电机设于上料装置运输装置的外壁上，所述第一齿轮设于第一电机的输出端，所述第一吸孔设于上料装置运输装置的壁上，所述第一滤网设于第一吸孔上，所述第一限数件设于上料装置运输装置内，所述第一上料管贯通设于上料装置运输装置上，所述第一气泵贯通设于上料装置计数装置的外壁上。2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件上料数量检测装置，其特征在于：所述运输装置包括第...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜浩晨，
申请(专利权)人：陕西开尔文测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。