一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法技术

一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法涉及光电编码器技术领域，解决了现有抗污渍方法对密封和使用环境要求严苛，一旦码盘被污染编码器将无法使用的缺点的问题，方法包括：第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。本发明专利技术无需对其码盘密封进行加固，大幅度的降低对使用环境的要求，提高了环境适应力，提高编码器的测量精度和可靠性。器的测量精度和可靠性。器的测量精度和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法


[0001]本专利技术涉及光电编码器
，具体涉及一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法。

技术介绍

[0002]光电编码器又称为光电角位置传感器，是一种集光、机、电一体的数字测角装置，是将旋转角位置、角位移及角速度等物理量转换成电信号的位移传感器。从测量的原理上分光电编码器可分为：图像式和莫尔条纹式；从编码方式上分可分为：绝对式、增量式和准绝对式。
[0003]准绝对式光电编码器是在增量式光电编码器的基础上，零位编码环增加多个参考点，继承了增量式光电编码器编码方式简单、工作稳定可靠和响应速度快等优点的同时，还具备寻找绝对位置效率高的优势，即只需旋转一个小角度就能找到绝对位置。在使用过程中，因环境和密封不牢等原因，准绝对式光电编码器的码盘容易被污染，造成输出角度数据跳码。目前主要的解决方法就是加固密封和保持使用环境的清洁度，但要做到光电编码器完全密封是不可能的，即使完全密封，也存在因使用等原因造成的密封泄露，而使用环境更不可控，使用时环境中的污渍极易污染码盘，导致编码器输出角度错误，出现跳码现象，导致准绝对式光电编码器无法使用。
[0004]对于其中的莫尔条纹准绝对式光电编码器，其抗污渍的方式也仅为上述的加固密封和保持使用环境的清洁度，至今并未在测量方法上提出改进，基于此，研发一种莫尔条纹准绝对式光电编码器的抗污渍的测量方法。

技术实现思路

[0005]鉴于上述问题，本专利技术提供一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，以解决现有抗污渍方法对密封和使用环境要求严苛，一旦码盘被污染编码器将无法使用的缺点。
[0006]本专利技术为解决技术问题所采用的技术方案如下：
[0007]一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，包括如下步骤：
[0008]第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；所述第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；
[0009]总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。
[0010]采用所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的准绝对式光电编码器，所述光电编码器包括码盘、第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头和总处理器，码盘包括用来确定绝对位置的参考编码环和用来获得莫尔条纹信号精码编码环，第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头对应码盘设置、且均连接总处理器。
[0011]本专利技术的有益效果是：
[0012]本专利技术一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法通过三个测量探头同时测量码盘信息，总处理器再利用至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值，采用三个测量探头的方式替代传统依靠编码器密封技术，在准绝对光电编码器工作时无需对其码盘密封进行加固，大幅度的降低对使用环境的要求，提高了环境适应力；通过对两个或三个测量探头的测量角度数据融合，还可以提高准绝对式光电编码器的测量精度，增强准绝对式光电编码器可靠性。
[0013]本专利技术的光电编码器在机构并不复杂的前提下，无需密封结构，制作工艺简单，角度测量精度高。
附图说明
[0014]图1为本专利技术的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的光电编码器的结构示意图。
[0015]图2为本专利技术的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的码盘结构示意图。
[0016]图3为本专利技术的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的确定绝对位置的流程图。
[0017]图4为本专利技术的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的相位差示意图。
[0018]图5为本专利技术的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法的流程图。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步详细说明。
[0020]一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，包括如下步骤：
[0021]步骤一、第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；所述第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；
[0022]步骤二、总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。
[0023]光电编码器包括码盘、三个测量探头和总处理器。码盘上设有参考编码环和精码编码环。测量探头对应码盘设置。各个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都独立能完成角度测量得到测量角度，都连接总处理器，都能够将测量到的测量角度发送至总处理器，基于的光电编码器为莫尔条纹式准绝对式光电编码器，具有三个测量探头，称为第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头，各个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都独立能完成角度测量。本实施方式中第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头为相同的结构。每个测量探头均由发光二极管、接收二极管和处理电路构成。发光二极管发出的光经过码盘和狭缝形成莫尔条纹，接收二极管将莫尔条纹转换成电信号，处理电路将该电信号转换成角度，处理电路包括整形放大器和微处理器(ARM、DSP和FPGA)等。莫尔条纹经过整形放大后进入微处理器，微处理器能够完成粗码计数、精码细分和精粗校正结合后得到测量角度，完成角度测量。总处理器连接每个测量探头的处理电路，各处理电路将得到的测量角度发送至总处理器，总处理器能够根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。三个测量探头的处理电路可集成在同一电路板上，也可以总处理
器和三个测量探头的处理电路集成在同一电路板上。
[0024]沿逆时针方向顺次设置第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头，第1测量探头和第2测量探头沿逆时针方向相隔角α，第3测量探头和第1测量探头沿逆时针方向相隔角β。设三个测量探头测量得到的角度分别为Angle1,Angle2,Angle3。融合后的角度值Angle为：
[0025][0026]γ1、γ2和γ3中至多有一个等于0
[0027][0028]本实施方式中三个测量探头均匀设置，也就是在码盘的上方相隔120
°
位置分别放置一个测量探头，如图1所示。若三个测量探头均未经过被污染的码盘区最终的角度Angle的计算如下式所示：
[0029][0030]式子的含义为Angle2,Angle3经过旋转旋转到Angle1附近，再取三个角度的平均值作为光电编码器的最终结果Angle。
[0031]如果有且只有一个测量探头经过码盘被污染区(即被污染的码盘区)，则其测量得到的测量角度就会出现错误，需要舍弃，用另外两个测量探头的测量角度取二者的平均值作为Angle。例如假设第2测量探头经过码盘污染区，则Angle2需要被舍弃。所以Angle为第1测量探头和第3测量探头的角度融合，如下式所示：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，包括如下步骤：第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；所述第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。2.如权利要求1所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头沿逆时针方向顺次设置，第1测量探头和第2测量探头沿逆时针方向相隔角α，第3测量探头和第1测量探头沿逆时针方向相隔角β；所述总处理器根据测量角度得到融合后的角度值的公式为：γ1、γ2和γ3中至多有一个等于0其中，Angle1为第1测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle2为第2测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle3为第3测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle为融合后的角度值。3.如权利要求2所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述第1测量探头和第2测量探头相隔120
°
，第1测量探头和第3测量探头相隔120
°
。4.如权利要求2所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述抗污渍测量方法的具体过程为：Step1、第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头均通过参考编码环寻找绝对位置；Step2、第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头分别采集精码信号，并计算三个测量探头的精码信号两两之间对应的相位差；Step3、计算Step2得到的相位差与相位差理论设定值进行比较，根据比较结果和公式(2)得到γ1、γ2和γ3的值；Step4、根据Step3得出的γ
n
的值，采用公式(1)计算融合后的角度值Angle，角度测量完成。5.如权利要求4所述的一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，所述Step3具体为：将Step2得到的每个相位差均与对应的相位差理论设定值进行比较，若比较结果为三个相位差均与对应的相位差理论设定值相等，则三组测量探头均未经过...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩庆阳，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：