一种基于环行光路结构的光纤器件微量色度色散测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种基于环行光路结构的光纤器件微量色度色散测量装置，主要针对色散系数小或长度短的光纤及器件的色散测量，属于光纤测量技术领域。装置包括宽谱光源、干涉仪、环路结构、探测模块和色散计算模块，其特征是：宽谱光源为干涉仪提供光源，环路结构接入干涉仪的测量臂，通过调整参考臂的光程，可以获得带有色散信息的干涉信号，最后利用色散计算模块提取干涉信号中的色散信息。其中，环路结构具有光环行功能，能使在其中环行的光信号累积多倍色散量，从而对色散量进行放大，特别适用于具有微量色散的光纤及器件。本发明专利技术可提高色散测量装置的测量精度，解决了现有技术难以高精度测量光纤及器件微量色散的问题。测量光纤及器件微量色散的问题。测量光纤及器件微量色散的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于环行光路结构的光纤器件微量色度色散测量装置


[0001]本专利技术属于光纤测量
，具体涉及到一种基于环行光路结构的光纤器件微量色度色散测量装置。

技术介绍

[0002]光纤通信以其传输容量大、抗干扰能力强的特点，已成为通信系统中的重要部分。随着社会的发展，各种信息量越来越大，这就要求更高速的通信系统，而在高速光纤通信系统中，色散的存在会造成码间串扰，因此需要对光纤通信系统进行色散补偿。进行色散补偿，须先知道光纤通信系统的色散值，因此，色散测量成为必不可少的环节。常用的色散测量方法有时延法、相移法和干涉法等。
[0003]对于时延法，基本原理是将不同波长的光脉冲分别注入到待测光纤及器件中，由于色散的存在，使得不同波长的光脉冲到达另一端的时间不同，通过测量不同波长光脉冲的到达时间差可以计算出色散值。例如美国专利(20040169848)，又比如文献“Comparison of single
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mode fiber dispersion measurement techniques”(Lightwave Tec本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于环行光路结构的光纤器件微量色度色散测量装置，其特征在于：宽谱光源(10)、干涉仪(20)、环路结构(30)、探测模块(60)和色散计算模块(80)组成本装置，其中：1)宽谱光源(10)与干涉仪(20)相连，环路结构(30)与干涉仪(20)相连，干涉仪(20)与探测模块(60)相连，探测模块(60)与色散计算模块(80)相连；2)在环路结构(30)中，光从第二耦合器第一输入端(311)注入到第二耦合器(31)，分成两路，一路从第二耦合器第一输出端(313)输出，另一路经第二耦合器第二输出端(314)、第二光纤连接器(322)、待测光纤及器件(32)、第一光纤连接器(321)和第二耦合器第二输入端(312)返回到第二耦合器(31)，又再次分光并重复前述路径，如此反复地循环；3)在色散计算模块(80)中，数据采集卡(81)采集来自探测模块(60)的干涉信号，再经干涉峰截取单元(82)截取得到第四干涉峰(884)和第五干涉峰(885)，第五干涉峰(885)进入到第一色散系数提取单元(83)进行色散系数的提取，第四干涉峰(884)进入到第二色散系数提取单元(84)进行色散系数的提取，最后将由第一色散系数提取单元(83)、第二色散系数提取单元(84)得到的两个色散系数输入到色散差分单元(85)中进行差分运算，其结果再除以第五干涉峰(885)与第四干涉峰(884)的环行次数差即为待测光纤及器件(32)的色散系数。2.由权利要求1所述的干涉仪(20)，其特征是：光从第一耦合器第一输入端(211)注入到第一耦合器(21)，分成两路，一路经第一耦合器第二输出端(214)、环路结构(30)和第三耦合器第二输入端(262)进入到第三耦合器(26)，其中，在环路结构(30)环行m次输出第m波包(251)，环行m+1次输出第m+1波包(252)，环行m+2次输出第m+2波包(253)；另一路经第一耦合器第一输出端(213)、参考光纤(22)、光程相关器(23)和第三耦合器第一输入端(261)进入到第三耦合器(26)。3.由权利要求1所述的干涉仪(20)，其特征是：第一耦合器第二输出端(214)的长度为L
214
、折射率为n，第三耦合器第二输入端(262)的长度为L
26...

【专利技术属性】
技术研发人员：喻张俊，薛志锋，汪燚，杨军，徐鹏柏，温坤华，王云才，秦玉文，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：