一种电机驱动测试电路装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电机驱动测试电路装置，其可提高集成化程度，测试操作方便快捷，可提高测试效率，用于对电机驱动电路进行测试，电机驱动电路与电机电连接，该装置包括第一电路板，测试电路分布于第一电路板，测试电路包括主控制器、电压采样电路、电流采样电路、电源模块、开关控制模块，电机驱动电路、电压采样电路的输出端、电流采样电路的输出端、开关控制模块均与主控制器连接，电压采样电路的输入端、电流采样电路的输入端分别与电机驱动电路连接，电压采样电路、电流采样电路分别用于采集电机驱动电路的电压信息、电流信息，开关控制模块用于对电机进行控制。控制模块用于对电机进行控制。控制模块用于对电机进行控制。

【技术实现步骤摘要】
一种电机驱动测试电路装置


[0001]本技术涉及电机
，具体为一种电机驱动测试电路装置。

技术介绍

[0002]电机是一种依据电磁感应原理实现电能转换或传递的电磁装置，其转动通常需要用硬件电路控制开关，硬件电路主要包括驱动芯片、与驱动芯片连接的外围电路等。硬件电路一般分布于电路板，在电机驱动电路板设计制造完成后，需对其电压进行测试，以判定其是否满足电机驱动能力要求。但是目前常用的电机驱动电路测试装置存在结构复杂，使用极其不方便等问题，现有的测试装置包括电流测试装置、电压测试装置，电流测试装置、电压测试装置分别为独立的设备，测试人员在测试时，需采用多根连接导线将电流测试装置、电压测试装置分别与电机驱动电路连接，这不仅增加了连接结构复杂度，而且测试操作极其不便，降低了测试效率。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中存在的测试装置结构复杂、测试操作不方便、测试效率低的问题，本技术提供了一种电机驱动测试电路装置，其可提高集成化程度，测试操作方便快捷，可提高测试效率。
[0004]为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种电机驱动测试电路装置，用于对电机驱动电路进行测试，所述电机驱动电路与电机电连接，其特征在于，其包括第一电路板，所述测试电路分布于所述第一电路板，所述测试电路包括主控制器、电压采样电路、电流采样电路、电源模块、开关控制模块，所述电机驱动电路、电压采样电路的输出端、电流采样电路的输出端、开关控制模块均与所述主控制器连接，所述电压采样电路的输入端、电流采样电路的输入端分别与所述电机驱动电路连接，所述电压采样电路、电流采样电路分别用于采集所述电机驱动电路的电压信息、电流信息，所述开关控制模块用于对所述电机进行控制。
[0006]其进一步特征在于，
[0007]所述电机驱动电路分布于第二电路板，所述第二电路板通过测试座安装于所述第一电路板，所述电机驱动电路通过所述测试座与所述测试电路电连接；
[0008]所述测试座为SCOKET测试座；
[0009]所述主控制包括MCU芯片，所述MCU芯片的型号为STM32F103RCT6；
[0010]所述电机驱动电路包括电机驱动芯片U6、逆变电路，所述电机驱动芯片U4的型号为FD6288，所述逆变电路包括晶体管Q1～晶体管Q6，分别与所述晶体管Q1～晶体管Q6连接的二极管D4～D9，所述电机驱动芯片U4的12、15、18管脚通过连接器H5与所述电机连接；
[0011]所述电机驱动电路通过连接器K1与所述MCU芯片连接，所述连接器K1包括电阻R18～R26；
[0012]所述电流采样电路包括比较器U9A、U9B、U10A、U10B，所述比较器U9B、U10A、U10B的
输出端分别通过电阻、电容连接所述MCU芯片的8、9、10管脚，所述比较器U9B、U10A、U10B的正向输入端分别通过电阻、电容连接所述逆变电路、参考电压I_VREF，所述比较器U9B、U10A、U10B的反向输入端分别接地；
[0013]所述电压采样电路包括比较器U7A、U7B、U8A、U8B，所述比较器U7A、U7B、U8A的输出端分别连接所述MCU芯片的26、27、28管脚，正向输入端连接三相电压采样电路的输出端，反向输入端连接所述三相电压采样电路的中部，所述三相电压采样电路的输出端连接所述电机驱动芯片U6的18、15、12管脚、所述逆变电路；
[0014]所述三相电压采样单元包括电阻R55～R63、电容C45、C46、C47；
[0015]所述开关控制模块通过连接器H6与所述MCU芯片的11管脚连接，所述开关控制模块包括按键S1～S4，所述按键S1～S4分别用于控制电机运行、停止、正转、反转；
[0016]其还包括信号测试点TP1～TP18，所述信号测试点TP1～TP18的一端分别连接所述电机驱动芯片U6的1、4、2、5、3、6、19、18、16、15、13、11、10、9管脚，所述信号测试点TP1～TP6的另一端分别通过电容C24～C29接地，所述信号测试点TP1～TP18连接示波器，通过所述示波器对所述电机驱动芯片U6的信号进行测试；
[0017]其还包括霍尔元件连接电路，所述霍尔元件连接电路包括电阻R46～R54、电容C42、C43、C44；
[0018]所述电源模块包括电源管理芯片U4和U5、降压稳压芯片U3，所述电源管理芯片U4和U5用于对输入电压VIN进行调整，分别用于获取+5V电压源、+15V电压源，所述降压稳压芯片U3用于降压，获取所述电压源VCC；
[0019]其还包括警示模块，所述警示模块包括LED灯、蜂鸣器，所述LED灯、蜂鸣器均与所述主控制器电连接。
[0020]采用本技术上述结构可以达到如下有益效果：本电机驱动测试电路装置将主控制器、电压采样电路、电流采样电路、电源模块、开关控制模块分布于同一电路板中，提高了电机驱动测试电路装置的集成化程度。电压采样电路、电流采样电路分别用于采集电机驱动电路的电压信息、电流信息，并将电压信息、电流信息与主控制器中预先设置的电流阈值、电压阈值进行对比，从而实现了电机驱动电路的电压、电流测试，开关控制模块用于对电机的运行状态进行控制，实现了不同运行状态下的电机驱动测试。电流采样电路、电压采样电路集成于同一电路板中，测试时，无需采用多根连接导线将电流测试装置、电压测试装置分别与电机驱动电路连接，测试人员只需通过开关控制模块对电机进行控制即可，因此，结构简单，测试操作方便，大大提高了测试效率。
附图说明
[0021]图1为本技术电机驱动测试电路装置的结构框图；
[0022]图2为本技术主控制器及其外围电路的电路原理图；
[0023]图3为本技术电机驱动电路的电路原理图；
[0024]图4为本技术测试点TP1～TP18的电路原理图；
[0025]图5为本技术电压采样电路的电路原理图；
[0026]图6为本技术电流采样电路的电路原理图；
[0027]图7为本技术三相电压采样电路的电路原理图；
[0028]图8为本技术开关控制模块的电路原理图；
[0029]图9为本技术霍尔元件的电路原理图；
[0030]图10为本技术电源模块的电路原理图。
具体实施方式
[0031]见图1，一种电机驱动测试电路装置，将该装置用于对电机驱动电路10进行测试，测试电路装置包括第一电路板，测试电路分布于第一电路板，测试电路包括主控制器1、电压采样电路2、电流采样电路3、电源模块4、开关控制模块5，电机驱动电路10、电压采样电路2的输出端、电流采样电路3的输出端、开关控制模块5均与主控制器1连接，主控制包括MCU芯片，MCU芯片的型号为STM32F103RCT6；电压采样电路2的输入端、电流采样电路3的输入端分别与电机驱动电路10连接。
[0032]电机驱动电路10分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电机驱动测试电路装置，用于对电机驱动电路进行测试，所述电机驱动电路与电机电连接，其特征在于，其包括第一电路板，所述测试电路分布于所述第一电路板，所述测试电路包括主控制器、电压采样电路、电流采样电路、电源模块、开关控制模块，所述电机驱动电路、电压采样电路的输出端、电流采样电路的输出端、开关控制模块均与所述主控制器连接，所述电压采样电路的输入端、电流采样电路的输入端分别与所述电机驱动电路连接，所述电压采样电路、电流采样电路分别用于采集所述电机驱动电路的电压信息、电流信息，所述开关控制模块用于对所述电机进行控制。2.根据权利要求1所述的一种电机驱动测试电路装置，其特征在于，所述电机驱动电路分布于第二电路板，所述第二电路板通过测试座安装于所述第一电路板，所述电机驱动电路通过所述测试座与所述测试电路电连接；所述测试座为SCOKET测试座。3.根据权利要求2所述的一种电机驱动测试电路装置，其特征在于，所述主控制器包括MCU芯片，所述MCU芯片的型号为STM32F103RCT6。4.根据权利要求3所述的一种电机驱动测试电路装置，其特征在于，所述电机驱动电路包括电机驱动芯片U6、逆变电路，所述电机驱动芯片U4的型号为FD6288，所述逆变电路包括晶体管Q1～晶体管Q6，分别与所述晶体管Q1～晶体管Q6连接的二极管D4～D9，所述电机驱动芯片U4的12、15、18管脚通过连接器H5与所述电机连接，电机驱动电路通过连接器K1与所述MCU芯片连接，所述连接器K1包括电阻R18～R26。5.根据权利要求4所述的一种电机驱动测试电路装置，其特征在于，所述电流采样电路包括比较器U9A、U9B、U10A、U10B，所述比较器U9B、U10A、U10B的输出端分别通过电阻、电容连接所述MCU芯片的8、9、10管脚，所述比较器U9B、U10A、U10B的正向输入端分别通过电阻、电容连接所述逆变电路、参...

【专利技术属性】
技术研发人员：高国强，刘阳阳，宁尚波，
申请(专利权)人：江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司，
类型：新型
国别省市：