一种LED数码管用测试适配器制造技术

本实用新型专利技术公开的LED数码管用测试适配器，涉及数码管测试装置领域，以解决现有测试方法效率低、准确率差的问题。其中：待测数码管插装在测试子板上，待测数码管的多个管脚与测试子板的子板排针连通；测试母板与测试系统连通，测试子板针插装在测试母板上，子板排针与测试母板的母板排针连通，待测数码管管脚通过子板排针与母板排针连通，多个控制开关外接电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个控制开关的开启和/或闭合，选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，进行测试。上述测试适配器及测试方法，有效提高了测试效率和测试精度，适用范围更广，具有很高的实用性。具有很高的实用性。具有很高的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种LED数码管用测试适配器


[0001]本技术涉及数码管测试装置领域，尤其涉及一种LED数码管用测试适配器。

技术介绍

[0002]随着电子科技技术的大力发展，半导体器件发挥着越来越大的作用，LED数码管随之在航天科技领域被广泛应用，大规模的量产要求在投入使用前必须对其筛检。图1为一位的LED数码管外形结构示意图，从图中可以看出，该LED数码管共有十个管脚，2、3、4、5、7、8、9、10为八段数码管的八个阴极端，1、6为共阳端，数码管的基本组成是发光二极管，对其电性能参数的测试时，传统的测试方法是，在测试二极管时晶体管图示仪C极连接表笔的正极，晶体管图示仪E连接表笔的负极，表笔的另两端连接待测器件。在测试过程中是待测试的LED数码管的公共端与表笔的一端手动触碰，另外一支表笔依次与数码管的八个管脚依次连接加电连接测试，测试过程中每测一个管脚测试人员需要观察图示仪上曲线是否在合格范围之内，同时观察数码管的亮度是否正常。此方法效率低、精度差，无法记录并存储数据。
[0003]并且，由于分立器件中的LED数码管因其位数多、管脚多一直未实现自本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED数码管用测试适配器，其特征在于，包括：待测数码管、测试子板和测试母板；所述待测数码管插装在所述测试子板上，所述待测数码管的多个管脚与所述测试子板的子板排针连通；所述测试母板与测试系统连通，所述测试子板针插装在所述测试母板上，所述子板排针与所述测试母板的母板排针连通，所述待测数码管管脚通过所述子板排针与所述母板排针连通，多个控制开关与测试系统电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个所述控制开关的开启和/或闭合，选择与所述测试系统连通的所述待测数码管的管脚，进行测试。2.根据权利要求1所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述测试子板包括第一接线板、第一排针、第二排针和两组接线柱；所述第一排针、所述第二排针以及两组所述接线柱均设置在所述第一接线板上，所述待测数码管的多个管脚与两组所述接线柱连通，两组所述接线柱通过导线分别与所述第一排针和所述第二排针的接线端连接，所述待测数码管的共阳极分别与所述第一排针的测试起始接线端与所述第二排针的测试末位接线端连通。3.根据权利要求2所述的LED数码管用测试适配器，其特征在于，所述测试母板包括第二接线板、第三排针、第四排针以及多个控制开关；所述第三排针、所述第四排针以及多个控制开关均设置在所述第二接线板上，所述第三排针的测试起始接线端与所述第四排针的测试末位接线端连通后，与测试系统的E极连通，多个所述控制开关的一端通过连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：申志苹，任翔，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：