一种电路板老化测试装置制造方法及图纸

技术编号:31443120 阅读:21 留言:0更新日期:2021-12-15 16:13
本实用新型专利技术公开了一种电路板老化测试装置,涉及电路板老化技术领域。本实用新型专利技术包括待测电路板,还包括箱体,箱体的一侧转动连接有多个舱门,箱体的内部开设有多个检测舱,检测舱内部的两个端角均固定有驱动电机,两个驱动电机的输出端均固定有螺纹杆,且螺纹杆与箱体之间转动连接,螺纹杆的外侧螺纹连接有滑块,滑块的顶部固定有放置架。本实用新型专利技术通过驱动电机、螺纹杆和滑块之间的相互配合,使得装置可以在老化测试结束后,及时将电路板断电,并将测试好的电路板推出装置,提醒工作人员更换新的电路板,且通过第三推杆电机、转动条和舱门之间的相互配合,使得装置可以为电路板提供一个相对封闭的环境进行测试。板提供一个相对封闭的环境进行测试。板提供一个相对封闭的环境进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板老化测试装置


[0001]本技术属于电路板老化
,特别是涉及一种电路板老化测试装置。

技术介绍

[0002]电路板是众多电子产品中必不可少的部件,需要具有较高的稳定性,因此,要先对电路板进行老化,提高其稳定性,才能投入使用,然而现有的电路板老化测试装置不能在测试结束后,及时断开电源,将电路板推出装置,提醒工作人员更换新的电路板进行测试,降低了工作效率,造成了不必要的电力资源的浪费,而且在测试电路板的过程中,容易受到外界环境干扰,影响测试结果,工作人员也可能触碰到通电的电路板,造成触电受伤。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种电路板老化测试装置,以解决了现有的问题:现有的电路板老化测试装置不能在老化测试结束后,及时断开电源,将电路板推出装置,提醒工作人员更换新的电路板进行测试,降低了工作效率,造成了不必要的电力资源的浪费。
[0004]为解决上述技术问题,本技术是通过以下技术方案实现的:
[0005]本技术为一种电路板老化测试装置,包括待测电路板,还包括箱体,所述箱体的一侧转动连接有多个舱门,所述箱体的内部开设有多个检测舱;
[0006]所述检测舱内部的两个端角均固定有驱动电机,两个所述驱动电机的输出端均固定有螺纹杆,且所述螺纹杆与箱体之间转动连接,所述螺纹杆的外侧螺纹连接有滑块,所述滑块的顶部固定有放置架,且所述放置架与箱体之间为滑动连接;
[0007]所述待测电路板放置在放置架的顶部;
[0008]所述放置架顶部的两侧均固定有两个第一推杆电机,两个所述第一推杆电机的行程杆之间固定有卡块,且所述卡块与放置架之间为滑动连接;
[0009]所述放置架的一侧固定有两个第二推杆电机,两个所述第二推杆电机的行程杆之间固定有第一固定块,所述第一固定块的顶部固定有供电接头,且所述供电接头正对供电接口;
[0010]所述放置架的顶部还固定有时间继电器,且所述时间继电器与测试电路串联。
[0011]进一步地,所述箱体的内壁且位于舱门的一侧开设有安装槽,所述安装槽的一侧固定有第三推杆电机,所述第三推杆电机的行程杆固定有第二固定块,且所述第二固定块与箱体之间滑动连接,所述第二固定块的一侧转动连接有转动条,所述转动条的顶部转动连接有第三固定块,且所述第三固定块的一侧与舱门固定连接。
[0012]进一步地,所述放置架的顶部还固定有指示灯。
[0013]进一步地,所述放置架的两端均固定有T型滑轨,所述检测舱的两个均开设有与T型滑轨对应的滑槽,放置架通过T型滑轨与检测舱滑动连接。
[0014]进一步地,所述转动条与第三固定块之间通过光杆转动连接。
[0015]进一步地,所述放置架的顶部还固定有信号控制器,且所述信号控制器与时间继
电器、信号控制器与驱动电机、信号控制器与指示灯、信号控制器与第三推杆电机均电性连接。
[0016]本技术具有以下有益效果:
[0017]1、本技术通过驱动电机、螺纹杆和滑块之间的相互配合,使得装置可以在老化测试结束后,及时将电路板断电,并将测试好的电路板推出装置,提醒工作人员更换新的电路板,提高了工作效率,节约了电力资源。
[0018]2、本技术通过第三推杆电机、转动条和舱门之间的相互配合,使得装置可以为电路板提供一个相对封闭的环境进行测试,既保证了测试结果的准确性,又能避免工作人员接触到通电的电路板,防止触电受伤。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术的整体结构示意图;
[0021]图2为本技术内部结构示意图;
[0022]图3为本技术驱动电机、螺纹杆和放置架之间的结构示意图;
[0023]图4为本技术放置架的结构示意图;
[0024]图5为本技术A处的结构放大图;
[0025]图6为本技术B处的结构放大图;
[0026]图7为本技术第三推杆电机、转动条和舱门之间的结构示意图。
[0027]附图中,各标号所代表的部件列表如下:
[0028]1、箱体;2、舱门;3、检测舱;4、驱动电机;5、螺纹杆;6、滑块;7、放置架;8、待测电路板;9、第一推杆电机;10、卡块;11、第二推杆电机;12、第一固定块;13、供电接头;14、第三固定块;15、时间继电器;16、信号控制器;17、指示灯;18、安装槽;19、第三推杆电机;20、第二固定块;21、转动条。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本技术保护的范围。
[0030]请参阅图1

7所示,本技术为一种电路板老化测试装置,包括待测电路板8,还包括箱体1,箱体1的一侧转动连接有多个舱门2,箱体1的内部开设有多个检测舱3;
[0031]检测舱3内部的两个端角均固定有驱动电机4,两个驱动电机4的输出端均固定有螺纹杆5,且螺纹杆5与箱体1之间转动连接,螺纹杆5的外侧螺纹连接有滑块6,滑块6的顶部固定有放置架7,且放置架7与箱体1之间为滑动连接,放置架7的两端均固定有T型滑轨,检测舱3的两个均开设有与T型滑轨对应的滑槽,放置架7通过T型滑轨与检测舱3滑动连接,起
到限位作用;
[0032]待测电路板8放置在放置架7的顶部;
[0033]放置架7顶部的两侧均固定有两个第一推杆电机9,两个第一推杆电机9的行程杆之间固定有卡块10,且卡块10与放置架7之间为滑动连接;
[0034]放置架7的一侧固定有两个第二推杆电机11,两个第二推杆电机11的行程杆之间固定有第一固定块12,第一固定块12的顶部固定有供电接头13;
[0035]放置架7的顶部还固定有时间继电器15,且时间继电器15与测试电路串联。
[0036]箱体1的内壁且位于舱门2的一侧开设有安装槽18,安装槽18的一侧固定有第三推杆电机19,第三推杆电机19的行程杆固定有第二固定块20,且第二固定块20与箱体1之间滑动连接,第二固定块20的一侧转动连接有转动条21,转动条21的顶部转动连接有第三固定块14,转动条21与第三固定块14之间通过光杆转动连接,方便转动条21转动,且第三固定块14的一侧与舱门2固定连接。
[0037]放置架7的顶部还固定有指示灯17,可以提醒使用者,测试完成,放置架7的顶部还固定有信号控制器16,且信号控制器16与时间本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板老化测试装置,包括待测电路板(8),其特征在于:还包括箱体(1),所述箱体(1)的一侧转动连接有多个舱门(2),所述箱体(1)的内部开设有多个检测舱(3);所述检测舱(3)内部的两个端角均固定有驱动电机(4),两个所述驱动电机(4)的输出端均固定有螺纹杆(5),且所述螺纹杆(5)与箱体(1)之间转动连接,所述螺纹杆(5)的外侧螺纹连接有滑块(6),所述滑块(6)的顶部固定有放置架(7),且所述放置架(7)与箱体(1)之间为滑动连接;所述待测电路板(8)放置在放置架(7)的顶部;所述放置架(7)顶部的两侧均固定有两个第一推杆电机(9),两个所述第一推杆电机(9)的行程杆之间固定有卡块(10),且所述卡块(10)与放置架(7)之间为滑动连接;所述放置架(7)的一侧固定有两个第二推杆电机(11),两个所述第二推杆电机(11)的行程杆之间固定有第一固定块(12),所述第一固定块(12)的顶部固定有供电接头(13);所述放置架(7)的顶部还固定有时间继电器(15),且所述时间继电器(15)与测试电路串联。2.根据权利要求1所述的一种电路板老化测试装置,其特征在于:所述箱体(1)的内壁且位于舱门(2)的一侧开设有安装槽(18...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄志生
申请(专利权)人:杭州东松电源电器有限公司
类型:新型
国别省市:

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