高低温反偏老化测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面设有触摸屏，所述的触摸屏上方设有整机电源开关，所述的触摸屏下方设有老化电源，所述的高低温实验箱的控制端与实验箱操控台电性连接，所述的老化电源的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏的操控端分别与计算机电性连接。本实用新型专利技术具有测量准确性高、测量步骤简单和测试速度快等优点。测量步骤简单和测试速度快等优点。测量步骤简单和测试速度快等优点。

【技术实现步骤摘要】
高低温反偏老化测试系统


[0001]本技术涉及一种电子设备测试装置，更具体地说，涉及一种高低温反偏老化测试系统。

技术介绍

[0002]目前，现有用于测试电子元器件的高低温反偏老化测试系统，多是先测试完物理性能测试，再来测试电性，这样无法知道器件是在什么环境中损坏，无法精准的判断器件损坏条件，导致需要多此进行试验，耗时较长。

技术实现思路

[0003]本技术为了克服现有技术中存在的传统的电子元器件的高低温反偏老化测试系统测试时间较长的问题，现提供具有可同时检测电子元器件物理性能和电性能的一种高低温反偏老化测试系统。
[0004]本技术的一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体底部设有底座，所述的底座底部开有若干均布的缓冲槽，所述的缓冲槽内设有用于保护整机箱体的缓冲装置，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面设有触摸屏，所述的触摸屏上方设有整机电源开关，所述的触摸屏下方设有老化电源，所述的高低温实验箱的控制端与实验箱操控台电性连接，所述的老化电源的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏的操控端分别与计算机电性连接。
[0005]作为优选，所述的老化测试座包括电路板，所述的电路板上设有与待测器件相匹配的插座，所述的插座左侧设有电压采集模块，所述的插座右侧设有漏电流采集模块，所述的插座下方设有温度采集模块，所述的电压采集模块、漏电流采集模块和温度采集模块分别与计算机电性连接。
[0006]本技术的电压采集模块、漏电流采集模块和温度采集模块会将采集的数据实时传递给计算机，计算机会将待测器件的电特性参数进行分析，从而判断待测器件是否合格。本技术实现了器件的高低温在线测试，具有性能稳定，采集精度高，成本低，可靠性强等特点，能够保证准确测量器件模块在高低温环境下的电特性参数。
[0007]作为优选，所述的缓冲装置包括分别设置在缓冲槽顶部左右两侧的固定板，所述的固定板的下端装有弹簧销，所述的弹簧销下端设有缓冲板，所述的弹簧销上套有一号弹簧，所述的一号弹簧的上下端分别与弹簧销下端和缓冲板上端面相焊接。
[0008]作为优选，所述的缓冲板与固定板间设有长销杆，所述的长销杆的左右两端分别设有限位块，所述的限位块中心设有用于安装长销杆的销孔，所述的限位块底部与缓冲板上端面相焊接，所述的长销杆外围套有二号弹簧，所述的二号弹簧的左右两端分别焊接有压环，所述的压环的侧端焊接有推杆，所述的推杆另一端铰接有摇臂，所述的摇臂的另一端
与铰链块一端相铰接，所述的铰链块的另一端与固定板侧边相焊接。
[0009]由于整机箱体体积和质量都较大，整机箱体的底座与底面产生的作用力会挤压缓冲板，所述的缓冲板为弹性较好的橡胶板，在挤压过程中弹簧销会挤压一号弹簧，在一号弹簧形变过程中会吸收整机箱体带来的压力，在一号弹簧被压缩时，缓冲板会略微上升，在上升过程中摇臂会带动推杆和压环去挤压二号弹簧，通过一号弹簧和二号弹簧的形变实现本技术的多级缓冲功能，从而保护整机箱体和整机箱体底座，延长本技术的使用寿命。
[0010]本技术的老化测试座上的各个器件均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳的材料加工生产，老化测试座上的电路板采用三防处理使得被测器件在老化测试座上可以长时间在极端温下工作。
[0011]本技术的控制方法为：
[0012]1、先打开高低温实验箱的箱门，之后将待测器件插接于老化测试座的插座中，然后关闭高低温实验箱的箱门，接着按下整机电源开关让整机箱体启动。
[0013]2、整机箱体启动之后，在触摸屏处输入所需的20V测试电压值，计算机会控制老化电源输出所需的试验电压。
[0014]3、老化测试座获得试验电压后，老化测试座上的电压采集模块会实时采集待测器件的电压数据，老化测试座上的漏电流采集模块会实时采集待测器件的电流数据，老化测试座上的温度采集模块会实时采集高低温实验箱内的温度数据，计算机会将采集的各项数据分别计算与分析，并将计算结果反馈到触摸屏上。
[0015]4、当触摸屏出现采集到数据后，在实验箱操控台处输入75—90℃，此时开始高温测试试验，实验箱操控台会启动高低温实验箱内的加热器，加热器会对高低温实验箱进行加热直到高低温实验箱内温度达到75—90℃。
[0016]5、当高低温实验箱内温度达到75—90℃后，加热器会间断式对高低温实验箱加热，使高低温实验箱内的温度维持在75—90℃，维持为1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于10V时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于1A时，待测器件为不合格。
[0017]6、高温测试试验结束后，在实验箱操控台处输入15
‑
30℃，此时开始一次常温测试试验，此时实验箱操控台会启动高低温实验箱内的冷却器，冷却器会对高低温实验箱进行冷却直到高低温实验箱内温度达到15
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30℃，之后关闭冷却器，此时待测器件处于正常工作温度中，让待测器件在该温度下工作1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于5V时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于0.5A时，待测器件为不合格。
[0018]7、一次常温测试试验结束后，在实验箱操控台处输入
‑
15
‑
0℃，此时开始低温测试试验，实验箱操控台会启动高低温实验箱内的冷却器，冷却器会对高低温实验箱进行冷却直到高低温实验箱内温度达到
‑
15
‑
0℃，当高低温实验箱内温度达到
‑
15
‑
0℃后，冷却器会间断式对高低温实验箱降温，让待测器件在该温度下工作1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于1V时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于0.2 A时，待测器件为不合格。
[0019]8、低温测试试验结束后，再次在实验箱操控台处输入15
‑
30℃，此时开始二次常温
测试试验，此时实验箱操控台会启动高低温实验箱内的冷却器，冷却器会对高低温实验箱进行冷却直到高低温实验箱内温度达到15
‑
30℃，之后关闭冷却器，此时待测器件处于正常工作温度中，让待测器件在该温度下工作1小时，该过程中，计算机会将采集到的数据进行分析和判断，当电压采集模块采集的电压数据大于5V时，待测器件为不合格，当漏电流采集模块采集的漏电流数据大于0.5A时，待测器件为不合格。
[0020]本技术具有以下有益效果：可在测试待测器件物理性能过程中，同时采集其电性能数据；测量准确性高，测量步骤简单，测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体（1），其特征是，所述的整机箱体（1）底部设有底座（13），所述的底座（13）底部开有若干均布的缓冲槽（14），所述的缓冲槽（14）内设有用于保护整机箱体（1）的缓冲装置，所述的整机箱体（1）上设有高低温实验箱（2），所述的老化测试座固定与高低温实验箱（2）内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱（2）右侧设有实验箱操控台（3），所述的实验箱操控台（3）右侧设有主控台（4），所述的主控台（4）内设有计算机，所述的主控台（4）正面设有触摸屏（5），所述的触摸屏（5）上方设有整机电源开关（6），所述的触摸屏（5）下方设有老化电源（7），所述的高低温实验箱（2）的控制端与实验箱操控台（3）电性连接，所述的老化电源（7）的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏（5）的操控端分别与计算机电性连接。2.根据权利要求1所述的一种高低温反偏老化测试系统，其特征是，所述的老化测试座包括电路板（8），所述的电路板（8）上设有与待测器件相匹配的插座（9），所述的插座（9）左侧设有电压采集模块（10），所述的插座（9）右侧设有漏电流采集模块（11），所述的插座（9）下方设有温度采集模...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘年富，
申请(专利权)人：杭州高裕电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：