高低温反偏老化测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面设有触摸屏，所述的触摸屏上方设有整机电源开关，所述的触摸屏下方设有老化电源，所述的高低温实验箱的控制端与实验箱操控台电性连接，所述的老化电源的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏的操控端分别与计算机电性连接。本实用新型专利技术具有测量准确性高、测量步骤简单和测试速度快等优点。测量步骤简单和测试速度快等优点。测量步骤简单和测试速度快等优点。

【技术实现步骤摘要】
高低温反偏老化测试系统


[0001]本技术涉及一种电子设备测试装置，更具体地说，涉及一种高低温反偏老化测试系统。

技术介绍

[0002]目前，现有用于测试电子元器件的高低温反偏老化测试系统，多是先测试完物理性能测试，再来测试电性，这样无法知道器件是在什么环境中损坏，无法精准的判断器件损坏条件，导致需要多此进行试验，耗时较长。

技术实现思路

[0003]本技术为了克服现有技术中存在的传统的电子元器件的高低温反偏老化测试系统测试时间较长的问题，现提供具有可同时检测电子元器件物理性能和电性能的一种高低温反偏老化测试系统。
[0004]本技术的一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体底部设有底座，所述的底座底部开有若干均布的缓冲槽，所述的缓冲槽内设有用于保护整机箱体的缓冲装置，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操控台右侧设有主控台，所述的主控台内设有计算机，所述的主控台正面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体（1），其特征是，所述的整机箱体（1）底部设有底座（13），所述的底座（13）底部开有若干均布的缓冲槽（14），所述的缓冲槽（14）内设有用于保护整机箱体（1）的缓冲装置，所述的整机箱体（1）上设有高低温实验箱（2），所述的老化测试座固定与高低温实验箱（2）内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱（2）右侧设有实验箱操控台（3），所述的实验箱操控台（3）右侧设有主控台（4），所述的主控台（4）内设有计算机，所述的主控台（4）正面设有触摸屏（5），所述的触摸屏（5）上方设有整机电源开关（6），所述的触摸屏（5）下方设有老化电源（7），所述的高低温实验箱（2）的控制端与实验箱操控台（3）电性连接，所述的老化电源（7）的控制端、老化测试座的数据传输端和触摸屏（5）的操控端分别与计算机电性连接。2.根据权利要求1所述的一种高低温反偏老化测试系统，其特征是，所述的老化测试座包括电路板（8），所述的电路板（8）上设有与待测器件相匹配的插座（9），所述的插座（9）左侧设有电压采集模块（10），所述的插座（9）右侧设有漏电流采集模块（11），所述的插座（9）下方设有温度采集模...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘年富，
申请(专利权)人：杭州高裕电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：