温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种高低温反偏老化测试系统，包括待测器件、老化测试座、整机箱体，所述的整机箱体上设有高低温实验箱，所述的老化测试座固定与高低温实验箱内，所述的待测器件插接于老化测试座上，所述的高低温实验箱右侧设有实验箱操控台，所述的实验箱操...
该专利属于杭州高裕电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州高裕电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。