多波束物位计制造技术

本公开提供一种多波束物位计，包括：微波射频装置，微波射频装置用于在多个频段分别生成微波信号；天线装置，天线装置至少将多个频段的微波信号以不同的波束角射出；信号处理装置，信号处理装置对多个频段的微波信号的回波信号进行采集及处理，以至少获取第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线；以及信号控制装置，信号控制装置对微波射频装置进行控制，微波射频装置基于信号控制装置的控制在多个频段分别生成微波信号。在多个频段分别生成微波信号。在多个频段分别生成微波信号。

【技术实现步骤摘要】
多波束物位计


[0001]本公开属于物位测量
，本公开尤其涉及一种多波束物位计。

技术介绍

[0002]现有技术中的雷达物位计均是基于单个波束的雷达物位计，在物位测量过程中，物料储藏装置难免存在由于物料储藏装置本身结构形成的对于微波信号的干扰物，需要去除干扰物回波信号，或者在测量过程中尽量减小干扰物回波信号的幅度。
[0003]由于波束角越小，产生的干扰物回波信号的幅度越小，因此，可以通过使得雷达物位计产生极小的波束角来降低干扰物回波信号。
[0004]然而，对于生成单个波束的雷达物位计，生成极小的波束角需要严格的雷达物位计结构设计及微波信号控制。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题中的至少一个，本公开提供一种基于多波束的物位测量方法及多波束物位计。
[0006]本公开的基于多波束的物位测量方法及多波束物位计通过以下技术方案实现。
[0007]根据本公开的一个方面，提供一种基于多波束的物位测量方法，包括：
[0008]在多个频段分别生成微波信号以生成多个波束，所述多个波束至少包括第一波束以及第二波束，所述第一波束具有第一波束角，所述第二波束具有第二波束角；
[0009]至少获取所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线；
[0010]至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别；以及，
[0011]至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号。
[0012]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述多个频段为多个扫频频段。
[0013]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述多个扫频频段中的各个扫频频段的扫频频率范围互不相同。
[0014]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述多个扫频频段中的各个扫频频段的扫频频率范围之间不重合。
[0015]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述多个扫频频段中的各个扫频频段的扫频频率范围之间具有一个或者两个以上的重合部分，各个扫频频段的扫频中心频率互不相同。
[0016]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，在不同时刻对所述多个波束的各个波束的回波信号进行测量以获得各个波束的回波信号曲线。
[0017]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述多个扫频频
段至少包括76Ghz
‑
77Ghz及79Ghz
‑
81Ghz。
[0018]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述多个扫频频段至少包括117Ghz
‑
127Ghz及119Ghz
‑
121Ghz。
[0019]根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，所述第一波束角与所述第二波束角不同。
[0020]根据本公开的又一个方面，提供一种能够执行上述任一项的基于多波束的物位测量方法的多波束物位计，包括：
[0021]微波射频装置，所述微波射频装置用于在多个频段分别生成微波信号；
[0022]天线装置，所述天线装置至少将所述多个频段的微波信号以不同的波束角射出；
[0023]信号处理装置，所述信号处理装置对所述多个频段的微波信号的回波信号进行采集及处理，以至少获取第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线；
[0024]所述信号处理装置还至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别；
[0025]所述信号处理装置还至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号；以及，
[0026]信号控制装置，所述信号控制装置对所述微波射频装置进行控制，所述微波射频装置基于所述信号控制装置的控制在多个频段分别生成微波信号。
[0027]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述信号控制装置控制所述微波射频装置在不同时刻生成不同频段的微波信号。
[0028]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述天线装置为偶极子天线、线路板走线天线或者微带天线。
[0029]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述微波射频装置具有两个以上的可调频频段。
[0030]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，还包括波导，所述波导对所述天线装置射出的微波信号，以及对回波信号进行引导。
[0031]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，还包括能量收集装置，所述能量收集装置设置在所述波导与所述天线装置之间。
[0032]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述波导的第二端设置有喇叭结构。
[0033]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，还包括屏蔽壳体，所述微波射频装置、所述天线装置、所述信号处理装置、信号控制装置以及所述能量收集装置均设置在所述屏蔽壳体之内，所述波导的一部分设置在所述屏蔽壳体之内，且所述波导从所述屏蔽壳体之内伸出。
[0034]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述屏蔽壳体之内设置吸波材料部。
[0035]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，还包括透波隔离部，所述透波隔离部临近所述喇叭结构设置。
[0036]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述透波隔离部正对位置设置有透镜装置。
[0037]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述透镜装置包括第一透镜和第二透镜，所述第一透镜以及所述第二透镜均正对所述透波隔离部设置，且所述第一透镜的尺寸小于所述第二透镜的尺寸。
[0038]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，还包括第一壳体，所述屏蔽壳体以及所述波导的伸出所述屏蔽壳体的一部分设置在所述第一壳体之内，所述波导伸出所述第一壳体，所述第一壳体与所述屏蔽壳体之间的空间以及所述第一壳体与所述波导之间的空间被灌封。
[0039]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述第一壳体至少包括周向壁以及底壁，所述第一壳体的底壁上形成有通孔，所述波导由所述通孔伸出。
[0040]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述第一壳体的底壁上设置有波导密封部以及波导固定部，所述波导密封部设置在所述第一壳体的底壁的内侧，所述波导固定部设置在所述第一壳体的底壁的外侧。
[0041]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，还包括密封罩，所述透波隔离部以及所述透镜装置均设置在所述密封罩之内。
[0042]根据本公开的至少一个实施方式的多波束物位计，所述密封罩的第一端部为弧形形状，所述密封罩的第二端部形成有外延本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多波束物位计，其特征在于，包括：微波射频装置，所述微波射频装置用于在多个频段分别生成微波信号；天线装置，所述天线装置至少将所述多个频段的微波信号以不同的波束角射出；信号处理装置，所述信号处理装置对所述多个频段的微波信号的回波信号进行采集及处理，以至少获取第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线；所述信号处理装置还至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别；所述信号处理装置还至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号；以及信号控制装置，所述信号控制装置对所述微波射频装置进行控制，所述微波射频装置基于所述信号控制装置的控制在多个频段分别生成微波信号。2.根据权利要求1所述的多波束物位计，其特征在于，所述信号控制装置控制所述微波射频装置在不同时刻生成不同频段的微波信号。3.根据权利要求1所述的多波束物位计，其特征在于，所述天线装置为偶极子天线、线路板走线天线或者微带天线。4.根据权利要求1所述的多波束物位计，其特征在于，所述微波射频装置具有两个以上的可调频频段。5.根据权利要求1所述的多波束物位计，其特征在于，还包括波导，所述波导对所述天线装置射出的微波信号，以及对回波信号进行引导。6.根据权利要求5所述的多波束物位计，其特征在于，还包括能量收集装置，所述能量收集装置设置在所述波导与所述天线装置之间。7.根据权利要求6所述的多波束物位计，其特征在于，所述波导的第二端设置有喇叭结构。8.根据权利要求7所述的多波束物位计，其特征在于，还包括屏蔽壳体，所述微波射频装置、所述天线装置、所述信号处理装置、信号控制装置以及所述能量收...

【专利技术属性】
技术研发人员：呼秀山，夏阳，
申请(专利权)人：北京锐达仪表有限公司，
类型：新型
国别省市：