【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及工业测量，尤其涉及一种具有能谱自修正功能的同位素仪表。
技术介绍
1、随着各类测量仪表的持续引入，工业领域更趋向于简捷化、自动化、智能化方向发展。但是，由于各个行业在工业领域中的测量工况、实际环境千差万别，譬如某些行业的工艺流程中会涉及高温、高压、高粉尘、高毒性、强腐蚀性或研磨性等复杂工况或环境，因而现有接触式测量仪表已然难以满足上述复杂工况或环境下用户的实际需求，并且存在测量精度低甚至是无法测量、使用寿命短等诸多问题。除此以外，现有非接触式测量仪表受环境影响难以实现精准测量。
技术实现思路
1、为解决上述
技术介绍
提到的至少一个技术问题，本专利技术实施例提供一种具有能谱自修正功能的同位素仪表，以实现非接触式测量，同时能够提高测量仪表的测量精度，延长测量仪表的使用寿命。
2、本专利技术实施例提供了一种具有能谱自修正功能的同位素仪表，所述同位素仪表包括至少一个放射探测装置；
3、所述放射探测装置，至少用于检测并根据至少一个能量的射线粒子形成至少一个脉冲信号，通过分析所述脉冲信号得到对应的所述射线粒子的能量信息，每个所述射线粒子的能量信息对应一个能量值，进而统计预设时间段内每个所述能量值上累计的所述射线粒子的数量，以得到能谱曲线；
4、其中，所述能谱曲线至少包括探测能谱曲线、环境监测能谱曲线和修正能谱曲线中的一种；所述射线粒子至少包括源射线粒子、环境射线粒子和探测射线粒子中的一种。
5、可选地，所述同位素仪表还包括放射源
6、可选地，当所述同位素仪表未放置所述放射源时，待测容器里的待测介质和/或所述同位素仪表所处环境辐射产生至少一个能量的所述环境射线粒子；
7、所述放射探测装置，具体用于检测并根据至少一个能量的所述环境射线粒子形成至少一个环境脉冲信号，通过分析所述环境脉冲信号得到对应的所述环境射线粒子的能量信息，每个所述环境射线粒子的能量信息对应一个所述环境射线粒子的能量值，进而统计所述预设时间段内每个所述能量值上累计的所述环境射线粒子的数量，以得到所述环境监测能谱曲线。
8、可选地，在所述同位素仪表内放置所述放射源后，所述放射源辐射产生至少一个能量的所述源射线粒子，并且所述待测介质和/或所述同位素仪表所处环境辐射产生至少一个能量的所述环境射线粒子，所述源射线粒子和所述环境射线粒子形成所述探测射线粒子；
9、所述放射探测装置，具体还用于检测并根据至少一个能量的所述探测射线粒子形成至少一个探测脉冲信号，通过分析所述探测脉冲信号得到对应的所述探测射线粒子的能量信息，每个所述探测射线粒子的能量信息对应一个所述探测射线粒子的能量值，进而统计所述预设时间段内每个所述能量值上累计的所述探测射线粒子的数量，得到所述探测能谱曲线。
10、可选地，所述放射探测装置利用所述环境监测能谱曲线对所述探测能谱曲线进行修正，以获得所述修正能谱曲线。
11、可选地，待测容器里的待测介质和/或所述同位素仪表所处环境辐射产生至少一个能量的所述环境射线粒子，所述源射线粒子和所述环境射线粒子形成所述探测射线粒子；所述同位素仪表还包括环境辅助监测装置；
12、所述环境辅助监测装置，与所述放射探测装置连接，并远离所述放射源设置，确保所述环境辅助监测装置无法接收所述放射源辐射产生的至少一个能量的所述源射线粒子；所述环境辅助监测装置用于检测并根据至少一个能量的所述环境射线粒子形成至少一个环境脉冲信号，通过分析所述环境脉冲信号得到对应的所述环境射线粒子的能量信息，每个所述环境射线粒子的能量信息对应一个所述环境射线粒子的能量值，进而统计所述预设时间段内每个所述能量值上累计的所述环境射线粒子的数量，以得到所述环境监测能谱曲线；
13、所述放射探测装置具体用于接收所述环境辅助监测装置传输的所述环境监测能谱曲线；以及，检测并根据至少一个能量的所述探测射线粒子形成至少一个探测脉冲信号，通过分析所述探测脉冲信号得到对应的所述探测射线粒子的能量信息，每个所述探测射线粒子的能量信息对应一个所述探测射线粒子的能量值，进而统计所述预设时间段内每个所述能量值上累计的所述探测射线粒子的数量，得到所述探测能谱曲线。
14、可选地，所述放射探测装置利用所述环境监测能谱曲线对所述探测能谱曲线进行修正，以获得所述修正能谱曲线。
15、可选地，所述放射源的核素已知，则所述源射线粒子的能量信息以及所述源射线粒子的能量值已知；
16、所述放射探测装置根据已知的所述源射线粒子的能量值设置所述修正能谱曲线上的目标起始能量值以及目标终止能量值，并统计所述修正能谱曲线在所述目标起始能量值至所述目标终止能量值的能谱范围内累计的所述射线粒子的总数量并确定精密测量值；
17、其中，所述精密测量值包括精密密度值、精密浓度值和/或精密物位值。
18、可选地，所述放射探测装置的内部设置有温度传感器，所述温度传感器用于对所述放射探测装置的内部温度值进行实时测量，以使所述放射探测装置根据所述内部温度值实时调整所述目标起始能量值与所述目标终止能量值，实现对所述精密测量值的校正；或者，
19、所述温度传感器用于对所述放射探测装置的内部温度值进行实时测量，以使所述放射探测装置根据所述内部温度值实时调整所述能谱曲线的预设起始能量值与预设终止能量值，实现对所述精密测量值的校正。
20、可选地，所述放射源的核素已知，则所述源射线粒子的能量信息以及所述源射线粒子的能量值已知；
21、所述放射探测装置根据已知的所述源射线粒子的能量值在所述探测能谱曲线以及所述环境监测能谱曲线上设置相同的目标起始能量值以及目标终止能量值，并统计所述探测能谱曲线在所述目标起始能量值至所述目标终止能量值的能谱范围内累计的射线粒子的总数量，以及统计所述环境监测能谱曲线在所述目标起始能量值至所述目标终止能量值的能谱范围内累计的射线粒子的总数量，以便根据相同能谱范围内统计的两者的射线粒子总数量之间的差值确定精密测量值；
22、其中，所述精密测量值包括精密密度值、精密浓度值和/或精密物位值。
23、可选地，所述放射探测装置的内部设置有温度传感器，所述温度传感器用于对所述放射探测装置的内部温度值进行实时测量，以使所述放射探测装置根据所述内部温度值实时调整所述目标起始能量值与所述目标终止能量值，实现对所述精密测量值的校正；或者，
24、所述温度传感器用于对所述放射探测装置的内部温度值进行实时测量，以使所述放射探测装置根据所述内部温度值实时调整所述能谱曲线的预设起始能量值与预设终止能量值，实现对所述精密测量值的校正。
25、可选地，所述放射探测装置和/或所述环境辅助监测装置的内部设置有温度传感器；
26、所述温度传感器用于对所述放射探测装置和/或所述环境辅助监测装置的内部温度值进行实时测量，以使得所述放射探测装置根据所述内部温度值实时本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种具有能谱自修正功能的同位素仪表，其特征在于，所述同位素仪表包括至少一个放射探测装置；
2.根据权利要求1所述的同位素仪表，其特征在于，所述同位素仪表还包括放射源，所述放射源用于辐射产生所述源射线粒子；
3.根据权利要求2所述的同位素仪表，其特征在于，待测容器里的待测介质和/或所述同位素仪表所处环境辐射产生至少一个能量的所述环境射线粒子，所述源射线粒子和所述环境射线粒子形成所述探测射线粒子；所述同位素仪表还包括环境辅助监测装置；
4.根据权利要求2或3所述的同位素仪表，其特征在于，所述放射源的核素已知，则所述源射线粒子的能量信息以及所述源射线粒子的能量值已知；
5.根据权利要求2或3所述的同位素仪表，其特征在于，所述放射源的核素已知，则所述源射线粒子的能量信息以及所述源射线粒子的能量值已知；
6.根据权利要求3所述的同位素仪表，其特征在于，所述放射探测装置和/或所述环境辅助监测装置的内部设置有温度传感器；
7.根据权利要求1所述的同位素仪表，其特征在于，所述同位素仪表安装在待测容器的外部，所述待测容器内
8.根据权利要求7所述的同位素仪表，其特征在于，当所述待测容器处于正常工作状态时，所述放射探测装置根据当前所述修正能谱曲线在目标起始能量值至目标终止能量值之间的各个能量值所对应的能量高度总和和/或各个能量值所对应的所述探测射线粒子的数量总和，获得所述待测介质的当前精密物位值；或者，
9.根据权利要求1或3所述的同位素仪表，其特征在于，所述放射探测装置或环境辅助监测装置包括探测闪烁体、探测光电转换器、探测信号调理电路和射线粒子信号处理模块；
10.根据权利要求2或3所述的同位素仪表，其特征在于，所述同位素仪表还包括人机交互模块和通讯模块；
...【技术特征摘要】
1.一种具有能谱自修正功能的同位素仪表，其特征在于，所述同位素仪表包括至少一个放射探测装置；
2.根据权利要求1所述的同位素仪表，其特征在于，所述同位素仪表还包括放射源，所述放射源用于辐射产生所述源射线粒子；
3.根据权利要求2所述的同位素仪表，其特征在于，待测容器里的待测介质和/或所述同位素仪表所处环境辐射产生至少一个能量的所述环境射线粒子，所述源射线粒子和所述环境射线粒子形成所述探测射线粒子；所述同位素仪表还包括环境辅助监测装置；
4.根据权利要求2或3所述的同位素仪表，其特征在于，所述放射源的核素已知，则所述源射线粒子的能量信息以及所述源射线粒子的能量值已知；
5.根据权利要求2或3所述的同位素仪表，其特征在于，所述放射源的核素已知，则所述源射线粒子的能量信息以及所述源射线粒子的能量值已知；
6.根据权利要求3所述的同位素仪表...
【专利技术属性】
技术研发人员：呼秀山，李圆圆，
申请(专利权)人：北京锐达仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：
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