【技术实现步骤摘要】
芯片上电复位电路
[0001]本专利技术涉及半导体电路技术,特别是涉及一种芯片上电复位电路。
技术介绍
[0002]在各种芯片的架构中,为了实时监测电源电压,需要上电复位电路通过对比电源电压,输出复位信号,确保芯片工作时的电源电压在芯片最低工作电压之上。
[0003]传统的上电复位电路架构如图1所示,由电阻分压电路、采样迟滞电路、放电电路、及输出驱动电路构成。电阻分压电路由第一电阻R1和第二电阻R2构成,通过改变第一R1与第二R2的比值,可以调节分压点电压V1与工作电源VDD电压的比值,从而改变输出驱动电路输出端RSTB的电压。第一电阻R1和第一电容C1构成采样迟滞电路,以确保分压点电压V1变化慢于工作电源VDD的电压变化,使得输出驱动电路输入端电压初始值为工作电源VDD的电压,输出驱动电路输出端RSTB输出一个复位信号。第三电阻R3和第一NMOS管M1构成放电电路,当第一电阻R1、第二电阻R2串接点(分压点)V1电压大于第一NMOS管M1的阈值电压时,输出驱动电路输入端电压被第一NMOS管M1放电到0V。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片上电复位电路,其特征在于,其包括第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第一NMOS管(M1)、第二NMOS管(M2)、第三PMOS管(M3)、第四PMOS管(M4)、第五NMOS管(M5)、第一电容(C1)及输出驱动电路;第一电阻(R1)、第二电阻(R2)串接在第一NMOS管(M1)漏端同工作电源VDD之间;第一NMOS管(M1)漏端、栅端及第二NMOS管(M2)栅端短接;第二NMOS管(M2)漏端接第三PMOS管(M3)漏端;第三PMOS管(M3)漏端、栅端及第四PMOS管(M4)栅端短接;第四PMOS管(M4)漏端接第五NMOS管(M5)漏端;第五NMOS管(M5)栅端接所述第一电阻(R1)、第二电阻(R2)的串接点及第一电容(C1)的一端;第一NMOS管(M1)、第二NMOS管(M2)及第五NMOS管(M5)的源端及第一电容(C1)的另一端接地;第三PMOS管(M3)及第四PMOS管(M4)的源端接工作电源VDD;所述输出驱动电路接第四PMOS管(M4)漏端,当第四...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈鹏,
申请(专利权)人:普冉半导体上海股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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