一种尺寸链图生成方法、装置及终端设备制造方法及图纸

技术编号:31318392 阅读:12 留言:0更新日期:2021-12-12 23:59
本发明专利技术适用于计算机技术领域,提供了一种尺寸链图生成方法、装置及终端设备,方法包括S1、获取基于目标结构的待测量闭环,以及待测量闭环包括的测量要素,目标结构包括N个零件,N个零件包括与待测量闭环相关联的K个零件;S2、提供N个零件的装配约束模式,以使用户进行勾选和设置,完成目标结构中至多N个零件的装配约束;装配约束模式包括多种,其中,使用任意的装配约束模式时,用户设置浮动值;S3、根据装配约束结果输出与待测量闭环相关联的K个零件,并结合测量要素输出尺寸链图。通过本发明专利技术能够克服产品中的装配约束,其自身的变动带来的尺寸浮动,提高最终输出的尺寸链图的实际应用效果。用效果。用效果。

【技术实现步骤摘要】
一种尺寸链图生成方法、装置及终端设备


[0001]本专利技术涉及计算机
,尤其涉及一种尺寸链图生成方法、装置及终端设备。

技术介绍

[0002]尺寸链自动生成技术作为计算机辅助公差设计(Computer Aided Tolerancing,CAT)的重要基础之一,一直是CAT的研究热点。尺寸链的自动生成就是在计算机表达尺寸公差、角度公差、形位公差以及装配误差信息的基础上,利用计算机自动建立封闭环和组成环之间的功能方程。
[0003]但是,现在所使用的装配尺寸链自动生成技术,并不考虑零件的装配误差,因此,其生成的装配尺寸链在零件的实际应用中难以产生效果。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提出一种尺寸链图生成方法、装置及终端设备,以解决现有技术中所使用的装配尺寸链自动生成技术,难以在产品自动装配的实际应用产生作用的问题。
[0005]为实现上述目的,本专利技术实施例第一方面提供一种尺寸链图生成方法,其特征在于,包括:S1、获取基于目标结构的待测量闭环,以及所述待测量闭环包括的测量要素,所述目标结构包括N个零件,所述N个零件包括与所述待测量闭环相关联的K个零件;其中, N为正整数,K为小于或者等于N的正整数;S2、提供所述N个零件的装配约束模式,以使用户进行勾选和设置,完成所述目标结构中至多N个零件的装配约束;所述装配约束模式包括固定约束、接触约束、距离约束、孔轴对中约束、孔轴浮动约束、孔轴径向约束、垂直约束、角度约束和平行约束,其中,使用任意的装配约束模式时,用户设置浮动值;S3、根据装配约束结果输出与所述待测量闭环相关联的K个零件,并结合所述测量要素输出尺寸链图。
[0006]结合本专利技术第一方面,本专利技术第一实施方式中,提供所述N个零件的装配约束模式,以使用户进行勾选和设置,完成所述目标结构中至多N个零件的装配约束,包括:根据所述装配约束模式对N个所述零件之间的装配关系进行参数设置,完成N个零件的装配约束。
[0007]结合本专利技术第一方面,本专利技术第二实施方式中,根据装配约束结果输出与所述待测量闭环相关联的K个零件,并结合所述测量要素输出尺寸链图,包括:S31、从所述待测量闭环的第1个所述测量要素开始,在第1个所述测量要素所属的零件上查找第1装配约束关联点,并在查找到第1装配约束关联点时连接第1个所述测量要素和所述第1装配约束关联点,构成第1零件中间环;同时,根据与第1个所述测量要素所属
的零件的装配约束,查找与其装配的另一零件,根据两个零件之间的装配约束形成第1装配约束环,以根据所述第1装配约束环锁定第2个所述零件,根据第1装配约束环在第2个所述零件上寻找第2装配约束关联点;S32、以所述第2装配约束关联点作为开始,重复S41,直至第k零件中间环与待测量闭环的测量要素重合时,依次设置每一个零件中间环和装配约束环与待测量闭环之间形成的角度偏差,输出一级尺寸链图,k=1,2,...,K;S33、以每一个零件中间环作为闭环,结合三维标注信息,输出二级尺寸链图。
[0008]结合本专利技术第一方面第二实施方式,本专利技术第三实施方式中,所述以每一个零件中间环作为闭环,结合三维标注信息,输出二级尺寸链图,包括:对于任一个零件中间环,遍历所有三维标注,并根据最短封闭路径原则生成二级尺寸链图;若尺寸标注路径无法封闭,则提示用户补充三维标注。
[0009]结合本专利技术第一方面第三实施方式,本专利技术第四实施方式中,以每一个零件中间环作为闭环,结合三维标注信息,输出二级尺寸链图之前,还包括:检查所述目标结构的三维标注信息是否完整,若不完整,则对K个零件进行三维标注。
[0010]结合本专利技术第一方面,本专利技术第五实施方式中,输出尺寸链图之后,还包括:根据各级尺寸链图生成方程组;按预设计算参数对所述方程组进行求解计算,并将结果显示在对应界面。
[0011]本专利技术实施例第二方面提供一种尺寸链图生成装置,包括:待测量闭环获取模块,用于获取基于目标结构的待测量闭环,以及所述待测量闭环包括的测量要素,所述目标结构包括N个零件,所述N个零件包括与所述待测量闭环相关联的K个零件;其中, N为正整数,K为小于或者等于N的正整数;装配约束模块,用于提供所述N个零件的装配约束模式,以使用户进行勾选和设置,完成所述目标结构中至多N个零件的装配约束;所述装配约束模式包括固定约束、接触约束、距离约束、孔轴对中约束、孔轴浮动约束、孔轴径向约束、垂直约束、角度约束和平行约束,其中,使用任意的装配约束模式时,用户设置浮动值;尺寸链图输出模块,用于根据装配约束结果输出与所述待测量闭环相关联的K个零件,并结合所述测量要素输出尺寸链图。
[0012]本专利技术实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序,上述处理器执行上述计算机程序时实现如上第一方面所提供的方法的步骤。
[0013]本专利技术实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,上述计算机可读存储介质存储有计算机程序,上述计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面所提供的方法的步骤。
[0014]本专利技术实施例提出一种尺寸链图生成方法,在对与待测量闭环相关联的K个零件进行装配约束时,提供可以设置浮动值的装配约束模式,从而模拟产品中的装配约束,其自
身的变动带来的尺寸浮动,进而提高最终输出的尺寸链图的实际应用效果。
附图说明
[0015]图1为本专利技术实施例提供的尺寸链图生成方法的实现流程示意图;图2为本专利技术实施例提供的目标结构的示意图;图3为基于图2使用本专利技术实施例提供的尺寸链图生成方法所生成的一级尺寸链图;图4为基于图2使用本专利技术实施例提供的尺寸链图生成方法所生成的二级尺寸链图;图5为本专利技术实施例提供的尺寸链图生成装置的组成结构示意图。
[0016]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0017]应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。
[0018]需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
[0019]在本文中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本专利技术的说明,其本身并没有特定的意义。因此,"模块"与"部件"可以混合地使用。
[0020]如图1所示,本专利技术实施例提供一种尺寸链图生成方法,包括但不限于如下步骤:S1、获取基于目标结构的待测量闭环,以及所述待测量闭环包括的测量要素,所述目标结构包括N个零件,所述N个零件中包括与所述待测量闭环相关联的K个零件。
[本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种尺寸链图生成方法,其特征在于,包括:S1、获取基于目标结构的待测量闭环,以及所述待测量闭环包括的测量要素,所述目标结构包括N个零件,所述N个零件包括与所述待测量闭环相关联的K个零件;其中, N为正整数,K为小于或者等于N的正整数;S2、提供所述N个零件的装配约束模式,以使用户进行勾选和设置,完成所述目标结构中至多N个零件的装配约束;所述装配约束模式包括固定约束、接触约束、距离约束、孔轴对中约束、孔轴浮动约束、孔轴径向约束、垂直约束、角度约束和平行约束,其中,使用任意的装配约束模式时,用户设置浮动值;S3、根据装配约束结果输出与所述待测量闭环相关联的K个零件,并结合所述测量要素输出尺寸链图。2.如权利要求1所述的尺寸链图生成方法,其特征在于,提供所述N个零件的装配约束模式,以使用户进行勾选和设置,完成所述目标结构中至多N个零件的装配约束,包括:根据所述装配约束模式对N个所述零件之间的装配关系进行参数设置,完成N个零件的装配约束。3.如权利要求1所述的尺寸链图生成方法,其特征在于,根据装配约束结果输出与所述待测量闭环相关联的K个零件,并结合所述测量要素输出尺寸链图,包括:S31、从所述待测量闭环的第1个所述测量要素开始,在第1个所述测量要素所属的零件上查找第1装配约束关联点,并在查找到第1装配约束关联点时连接第1个所述测量要素和所述第1装配约束关联点,构成第1零件中间环;同时,根据与第1个所述测量要素所属的零件的装配约束,查找与其装配的另一零件,根据两个零件之间的装配约束形成第1装配约束环,以根据所述第1装配约束环锁定第2个所述零件,根据第1装配约束环在第2个所述零件上寻找第2装配约束关联点;S32、以所述第2装配约束关联点作为开始,重复S41,直至第k零件中间环与待测量闭环的测量要素重合时,依次设置每一个零件中间环和装配约束环与待测量闭环之间形成的角度偏差,输出一级尺寸链图,k=1,2,...,K;S33、以每一个零件中间环作为闭环,结合三维标注信息,...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘尚成林伟常海涛杨玉玲
申请(专利权)人:重庆诚智鹏科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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