【技术实现步骤摘要】
一种用于硬盘芯片的检测方法及系统
[0001]本申请涉及硬盘芯片检测的
,尤其是涉及一种用于硬盘芯片的检测方法及系统。
技术介绍
[0002]硬盘是电脑主要的存储媒介之一,由一个或者多个铝制或者玻璃制的碟片组成,碟片外覆盖有铁磁性材料。主控芯片是硬盘的核心组成部分,主控芯片对硬盘来说,相当于CPU的命令中心,它承接了整个数据中转,是联系各个设备之间的桥梁,也是控制设备运行工作的大脑。
[0003]硬盘制造过程中,需要对硬盘芯片的各参数进行测试,而硬盘芯片的不同参数均会有对应的检测工位进行测试工作。一般测试步骤为操作人员通过不同的检测工位对硬盘芯片的不同参数进行测试,这一过程较为繁琐,检测效率较低。
技术实现思路
[0004]为了实现同步测试硬盘芯片的不同参数,提升硬盘芯片的检测效率,本申请提供一种用于硬盘芯片的检测方法及系统。
[0005]第一方面,本申请提供一种用于硬盘芯片的检测方法,采用如下的技术方案:一种用于硬盘芯片的检测方法,包括:接收通讯板连接信号;根据连接信号,获取预设通讯板 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于硬盘芯片的检测方法,其特征在于,包括:接收通讯板连接信号;根据连接信号,获取预设通讯板中预设的测试信息,所述测试信息包括硬盘芯片的读写传输速度测试指令、COPY速度测试指令;调用测试应用窗口,配置测试信息至测试应用窗口;接收硬盘连接信号;响应测试请求,根据测试信息对硬盘同步测试;生成测试结果并显示于测试应用窗口。2.根据权利要求1所述的一种用于硬盘芯片的检测方法,其特征在于,所述生成测试结果并显示于测试应用窗口后包括:获取预设检测参数;获取测试结果中的实际检测参数;判断实际检测参数是否异于预设检测参数;若判断结果为是,则生成异常提示信号,并反馈至测试应用窗口;若判断结果为否,则生成正常提示信号,并反馈至测试应用窗口。3.根据权利要求2所述的一种用于硬盘芯片的检测方法,其特征在于,所述生成异常提示信号后包括:根据异常提示信号,获取测试结果中异常的实际检测参数;计算异常的实际检测参数与对应预设检测参数的异常差值;获取预设误差值;判断异常差值是否超出预设误差值;若判断为是,则标记硬盘不合格信号;若判断为否,则生成调试指示;在判断为否的前提下,接收调试完成信号,重新对硬盘同步测试,并判断实际检测参数是否异于预设检测参数。4.根据权利要求3所述的一种用于硬盘芯片的检测方法,其特征在于,所述生成异常提示信号后包括:统计异常提示信号的生成次数;获取预设次数阈值;判断生成次数是否超出次数阈值;若判断为是,则标记硬盘不合格信号。5.根据权利要求2所述的一种用于硬盘芯片的检测方法,其特征在于,所述生成正常提示信号后包括:获取测试结果中正常的实际检测参数;根据正...
【专利技术属性】
技术研发人员:李荣涛,
申请(专利权)人:深圳市华宇福保半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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